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铝基SiOx膜层滑动磨损及其机理研究
1
作者
张际亮
沃银花
+1 位作者
郦剑
甘正浩
《材料科学与工程学报》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第3期422-424,共3页
本文采用低温常压CVD方法制备铝基SiOx陶瓷膜层。以黄铜为对磨材料 ,使用销 -盘式磨损试验机对比研究纯铝表面与SiOx膜层的滑动磨损性能 ,通过SEM分析磨损的表面形貌并分析其磨损机理。结果表明纯铝表面发生粘着磨损 ,存在大量塑性变形...
本文采用低温常压CVD方法制备铝基SiOx陶瓷膜层。以黄铜为对磨材料 ,使用销 -盘式磨损试验机对比研究纯铝表面与SiOx膜层的滑动磨损性能 ,通过SEM分析磨损的表面形貌并分析其磨损机理。结果表明纯铝表面发生粘着磨损 ,存在大量塑性变形和折叠 ,导致片状脱落 ,磨损率高 ;SiOx薄膜硬度较高 ,存在孔隙 ,表面发生塑性变形、崩塌和磨粒磨损 ;因薄膜孔隙具有储存润滑剂 (水 )的作用 ,磨损率明显低于对比纯铝样品 ;随沉积时间增加 ,SiOx膜层变厚 ,承载能力提高 ,磨损量减小。
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关键词
铝基SiOx膜
apvcd
滑动磨损
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职称材料
SIPOS障的结构织成
2
作者
谭凌
雷沛云
梁骏吾
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第12期890-896,共7页
采用常压化学气相淀积(APCVD)方法,生长了不同氧含量的SIPOS(半绝缘含氧多晶硅)膜,研究了SIPOS膜的结构组成.SIPOS膜是微晶,多晶和非晶共存的结构,其晶态物中含有缺氧的α-Cristobalite(方...
采用常压化学气相淀积(APCVD)方法,生长了不同氧含量的SIPOS(半绝缘含氧多晶硅)膜,研究了SIPOS膜的结构组成.SIPOS膜是微晶,多晶和非晶共存的结构,其晶态物中含有缺氧的α-Cristobalite(方石英)结构.膜中含氧量可变,以SiOx(x<2)表示,随着氧含量的增加或减少,其结构向非晶或多晶方向移动.膜中氧原子分布不均匀,局部有氧原子微区集中或缺少现象,使X=0或1或2.
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关键词
SIPOS膜
硅
apvcd
法
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职称材料
常压化学气相沉积法氮氧化硅薄膜性能的研究
3
作者
孟祥森
马青松
+1 位作者
葛曼珍
杨辉
《硅酸盐通报》
CAS
CSCD
2000年第2期19-21,共3页
我们用常压化学气相沉积法(APCVD),以SiH4和NH3为先驱体,在较低的温度(<700℃)下制备氮氧化硅(Si-O-N)薄膜,并对其性能进行了研究。研究结果表明氮氧化硅薄膜能使改性后平板玻璃硬度提高40%,并具有良好的抗高温氧化性,这...
我们用常压化学气相沉积法(APCVD),以SiH4和NH3为先驱体,在较低的温度(<700℃)下制备氮氧化硅(Si-O-N)薄膜,并对其性能进行了研究。研究结果表明氮氧化硅薄膜能使改性后平板玻璃硬度提高40%,并具有良好的抗高温氧化性,这种薄膜在材料表面改性领域有着广阔的应用前景。
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关键词
氮氧化硅
APCVD
高温氧化
改性
陶瓷薄膜
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职称材料
题名
铝基SiOx膜层滑动磨损及其机理研究
1
作者
张际亮
沃银花
郦剑
甘正浩
机构
浙江大学材料科学与工程系
新加坡南洋理工大学电气工程系
出处
《材料科学与工程学报》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第3期422-424,共3页
基金
国家自然科学基金资助项目 (50 2 71 0 65) .
文摘
本文采用低温常压CVD方法制备铝基SiOx陶瓷膜层。以黄铜为对磨材料 ,使用销 -盘式磨损试验机对比研究纯铝表面与SiOx膜层的滑动磨损性能 ,通过SEM分析磨损的表面形貌并分析其磨损机理。结果表明纯铝表面发生粘着磨损 ,存在大量塑性变形和折叠 ,导致片状脱落 ,磨损率高 ;SiOx薄膜硬度较高 ,存在孔隙 ,表面发生塑性变形、崩塌和磨粒磨损 ;因薄膜孔隙具有储存润滑剂 (水 )的作用 ,磨损率明显低于对比纯铝样品 ;随沉积时间增加 ,SiOx膜层变厚 ,承载能力提高 ,磨损量减小。
关键词
铝基SiOx膜
apvcd
滑动磨损
Keywords
Aluminum substrate
APCVD
SiOx
Slide wear
Morphology
分类号
TB43 [一般工业技术]
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
SIPOS障的结构织成
2
作者
谭凌
雷沛云
梁骏吾
机构
中国科学院半导体研究所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第12期890-896,共7页
基金
国家自然科学基金
文摘
采用常压化学气相淀积(APCVD)方法,生长了不同氧含量的SIPOS(半绝缘含氧多晶硅)膜,研究了SIPOS膜的结构组成.SIPOS膜是微晶,多晶和非晶共存的结构,其晶态物中含有缺氧的α-Cristobalite(方石英)结构.膜中含氧量可变,以SiOx(x<2)表示,随着氧含量的增加或减少,其结构向非晶或多晶方向移动.膜中氧原子分布不均匀,局部有氧原子微区集中或缺少现象,使X=0或1或2.
关键词
SIPOS膜
硅
apvcd
法
Keywords
Film growth
Insulating materials
Structure (composition)
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
常压化学气相沉积法氮氧化硅薄膜性能的研究
3
作者
孟祥森
马青松
葛曼珍
杨辉
机构
浙江大学材料系硅材料科学国家重点实验室
出处
《硅酸盐通报》
CAS
CSCD
2000年第2期19-21,共3页
基金
国家自然科学基金
浙江省151人才工程资助
文摘
我们用常压化学气相沉积法(APCVD),以SiH4和NH3为先驱体,在较低的温度(<700℃)下制备氮氧化硅(Si-O-N)薄膜,并对其性能进行了研究。研究结果表明氮氧化硅薄膜能使改性后平板玻璃硬度提高40%,并具有良好的抗高温氧化性,这种薄膜在材料表面改性领域有着广阔的应用前景。
关键词
氮氧化硅
APCVD
高温氧化
改性
陶瓷薄膜
Keywords
Silicon oxynitride
apvcd
hardness oxidation at high temperature surface modification
分类号
TQ174.758 [化学工程—陶瓷工业]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
铝基SiOx膜层滑动磨损及其机理研究
张际亮
沃银花
郦剑
甘正浩
《材料科学与工程学报》
CAS
CSCD
北大核心
2005
0
在线阅读
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职称材料
2
SIPOS障的结构织成
谭凌
雷沛云
梁骏吾
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
常压化学气相沉积法氮氧化硅薄膜性能的研究
孟祥森
马青松
葛曼珍
杨辉
《硅酸盐通报》
CAS
CSCD
2000
0
在线阅读
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职称材料
已选择
0
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