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J750到BC3192测试程序转换方法 被引量：2
1
作者 郭士瑞 冯建科 《电子测试》 2009年第2期38-42,共5页
由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,... 由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,BC3192是国产的新型测试系统,本文介绍了一种测试程序从J750到BC3192转换的方法,用IC卡测试程序做实验,证明该方法是可行的。 展开更多
关键词 J750测试系统 bc3192测试系统 测试程序转换 测试软件开发
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BC3192测试系统的开发及使用说明
2
作者 魏坚华 李强 房征 《电子元器件应用》 2002年第9期43-45,共3页
基于微机的强大功能以及VXI总线开放灵活的特点,介绍BC3192测试系统的的研制开发,同时给出其使用说明。
关键词 bc3192 测试系统 使用说明 模拟测试 数字测试 真值表
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ARM Cortex-M3微处理器测试方法 被引量：7
3
作者 蒋常斌 生晓坤 +1 位作者 李杰 宋泽明 《电子测试》 2013年第4期48-51,共4页
作为32位RISC微处理器主流芯片，ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而，ARM芯片的测试需求更加强劲的同时，测试工作量在加大，测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARM Cortex—M3的微处理器测试方法，该方法也可用于类似结构的微处理... 作为32位RISC微处理器主流芯片，ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而，ARM芯片的测试需求更加强劲的同时，测试工作量在加大，测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARM Cortex—M3的微处理器测试方法，该方法也可用于类似结构的微处理器测试。 展开更多
关键词 ATE ARM CORTEX-M3 IC测试 bc3192
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ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现 被引量：8
4
作者 蒋常斌 生晓坤 +1 位作者 李杰 宋泽明 《电子测试》 2013年第4S期8-9,26,共3页
作为32位RISC微处理器主流芯片,ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARMCortex-M3的微处理器测试方法,该方法也可用于类似结构的微处理器测试。
关键词 ATE ARM CORTEX-M3 IC测试 bc3192
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I^2C串行接口数字芯片SCG103测试方法
5
作者 赵影 高剑 《电子测试》 2014年第8X期87-90,共4页
本文概述了I2C串行总线协议原理,研究了采用I2C串行接口的数字芯片的测试方法。在此基础上,研究了I2C串行接口时钟/日历芯片SCG103的测试方案,并在BC3192测试系统中开发了测试程序,成功实现了测试。该测试方法同样适用于类似的I2C串行... 本文概述了I2C串行总线协议原理,研究了采用I2C串行接口的数字芯片的测试方法。在此基础上,研究了I2C串行接口时钟/日历芯片SCG103的测试方案,并在BC3192测试系统中开发了测试程序,成功实现了测试。该测试方法同样适用于类似的I2C串行接口数字芯片。 展开更多
关键词 ATE 串行总线 串行接口 I2C 数字芯片 IC测试 bc3192
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