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3D SoC并行测试中TAM调度优化设计 被引量:1
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作者 吴欣舟 方芳 王伟 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2020年第4期31-36,共6页
提出了一种在功耗及测试并行性约束下三维片上系统(System on Chip,SoC)绑定中测试阶段并行测试的优化策略,通过最大限度地利用测试访问机制(Test Access Mechanism,TAM)资源,大大减少了测试时间,降低了测试成本。在3D SoC的测试过程中... 提出了一种在功耗及测试并行性约束下三维片上系统(System on Chip,SoC)绑定中测试阶段并行测试的优化策略,通过最大限度地利用测试访问机制(Test Access Mechanism,TAM)资源,大大减少了测试时间,降低了测试成本。在3D SoC的测试过程中系统TAM资源十分有限,通过设计相应的测试外壳结构,对系统当前状态下空闲的TAM资源与待测芯核内部扫描链进行重新分配,使待调度的芯核提前进入测试阶段,减少了并行测试过程中的空闲时间块。在该结构基础上调整各芯核调度顺序,使测试过程满足各项约束条件。在ITC’02电路上的实验结果表明,在同样的功耗约束及测试并行性约束条件下,所提方法与现有方法相比更有效地降低了测试时间。 展开更多
关键词 三维片上系统(3d SoC) 测试访问机制(TAM) 测试外壳 测试调度 测试时间
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基于OST的3D SoC绑定中测试时间优化方法
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作者 王丹 董浪 《电脑编程技巧与维护》 2023年第12期150-152,共3页
针对硬晶片构成的3D SoC绑定中测试时间问题,提出了考虑测试引脚约束的最优搜索理论(OST)测试时间优化算法。选用ITC02测试基准电路中的5种典型电路,在基于蛮力法求解出来的所有堆叠方式中,抽取金字塔、菱形和倒金字塔结构的3D SoC,采用... 针对硬晶片构成的3D SoC绑定中测试时间问题,提出了考虑测试引脚约束的最优搜索理论(OST)测试时间优化算法。选用ITC02测试基准电路中的5种典型电路,在基于蛮力法求解出来的所有堆叠方式中,抽取金字塔、菱形和倒金字塔结构的3D SoC,采用OST算法进行实验。结果表明,与已有算法相比,提出的OST算法显著缩短了绑定中的总测试时间;测试引脚一定时,与金字塔和菱形结构的3D SoC相比,倒金字塔3D SoC绑定中总测试时间最小。 展开更多
关键词 OST算法 3d SoC绑定 绑定中 测试时间
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后摩尔时代新兴计算芯片进展 被引量:3
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作者 武俊齐 赖凡 《微电子学》 CAS 北大核心 2020年第3期384-388,共5页
信息处理系统由于基础半导体技术遭遇"摩尔定律接近终结"和现行计算架构(冯·诺依曼架构)缺陷所导致的瓶颈,其发展受到严重挑战。为克服这些制约因素,一方面,集成电路开始沿着由技术内生动力和应用拉动的趋势,即"超... 信息处理系统由于基础半导体技术遭遇"摩尔定律接近终结"和现行计算架构(冯·诺依曼架构)缺陷所导致的瓶颈,其发展受到严重挑战。为克服这些制约因素,一方面,集成电路开始沿着由技术内生动力和应用拉动的趋势,即"超越摩尔定律"和"超越CMOS"的方向,逐步发展,包括对单片3D系统和碳纳米管场效应晶体管芯片等新兴计算芯片技术的研究;另一方面,计算范式变革推动了以"神经形态计算"类脑芯片等构建的非冯·诺依曼架构的芯片迅速发展。本文从以上两个方面研究了后摩尔时代新计算芯片技术发展的脉络,分析了数字计算芯片、模拟计算芯片、神经形态计算芯片等新兴计算芯片技术的新进展。 展开更多
关键词 摩尔定律 超越摩尔定律 超越CMOS 计算芯片 3d SoC 碳纳米管场效应晶体管 冯·诺依曼架构 神经形态计算 量子计算 边缘计算
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