一种基于BRAM分段同步查表的测试向量编解码方案

1

作者 易茂祥 张佳桐 +2 位作者 鲁迎春 梁华国 马利祥 《电子与信息学报》 北大核心 2025年第9期3374-3384,共11页

基于ATE的集成电路制造测试是芯片产业链的重要一环,而逻辑测试向量的编解码及应用效率,对芯片的测试成本有着重要影响。因此,结合现代FPGA内集成高速BRAM的特点,该文提出一种基于分量统计的测试向量编码方案,用于将被测芯片的全部测试... 基于ATE的集成电路制造测试是芯片产业链的重要一环,而逻辑测试向量的编解码及应用效率,对芯片的测试成本有着重要影响。因此,结合现代FPGA内集成高速BRAM的特点,该文提出一种基于分量统计的测试向量编码方案,用于将被测芯片的全部测试向量生成分量编码表文件。与此同时,设计了一种BRAM分段同步查表控制电路,采用并行单端口BRAM结构多段地址分配模块和写优先访问时序模式,实现测试向量各分量的同步查表和并行输出。该文采用Vivado与Xilinx K7 FPGA开发平台,对查表电路进行了设计和仿真。配置了宽度64bit和定制分段地址深度的BRAM,结合数据传输和存储地址产生控制逻辑,利用UART接口将分量编码表COE文件下载到目标BRAM中,并取得分量在BRAM中的地址,将其应用于BRAM分段同步查表电路。仿真结果充分验证了同步查表电路功能的正确性。将建议方案用于工程ATE测试板的设计,可以有效提高ATE逻辑测试指令的执行效率。 展开更多

关键词 逻辑测试 测试向量 分量统计编码 块RAM 分段同步查表

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BRAM存储器EDAC容错技术可靠性分析 被引量：3

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作者 伊小素 邓燕 +2 位作者 潘雄 江云天 张家铭 《航天控制》 CSCD 北大核心 2011年第5期67-71,共5页

SRAM型FPGA内部高密度BRAM存储模块作为用户存储资源,在空间运行中易受单粒子翻转效应影响,造成用户数据失效,EDAC技术被广泛采用作为其容错手段。对于商用型SRAM-FPGA,编码/解码模块可靠性对EDAC容错技术有效性具有很大影响,因此本文... SRAM型FPGA内部高密度BRAM存储模块作为用户存储资源,在空间运行中易受单粒子翻转效应影响,造成用户数据失效,EDAC技术被广泛采用作为其容错手段。对于商用型SRAM-FPGA,编码/解码模块可靠性对EDAC容错技术有效性具有很大影响,因此本文在考虑编码/解码模块可靠性影响情况下,对商用SRAM-FPGA内嵌BRAM存储器进行EDAC容错技术可靠性建模,并得到提高BRAM可靠性需满足的编码/解码模块的可靠性参数限制条件关系式,最后通过仿真验证其模型的合理性及限制条件关系式的正确性,为相关工程设计中SRAM型FPGA的BRAM存储器EDAC容错技术的可行性设计提供指导。 展开更多

关键词 SEU EDAC 可靠性模型 bram

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XILINX FPGA内部BRAM资源的应用研究 被引量：5

3

作者 袁晓军 张亮 《航空计算技术》 2018年第5期122-125,共4页

XILINX FPGA内部拥有丰富的存储资源BRAM,可以大大简化设计的复杂度,在电子硬件模块设计中得到了广泛应用。BRAM可以用来设计单口存储器、双口存储器和FIFO等,满足数据缓冲和交换等应用需求。简要介绍BRAM的主要接口和功能,结合多年经验... XILINX FPGA内部拥有丰富的存储资源BRAM,可以大大简化设计的复杂度,在电子硬件模块设计中得到了广泛应用。BRAM可以用来设计单口存储器、双口存储器和FIFO等,满足数据缓冲和交换等应用需求。简要介绍BRAM的主要接口和功能,结合多年经验,重点描述了使用BRAM过程中异步访问接口设计考虑和双口存储器访问竞争处理等方面应注意的问题,为正确使用BRAM提供参考。 展开更多

关键词 XILINX FPGA bram 地址建立/保持时间 双口竞争

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基于冷备份多模冗余结构的BRAM自修复方法 被引量：3

4

作者 张砦 刘燕 黄莉莉 《航空学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第7期539-550,共12页

