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基于分布式游标法的2.5DIC传输线测试
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作者 卞景昌 梁华国 +3 位作者 倪天明 聂牧 黄正峰 易茂祥 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2017年第10期1935-1940,共6页
为解决现有2.5D IC传输线测试方法适用性差、面积开销大和分辨率不稳定等问题,提出基于分布式游标法的传输线测试方法.首先根据传输线的数量和分布情况择优选择普通游标和环形游标2种游标结构;然后把游标延时线的所有延时单元平均分配... 为解决现有2.5D IC传输线测试方法适用性差、面积开销大和分辨率不稳定等问题,提出基于分布式游标法的传输线测试方法.首先根据传输线的数量和分布情况择优选择普通游标和环形游标2种游标结构;然后把游标延时线的所有延时单元平均分配给每条传输线,使所有传输线共享一条游标延时线;最后将传输线延时量化为数字码输出.实验结果表明,与现有方法相比,文中方法综合考虑了测试时间和面积开销,满足了复杂集成电路设计的实际需要;使用2种游标结构的分布式测试方法面积开销分别减少了52.6%和23.7%;在相邻传输线间距离发生变化时,测试分辨率的稳定性提高了70%. 展开更多
关键词 2.5dic 传输线 硅通孔 重分布层 游标法
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基于2.5D封装设计对SI性能影响的研究
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作者 张江涛 余斌 +2 位作者 庞健 孙拓北 欧阳可青 《中国集成电路》 2021年第6期78-84,共7页
随着AI、5G、超大规模存储的云服务,高性能显卡以及高端服务器的应用,传统2D封装技术已经不能满足相关设计与性能需求,在市场需求驱动下2.5D封装技术解决方案在满足产品对高带宽、低功耗、高集成度的需求方面的优势得到凸显与认可,尤其... 随着AI、5G、超大规模存储的云服务,高性能显卡以及高端服务器的应用,传统2D封装技术已经不能满足相关设计与性能需求,在市场需求驱动下2.5D封装技术解决方案在满足产品对高带宽、低功耗、高集成度的需求方面的优势得到凸显与认可,尤其在高端HBM显卡方面的应用。由于2.5D封装技术的工艺复杂,数据量以及仿真建模难度比较大,导致芯片的封装设计与加工成本相比于传统2D芯片会高很多,因此目前绝大部分的2.5D封装技术都只能在高端芯片领域使用[2]。伴随着越来越多的芯片设计公司加入到2.5D封装设计的浪潮中,工艺迭代加速使得工艺成熟度越来越高,成本也在逐步降低,相信随着工艺技术的进一步成熟与完善,2.5D设计技术将会迎来快速增长。本文主要针对2.5D封装工艺对封装系统SI性能进行仿真和评估,制定相关设计规范,为封装设计提供参考与指导。 展开更多
关键词 插损 串扰 HBM INTERPOSER TSV 2.5dic
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