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多核处理器硅后调试技术研究最新进展 被引量:1
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作者 高建良 韩银和 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2013年第2期321-324,共4页
针对多核处理器硅后调试技术进行综述和分析。首先,介绍了多核处理器硅后调试技术面临的困难,特别是非确定性错误带来的新挑战;然后,概括介绍了国内外多核处理器硅后调试研究的最新进展,并分析了已有方法存在的问题;最后,对多核处理器... 针对多核处理器硅后调试技术进行综述和分析。首先,介绍了多核处理器硅后调试技术面临的困难,特别是非确定性错误带来的新挑战;然后,概括介绍了国内外多核处理器硅后调试研究的最新进展,并分析了已有方法存在的问题;最后,对多核处理器硅后调试研究热点和趋势进行了分析,并指出该领域未来可能的研究方向。 展开更多
关键词 多核处理器 硅后调试 非确定性错误
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