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基于ATE测试平台Chroma 3380D的多管脚芯片FT测试系统的设计研究 被引量：2
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作者 田磊 《日用电器》 2024年第3期17-21,共5页
本文介绍了一款多管脚芯片的FT测试方法。基于Chroma 3380D测试系统,通过对芯片测试要求进行分析,设计了4-site并行测试外围电路,实现了对该芯片的主要功能与性能参数测试,该方案能够作为通用测试方法供测试设计研发人员中参考。
关键词 ATE Chroma 3380d FT测试
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