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多核处理器硅后调试技术研究最新进展
被引量:
1
1
作者
高建良
韩银和
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2013年第2期321-324,共4页
针对多核处理器硅后调试技术进行综述和分析。首先,介绍了多核处理器硅后调试技术面临的困难,特别是非确定性错误带来的新挑战;然后,概括介绍了国内外多核处理器硅后调试研究的最新进展,并分析了已有方法存在的问题;最后,对多核处理器...
针对多核处理器硅后调试技术进行综述和分析。首先,介绍了多核处理器硅后调试技术面临的困难,特别是非确定性错误带来的新挑战;然后,概括介绍了国内外多核处理器硅后调试研究的最新进展,并分析了已有方法存在的问题;最后,对多核处理器硅后调试研究热点和趋势进行了分析,并指出该领域未来可能的研究方向。
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关键词
多核处理器
硅后调试
非确定性错误
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职称材料
题名
多核处理器硅后调试技术研究最新进展
被引量:
1
1
作者
高建良
韩银和
机构
中南大学信息科学与工程学院
中国科学院计算技术研究所
出处
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2013年第2期321-324,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(61106036
61073036)
文摘
针对多核处理器硅后调试技术进行综述和分析。首先,介绍了多核处理器硅后调试技术面临的困难,特别是非确定性错误带来的新挑战;然后,概括介绍了国内外多核处理器硅后调试研究的最新进展,并分析了已有方法存在的问题;最后,对多核处理器硅后调试研究热点和趋势进行了分析,并指出该领域未来可能的研究方向。
关键词
多核处理器
硅后调试
非确定性错误
Keywords
multi-core processor
post-silicon de
bug
uncertain bug
分类号
TP391.41 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
多核处理器硅后调试技术研究最新进展
高建良
韩银和
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
2013
1
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