随着现场可编程门阵列(FPGA)在空天电子系统中的广泛应用,受空间辐射恶劣环境影响,FPGA中重要的存储器电路BRAM,因采用SRAM技术极易发生位翻转故障,虽绝大部分情况表现为瞬时故障,但永久故障依然存在。针对BRAM自修复方法仅修复瞬时故... 随着现场可编程门阵列(FPGA)在空天电子系统中的广泛应用,受空间辐射恶劣环境影响,FPGA中重要的存储器电路BRAM,因采用SRAM技术极易发生位翻转故障,虽绝大部分情况表现为瞬时故障,但永久故障依然存在。针对BRAM自修复方法仅修复瞬时故障的现状,对能同时修复瞬时故障和永久故障的自修复方法进行研究,提出了一种冷备份多模冗余结构,用3个热备份模块和1个冷备份模块来构造BRAM,该结构可通过三模冗余刷新方法修复瞬时故障和冷备份替换方法修复永久故障。给出了整个BRAM自修复系统中各模块的电路结构和实现方法,实验验证了系统的自修复能力,并在可靠性、硬件资源和时间消耗3个方面,通过对比分析论证了自修复方法的有效性。 展开更多

关键词 bram 冷备份 自修复 三模冗余刷新 冷备份替换

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一种FPGA中BRAM36k的设计方法 被引量：1

5

作者 刘瑛 胡凯 +1 位作者 丛红艳 万清 《电子与封装》 2014年第5期18-22,共5页

BRAM以阵列的方式排布于FPGA内部,是FPGA实现各种存储功能的主要部分。FPGA通过BRAM以及可编程逻辑资源给用户提供各种不同的存储资源。介绍了FPGA其中可编程存储模块BRAM36k的具体功能以及实现方法。该模块支持多种地址和数据位宽纵横... BRAM以阵列的方式排布于FPGA内部,是FPGA实现各种存储功能的主要部分。FPGA通过BRAM以及可编程逻辑资源给用户提供各种不同的存储资源。介绍了FPGA其中可编程存储模块BRAM36k的具体功能以及实现方法。该模块支持多种地址和数据位宽纵横比组合、多种读接口和写接口数据带宽转换,支持奇偶校验bit写入和读出。最后对模块的功能进行了功能级仿真验证,仿真结果符合预期设计目标。 展开更多

关键词 bram36k FIFO 奇偶校验

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Flash型FPGA内嵌BRAM测试技术研究 被引量：2

6

作者 雷星辰 季伟伟 +1 位作者 陈龙 韩森 《电子与封装》 2023年第12期14-19,共6页

Flash型FPGA由于具有高可靠性、卓越的安全性和即插即用的功能,被广泛应用于军事及航空航天领域。Flash型FPGA的内部结构复杂而庞大,因此研究其测试技术的可靠性和准确性至关重要。块随机存储器(BRAM)作为FPGA内部重要的存储模块,在传... Flash型FPGA由于具有高可靠性、卓越的安全性和即插即用的功能,被广泛应用于军事及航空航天领域。Flash型FPGA的内部结构复杂而庞大,因此研究其测试技术的可靠性和准确性至关重要。块随机存储器(BRAM)作为FPGA内部重要的存储模块,在传统测试中存在故障覆盖率较低的问题。为了扩大故障覆盖范围,对March C+算法进行了改进,优化后算法对写干扰故障(WDF)、写破坏耦合故障(CFwd)、干扰耦合故障(CFds)和字内耦合故障的检测能力得到了显著提高。结果表明,优化后的算法相较于March C+算法,其故障覆盖率提高了25个百分点,且与时间复杂度相同的March SS算法相比,其故障覆盖率提高了5.8个百分点。 展开更多

关键词 Flash型FPGA March C+算法 bram

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28 nm体硅工艺FPGA BRAM脉冲激光试验及翻转特性

7

作者 薛国凤 周昌义 +2 位作者 安军社 吴昊 王天文 《空间科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第6期1147-1154,共8页

