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题名基于ATE的容性敏感器件功能测试优化
被引量：1
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作者
王天元
赵志林
韩森
王建超
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机构
中国电子科技集团第五十八研究所
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出处
《中国集成电路》
2024年第6期90-93,共4页
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文摘
使用大规模集成电路测试系统(ATE)机台测试某些容性负载敏感器件时,常遇到要求测试负载电容不超过15pF,经TH2826A测量发现机台的数字通道负载电容可达60~80 pF,根据电路容性负载特性曲线,可能引起时间参数等误差,通过影响上升和下降时间影响电路传输速率。以ADG3300双端电平转换器为例,在输出端和机台通道间引入ADCMP600,将电路输出端同数字通道隔离,从而避免数字通道容性负载直接对输出信号造成影响。输出端容性负载从数字通道变为ADCMP600,经测量容值约几pF,满足时间参数测试条件。通过示波器对不同传输速率下的输出波形进行对比,发现引入ADCMP600后的输出波形上升时间和下降时间减小至手册给定范围内,器件最大传输速率测试结果达到最高60 Mbps。
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关键词
ATE
负载电容
adcmp600
最大传输速率
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Keywords
ATE
load capacitive
adcmp600
maximum data rate
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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