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基于分布式游标法的2.5DIC传输线测试
1
作者
卞景昌
梁华国
+3 位作者
倪天明
聂牧
黄正峰
易茂祥
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2017年第10期1935-1940,共6页
为解决现有2.5D IC传输线测试方法适用性差、面积开销大和分辨率不稳定等问题,提出基于分布式游标法的传输线测试方法.首先根据传输线的数量和分布情况择优选择普通游标和环形游标2种游标结构;然后把游标延时线的所有延时单元平均分配...
为解决现有2.5D IC传输线测试方法适用性差、面积开销大和分辨率不稳定等问题,提出基于分布式游标法的传输线测试方法.首先根据传输线的数量和分布情况择优选择普通游标和环形游标2种游标结构;然后把游标延时线的所有延时单元平均分配给每条传输线,使所有传输线共享一条游标延时线;最后将传输线延时量化为数字码输出.实验结果表明,与现有方法相比,文中方法综合考虑了测试时间和面积开销,满足了复杂集成电路设计的实际需要;使用2种游标结构的分布式测试方法面积开销分别减少了52.6%和23.7%;在相邻传输线间距离发生变化时,测试分辨率的稳定性提高了70%.
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关键词
2.5dic
传输线
硅通孔
重分布层
游标法
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职称材料
基于2.5D封装设计对SI性能影响的研究
2
作者
张江涛
余斌
+2 位作者
庞健
孙拓北
欧阳可青
《中国集成电路》
2021年第6期78-84,共7页
随着AI、5G、超大规模存储的云服务,高性能显卡以及高端服务器的应用,传统2D封装技术已经不能满足相关设计与性能需求,在市场需求驱动下2.5D封装技术解决方案在满足产品对高带宽、低功耗、高集成度的需求方面的优势得到凸显与认可,尤其...
随着AI、5G、超大规模存储的云服务,高性能显卡以及高端服务器的应用,传统2D封装技术已经不能满足相关设计与性能需求,在市场需求驱动下2.5D封装技术解决方案在满足产品对高带宽、低功耗、高集成度的需求方面的优势得到凸显与认可,尤其在高端HBM显卡方面的应用。由于2.5D封装技术的工艺复杂,数据量以及仿真建模难度比较大,导致芯片的封装设计与加工成本相比于传统2D芯片会高很多,因此目前绝大部分的2.5D封装技术都只能在高端芯片领域使用[2]。伴随着越来越多的芯片设计公司加入到2.5D封装设计的浪潮中,工艺迭代加速使得工艺成熟度越来越高,成本也在逐步降低,相信随着工艺技术的进一步成熟与完善,2.5D设计技术将会迎来快速增长。本文主要针对2.5D封装工艺对封装系统SI性能进行仿真和评估,制定相关设计规范,为封装设计提供参考与指导。
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关键词
插损
串扰
HBM
INTERPOSER
TSV
2.5dic
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职称材料
题名
基于分布式游标法的2.5DIC传输线测试
1
作者
卞景昌
梁华国
倪天明
聂牧
黄正峰
易茂祥
机构
合肥工业大学电子科学与应用物理学院
合肥工业大学计算机与信息学院
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2017年第10期1935-1940,共6页
基金
国家自然科学基金(61674048
61574052
+1 种基金
61371025
61474036)
文摘
为解决现有2.5D IC传输线测试方法适用性差、面积开销大和分辨率不稳定等问题,提出基于分布式游标法的传输线测试方法.首先根据传输线的数量和分布情况择优选择普通游标和环形游标2种游标结构;然后把游标延时线的所有延时单元平均分配给每条传输线,使所有传输线共享一条游标延时线;最后将传输线延时量化为数字码输出.实验结果表明,与现有方法相比,文中方法综合考虑了测试时间和面积开销,满足了复杂集成电路设计的实际需要;使用2种游标结构的分布式测试方法面积开销分别减少了52.6%和23.7%;在相邻传输线间距离发生变化时,测试分辨率的稳定性提高了70%.
关键词
2.5dic
传输线
硅通孔
重分布层
游标法
Keywords
2.5D IC
interconnect
through-silicon via
re-distribution layer
vernier
分类号
TP306.2 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
基于2.5D封装设计对SI性能影响的研究
2
作者
张江涛
余斌
庞健
孙拓北
欧阳可青
机构
移动网络和移动多媒体技术国家重点实验室
深圳市中兴微电子技术有限公司
出处
《中国集成电路》
2021年第6期78-84,共7页
文摘
随着AI、5G、超大规模存储的云服务,高性能显卡以及高端服务器的应用,传统2D封装技术已经不能满足相关设计与性能需求,在市场需求驱动下2.5D封装技术解决方案在满足产品对高带宽、低功耗、高集成度的需求方面的优势得到凸显与认可,尤其在高端HBM显卡方面的应用。由于2.5D封装技术的工艺复杂,数据量以及仿真建模难度比较大,导致芯片的封装设计与加工成本相比于传统2D芯片会高很多,因此目前绝大部分的2.5D封装技术都只能在高端芯片领域使用[2]。伴随着越来越多的芯片设计公司加入到2.5D封装设计的浪潮中,工艺迭代加速使得工艺成熟度越来越高,成本也在逐步降低,相信随着工艺技术的进一步成熟与完善,2.5D设计技术将会迎来快速增长。本文主要针对2.5D封装工艺对封装系统SI性能进行仿真和评估,制定相关设计规范,为封装设计提供参考与指导。
关键词
插损
串扰
HBM
INTERPOSER
TSV
2.5dic
Keywords
Insertion Loss
Crosstalk
HBM
INTERPOSER TSV
2.5dic
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于分布式游标法的2.5DIC传输线测试
卞景昌
梁华国
倪天明
聂牧
黄正峰
易茂祥
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2017
0
在线阅读
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职称材料
2
基于2.5D封装设计对SI性能影响的研究
张江涛
余斌
庞健
孙拓北
欧阳可青
《中国集成电路》
2021
0
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职称材料
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