针对SRAM型FPGA内部BRAM在轨出现翻转错误以及如何有效进行容错设计的问题,提出了测试BRAM空间单粒子效应和多位翻转图样的方法.多位翻转图样可以表征单次单粒子事件导致的BRAM中相邻单元的翻转特征,进而用于分析逻辑字内是否存在多位翻... 针对SRAM型FPGA内部BRAM在轨出现翻转错误以及如何有效进行容错设计的问题,提出了测试BRAM空间单粒子效应和多位翻转图样的方法.多位翻转图样可以表征单次单粒子事件导致的BRAM中相邻单元的翻转特征,进而用于分析逻辑字内是否存在多位翻转.以XC7K410T-FFG900为研究对象,分析其内部资源的组织结构,采用脉冲激光试验测试BRAM的翻转特性.通过试验测得FPGA内BRAM的翻转阈值以及在不同激光能量下的翻转截面,并分析得到BRAM在不同能量照射下的多位翻转图样.试验结果表明, BRAM中单个单元翻转所占比例随激光能量的增加而降低,而多单元翻转所占比例随激光能量的增加呈上升趋势. BRAM在不同脉冲激光能量下可产生2 bit到11 bit的多单元翻转,但通过错误注入试验验证,该多单元翻转在单个字或者字节内并无多位翻转问题.研究结果为提高SRAM型FPGA在航天应用中的可靠性提供了试验支持,并依据BRAM的翻转特性给出了SRAM型FPGA在轨加固方法和建议. 展开更多

关键词 单粒子效应 脉冲激光 多单元翻转(MCU) bram翻转图样 单粒子翻转容错

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一种优化FPGA内嵌BRAM自检测March C+算法 被引量：3

8

作者 葛云侠 武乾文 +1 位作者 赵益波 陈龙 《国外电子测量技术》 北大核心 2022年第4期1-7,共7页

在现场可编程门阵列内嵌块存储器(BRAM)测试中,传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题。为了提高故障覆盖率,在March C+算法的基础上,提出一种March CG新算法。该算法通过增加连续写操作和测试算法的数据... 在现场可编程门阵列内嵌块存储器(BRAM)测试中,传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题。为了提高故障覆盖率,在March C+算法的基础上,提出一种March CG新算法。该算法通过增加连续写操作和测试算法的数据背景提高字内耦合故障、写干扰故障覆盖率。构建高效率存储器内建自测试电路,采用March CG算法实现对单个BRAM和多个BRAM的测试。实验表明,在单个BRAM测试中,相比March C+算法,March CG算法对故障的覆盖率提高了13.6%;在多个BRAM测试中,对BRAM资源的覆盖率达到了100%。 展开更多

关键词 存储器内建自测试 块存储器 March C+ 故障覆盖率

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28nm超大规模FPGA的BRAM单粒子效应测试方法研究 被引量：3

9

作者 刘宇翔 张战刚 +3 位作者 杨凯歌 雷志锋 黄云 恩云飞 《电子产品可靠性与环境试验》 2017年第5期1-5,共5页

为了建立一种28 nm工艺超大规模SRAM型FPGA块随机读取存储器(BRAM:Block Random Access Memory)模块的单粒子效应测试方法,实现敏感位的精确定位,通过研究逻辑位置文件和回读文件,建立了敏感位和FPGA逻辑地址的对应机制,推导出了对应的... 为了建立一种28 nm工艺超大规模SRAM型FPGA块随机读取存储器(BRAM:Block Random Access Memory)模块的单粒子效应测试方法,实现敏感位的精确定位,通过研究逻辑位置文件和回读文件,建立了敏感位和FPGA逻辑地址的对应机制,推导出了对应的关系公式,并提出了一组针对BRAM模块的系统测试方法。该方法大幅度地提高了现有测试方法的效果,并且为器件失效机理的分析和下一步的器件加固设计提供了指导。 展开更多

关键词 现场可编程门阵列 单粒子效应 块随机读取存储器 敏感位定位 测试方法

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基于BRAM的NVMe控制器原型仿真平台设计 被引量：1

10

作者 冯志华 王华卓 +2 位作者 安东博 罗重 王红艳 《计算机工程与设计》 北大核心 2021年第4期1181-1187,共7页

为加快NVMe控制器的开发进程,实现NVMe标准命令的快速仿真验证,提出一种基于BRAM的NVMe控制器原型仿真平台的设计方法。将采用块随机存储器代替闪存作为存储介质,处理器直接将数据写入块随机存储器,缩短数据的存储路径,极大地降低工程... 为加快NVMe控制器的开发进程,实现NVMe标准命令的快速仿真验证,提出一种基于BRAM的NVMe控制器原型仿真平台的设计方法。将采用块随机存储器代替闪存作为存储介质,处理器直接将数据写入块随机存储器,缩短数据的存储路径,极大地降低工程结构的复杂度,克服NVMe控制器工程仿真过程耗时较多的缺点。仿真结果表明了该方法的可行性,相比于原始NVMe控制器,其结构更简单,仿真过程用时明显减少。 展开更多

