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A Parallel ATPG Algorithm Based on Big Function Block 被引量:1
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作者 Zhide Zeng Pengxia Liu 《湖南大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 2000年第S2期17-22,共6页
The paper presents a parallel ATPG algorithm - PTGBP, which aims at decreasing the complexity of the ATPG by partitioning circuit under test (CUT) to big function blocks (BFB) and processing them parallelly. PTGBP ado... The paper presents a parallel ATPG algorithm - PTGBP, which aims at decreasing the complexity of the ATPG by partitioning circuit under test (CUT) to big function blocks (BFB) and processing them parallelly. PTGBP adopts hybrid circuit mode and hybrid fault model, and organizes the parallel course in term of master/slave mode. Master processor loads the whole netlist of CUT based on BFB, every slave processor loads logic level (gate/function block/basic logic units) netlist of a BFB. Test generation (TG) uses BFB input/output s-a-0/s-a-1 fault model; fault simulation uses logic level single stuck fault model. Master controls the PTGBP’s running course and ensures the correctness of its running result; slaves provide the results of fault sensitization compatible computation and fault simulation to master parallelly. PTGBP algorithm is under implementation. 展开更多
关键词 parallel ATPG big function block register-transfer level
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面向同步时序电路的电路并行测试生成算法
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作者 刘蓬侠 曾芷德 李思昆 《同济大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第10期1215-1221,共7页
面对VLSI设计规模日益增大的挑战 ,除了电路并行以外 ,其它已有的基本并行策略都无法从根本上解决测试生成的复杂性问题 .然而 ,已有的电路并行测试生成算法并未取得理想的结果 ,尤其对时序电路 .因此 ,如何划分电路 ,成为电路并行算法... 面对VLSI设计规模日益增大的挑战 ,除了电路并行以外 ,其它已有的基本并行策略都无法从根本上解决测试生成的复杂性问题 .然而 ,已有的电路并行测试生成算法并未取得理想的结果 ,尤其对时序电路 .因此 ,如何划分电路 ,成为电路并行算法的设计基础和成功的关键 .面向逻辑级描述的同步时序电路 ,以触发器为核的电路划分算法BWFSF将电路划分为大功能块 .对Benchmark - 89电路的实验结果表明 ,基于G -F二值算法和BWFSF算法的电路并行测试生成算法在有效减少存储空间消耗的同时 ,还能够获得稳定的加速比 . 展开更多
关键词 测试生成系统 同步时序电路 电路并行 触发器 大功能块 并行策略 VLSI电路 并行测试生成算法
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