关键词 存储介质 非易失性存储 原型仿真 现场可编程逻辑门阵列 块随机存储器

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基于部分重配置的FPGA内嵌BRAM测试方法 被引量：3

11

作者 李圣华 王健 来金梅 《复旦学报（自然科学版）》 CAS CSCD 北大核心 2016年第6期806-814,共9页

对于FPGA的内嵌BRAM资源的测试,传统的方法存在着故障覆盖率不够高,测试配置数目较多,以及测试时间较长的缺点.针对上述问题,本文提出了一种新的利用FPGA内嵌ICAP核进行片内自动部分重配置功能来实现对FPGA内嵌BRAM核的内建自测试方法,... 对于FPGA的内嵌BRAM资源的测试,传统的方法存在着故障覆盖率不够高,测试配置数目较多,以及测试时间较长的缺点.针对上述问题,本文提出了一种新的利用FPGA内嵌ICAP核进行片内自动部分重配置功能来实现对FPGA内嵌BRAM核的内建自测试方法,且无需额外的外接存储单元.在已有方法的基础上提高了对写破坏故障、读破坏故障、干扰耦合故障、写破坏耦合故障、读破坏耦合故障以及BRAM初始化功能故障的覆盖,改进算法使程序执行周期数降低一半左右,同时将多个算法集成在同一个测试配置里来实现降低测试的完整配置数,从而降低测试时间.测试结果表明,该方法在故障覆盖率上可以达到100%,而且测试配置数可以降低至两个完整配置,其中每个完整配置里包含13个算法的片内自动部分重配置,实测得到总测试时间仅为131.216ms. 展开更多

关键词 现场可编程门阵列 块随机存储器 内建自测试 部分重配置 ICAP

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关联规则挖掘算法研究 被引量：2

12

作者 邓悦 赵井文 《办公自动化（综合月刊）》 2008年第1期38-40,共3页

Apriori算法是发现频繁项目集的经典算法,但是该算法需反复扫描数据库,因此效率较低。针对Apriori算法,GBARM (Group Based Association Rules Mining)算法对事务集进行压缩,并且在统计Ck中各项集的支持频度时,逐步减小Ck的规模,从而改... Apriori算法是发现频繁项目集的经典算法,但是该算法需反复扫描数据库,因此效率较低。针对Apriori算法,GBARM (Group Based Association Rules Mining)算法对事务集进行压缩,并且在统计Ck中各项集的支持频度时,逐步减小Ck的规模,从而改善算法的性能。 展开更多

关键词 关联规则 APRIORI 频繁项集 6bram

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中值滤波器在FPGA实现中的数据读取设计

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作者 李勇 袁林 《软件工程师》 2015年第4期28-29,21,共3页

以Altera的QuartusⅡ为开发平台,在FPGA芯片中设计实现3×3窗口中值滤波器,结合选定的中值滤波算法,主要针对在进入比较单元前的数据读取部分进行优化设计,提出了构建双极随机存储器BRAM实现数据读取和构建D触发器实现数据串入并出... 以Altera的QuartusⅡ为开发平台,在FPGA芯片中设计实现3×3窗口中值滤波器,结合选定的中值滤波算法,主要针对在进入比较单元前的数据读取部分进行优化设计,提出了构建双极随机存储器BRAM实现数据读取和构建D触发器实现数据串入并出两种数据读取设计。 展开更多

关键词 FPGA 中值滤波 数据读取 bram D触发器

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Flash存储阵列坏块管理方法的设计与实现 被引量：8

14

作者 张雪钰 焦新泉 刘东海 《电子测量技术》 2020年第20期21-25,共5页

目前高速大容量存储多采用Flash阵列架构,解决高速存储阵列中Flash芯片的坏块管理是提高该阵列存储可靠性和存储速度的关键。针对Flash阵列的坏块管理,提出基于整合块映射的坏块管理策略和基于BRAM查表法的坏块管理策略,并对这两种方案... 目前高速大容量存储多采用Flash阵列架构,解决高速存储阵列中Flash芯片的坏块管理是提高该阵列存储可靠性和存储速度的关键。针对Flash阵列的坏块管理,提出基于整合块映射的坏块管理策略和基于BRAM查表法的坏块管理策略,并对这两种方案进行对比,同时对传统突发坏块的管理方法进行优化,通过空闲回读模式来保证数据存储速度。经在线仿真与实际测试,可正确找出坏块地址且数据正确无误码,验证了上述方法的正确性和可操作性,同时对整合块管理方法造成的容量损失进行极限计算与实际测试,损失容量在1%以下,完全满足工程需求。 展开更多

关键词 NAND Flash 整合块 bram查表 坏块管理

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存储紧缩性高速QC-LDPC译码器的FPGA实现 被引量：1

15

作者 谢天娇 李波 +1 位作者 杨懋 闫中江 《西北工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第3期515-522,共8页

提出了一种高速部分并行准循环低密度奇偶校验码(quasi-cyclic low density parity check codes,QC-LDPC)译码器架构和该架构下的2种紧缩性存储策略,采用将多个相邻行的硬判决码字和外信息压缩到一个存储单元、硬判决待输出码字信息紧... 提出了一种高速部分并行准循环低密度奇偶校验码(quasi-cyclic low density parity check codes,QC-LDPC)译码器架构和该架构下的2种紧缩性存储策略,采用将多个相邻行的硬判决码字和外信息压缩到一个存储单元、硬判决待输出码字信息紧缩性存储及相对应的高速译码器架构,不仅减少了用于硬判决码字的存储块的数量,而且可以便于一个时钟周期内对多个数据同时进行访问并处理,从而提高了译码器的数据处理吞吐量。通过采用Xilinx XC4VLX160 FPGA 实现CCSDS标准中的LDPC译码器验证了文中提出的这种紧缩性存储策略及其高速译码器架构可以有效地利用FPGA资源来实现高速译码器,实现结果显示该译码器在布局布线后时钟频率可以工作在250 MHz,译码器采用14次迭代,对应2 Gb/s的译码吞吐量。 展开更多

关键词 QC-LDPC码 LDPC译码器 bram存储器 FPGA CCSDS

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双MicroBlaze软核处理器的SOPC系统设计 被引量：1

16

作者 李金凤 施慧彬 杨定定 《单片机与嵌入式系统应用》 2013年第1期15-18,共4页

设计了一款基于双MicroBlaze软核处理器、面向嵌入式领域的SOPC系统,在信息处理繁忙的情况下,实现两软核处理器之间的同步、通信和中断功能,提高信息吞吐率和系统灵活性,降低设备尺寸。两处理器之间通过Mutex模块实现同步功能,通过Mail... 设计了一款基于双MicroBlaze软核处理器、面向嵌入式领域的SOPC系统,在信息处理繁忙的情况下,实现两软核处理器之间的同步、通信和中断功能,提高信息吞吐率和系统灵活性,降低设备尺寸。两处理器之间通过Mutex模块实现同步功能,通过Mailbox模块实现通信和中断功能,通过共享BRAM模块实现大块通信功能,并进行了有效的功能验证。该SOPC系统在XUPV5-LX110T开发板上得到验证。测试结果表明,两软核处理器之间有效地实现了同步,通信和中断功能,达到了预期的效果,验证了方案的有效性。 展开更多

关键词 MICROBLAZE 双核 SOPC MUTEX MAILBOX bram

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用于物联网的可重构的祖冲之密码算法的硬件设计 被引量：1

17

作者 李燕然 严利民 《复旦学报（自然科学版）》 CAS CSCD 北大核心 2023年第1期83-89,共7页

针对应用在资源有限的物联网中的祖冲之(ZUC)256密码算法,本文介绍了一种资源优化的ZUC-256密码算法的硬件实现方案,设计了面向资源优化的循环型ZUC-256密码算法的硬件架构和基于块随机存取存储器(BRAM)的可重构S盒(S-box)单元,从而有... 针对应用在资源有限的物联网中的祖冲之(ZUC)256密码算法,本文介绍了一种资源优化的ZUC-256密码算法的硬件实现方案,设计了面向资源优化的循环型ZUC-256密码算法的硬件架构和基于块随机存取存储器(BRAM)的可重构S盒(S-box)单元,从而有效地降低了资源消耗。硬件方案在现场可编程逻辑门阵列(FPGA)上进行了硬件验证,结果表明本文资源优化的循环架构中的各个硬件开销相比已有的方案有明显的降低。 展开更多

关键词 ZUC-256密码算法 资源优化 块随机存取存储器(bram) S盒(S-box)

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常见革兰阴性杆菌对5种β-内酰胺类耐药率比较 被引量：4

18

作者 李茵 梁学政 唐晓玲 《药物流行病学杂志》 CAS 2009年第5期335-338,共4页

目的:比较常见4种革兰阴性杆菌对5种β-内酰胺类抗生素的耐药率,为临床合理用药提供参考。方法:用纸片扩散法对临床分析的革兰阴性杆菌进行药敏检测,比较其对5种β-内酰胺类抗生素的耐药率。结果:总体耐药率由低到高依次为美洛培南(8.74... 目的:比较常见4种革兰阴性杆菌对5种β-内酰胺类抗生素的耐药率,为临床合理用药提供参考。方法:用纸片扩散法对临床分析的革兰阴性杆菌进行药敏检测,比较其对5种β-内酰胺类抗生素的耐药率。结果:总体耐药率由低到高依次为美洛培南(8.74%)<哌拉西林/他唑巴坦(26.17%)<头孢吡肟(39.60%)<头孢他啶(39.60%)<氨曲南(43.75%)。不同的菌株对不同的抗生素各自的耐药率与总体耐药率存在一定差异。2007年与2006年药敏结果比较,总体抗菌药物耐药率显著上升(P<0.01)。结论:上述5种β-内酰胺类抗生素对革兰阴性菌具有较好的抗菌作用,但应根据菌种的不同合理选用,以减少细菌耐药性的产生。 展开更多

关键词 Β-内酰胺类抗生素 革兰阴性杆菌 耐药率

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婴儿痉挛症听觉脑干诱发电位的临床观察 被引量：2

19

作者 王静 陈世畯 《天津医药》 CAS 1995年第11期650-652,共3页

对长期随访观察的35例婴儿痉挛症(IS)患儿进行听觉脑干诱发电位(ABR)测试和智能发育检查,结合临床症状、转归、疗效等进行综合分析。结果表明:IS患儿ABR的各波潜伏期及其间期均明显长于正常儿童,而且ABR的某些测值与患儿的智能水平密切... 对长期随访观察的35例婴儿痉挛症(IS)患儿进行听觉脑干诱发电位(ABR)测试和智能发育检查,结合临床症状、转归、疗效等进行综合分析。结果表明:IS患儿ABR的各波潜伏期及其间期均明显长于正常儿童,而且ABR的某些测值与患儿的智能水平密切相关,随着智能发育水平的提高,ABR的中枢传导时间Ⅰ～Ⅴ波间期逐渐缩短。脑干是Is发病的重要相关部位,因此ABR测试对于IS确是一有效监测手段。还发现患儿发病越早,其智能水平越差,ABR的Ⅰ～Ⅴ间期就越长,如痉挛能及早得到控制且智能水平得到提高,ABR值就越接近正常,提示如能尽早终止痉挛,则有益患儿的远期预后。在某种程度上,ABR可作为评价IS患儿智能水平、病情演变以及估计疗效和预后的有效方法。 展开更多

关键词 婴儿痉挛症 脑干诱发电位 听觉 智力迟钝

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航天用SRAM型FPGA抗单粒子翻转设计 被引量：8

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作者 马寅 《航天器环境工程》 2011年第6期551-556,共6页

采用SRAM工艺的FPGA因其性能优异,在空间领域的应用受到重视;但是在空间环境中,SRAM型FPGA易受单粒子翻转的影响而导致逻辑故障或功能中断。文章提出对该类芯片的配置逻辑部分采用回读比较后刷新、对其BRAM部分采用通用自纠错宏的抗单... 采用SRAM工艺的FPGA因其性能优异,在空间领域的应用受到重视;但是在空间环境中,SRAM型FPGA易受单粒子翻转的影响而导致逻辑故障或功能中断。文章提出对该类芯片的配置逻辑部分采用回读比较后刷新、对其BRAM部分采用通用自纠错宏的抗单粒子翻转(SEU)设计方案,在牺牲一定的器件性能的情况下,能达到较好的抗辐射效果。 展开更多

关键词 单粒子翻转 抗辐射加固 回读 刷新 块RAM 容错

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