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TFT-LCD玻璃基板直角度调整与实践应用
1
作者 李昌隆 王国全 +2 位作者 郑聪 梁波 祖光周 《玻璃》 2025年第6期53-56,共4页
TFT-LCD玻璃基板直角度能很直观地反应出玻璃边部研磨抛光后,玻璃基板四边接近矩形的理想程度。玻璃基板直角度的大小、正负值对于玻璃基板磨边前的设备定位校正、玻璃边部研磨量调整、垂直于磨边方向的线性补正参数调整等均具有很重要... TFT-LCD玻璃基板直角度能很直观地反应出玻璃边部研磨抛光后,玻璃基板四边接近矩形的理想程度。玻璃基板直角度的大小、正负值对于玻璃基板磨边前的设备定位校正、玻璃边部研磨量调整、垂直于磨边方向的线性补正参数调整等均具有很重要的参考意义。直角度的大小对玻璃基板在研磨过程中边部品质有很大影响,通过研究分析发现,理论上如果磨削参数一定的前提下,研磨后的玻璃直角度绝对值越小,玻璃基板整边在研磨过程中的磨削量越稳定,玻璃基板边部研磨不良越少。 展开更多
关键词 tft-lcd玻璃基板 研磨量 研磨不良 直角度 定位校正
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TFT-LCD液晶玻璃基板包装用出纸机的设计及应用
2
作者 俞晓彬 夏东劼 +1 位作者 叶林伟 洪诚 《建材世界》 2025年第6期85-88,共4页
论文设计并介绍了一种用于TFT-LCD(薄膜晶体管液晶显示器)液晶玻璃基板包装用间隔纸的自动化出纸设备。该设备通过控制纸卷自动放料、纸张纵向缓存、胶辊驱动出纸、纸张无尘裁切后,将纸张平整展开至取纸平台,供取纸机器人抓取。同时,该... 论文设计并介绍了一种用于TFT-LCD(薄膜晶体管液晶显示器)液晶玻璃基板包装用间隔纸的自动化出纸设备。该设备通过控制纸卷自动放料、纸张纵向缓存、胶辊驱动出纸、纸张无尘裁切后,将纸张平整展开至取纸平台,供取纸机器人抓取。同时,该设备还具备高效连续的出纸能力,可满足产线下片包装的节拍要求,实现了薄纸包装的工艺目标。 展开更多
关键词 自动出纸机 tft-lcd 间隔纸 无尘切割 双卷放卷
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金刚石抛光轮修复后再用于TFT-LCD玻璃精密磨边
3
作者 李昌隆 王国全 +2 位作者 梁波 祖光周 郑聪 《玻璃》 2025年第7期51-53,共3页
TFT-LCD玻璃基板边部研磨抛光品质要求越高,磨边所用金刚石研磨轮和金刚石抛光轮消耗越大,尤其是抛光轮在使用过程中寿命较短、消耗较大,造成加工成本占比相对较高。通过结合干式研磨机实际特性,决定将使用后的抛光轮按照实际槽深情况,... TFT-LCD玻璃基板边部研磨抛光品质要求越高,磨边所用金刚石研磨轮和金刚石抛光轮消耗越大,尤其是抛光轮在使用过程中寿命较短、消耗较大,造成加工成本占比相对较高。通过结合干式研磨机实际特性,决定将使用后的抛光轮按照实际槽深情况,进行分类回收修复后再利用,经过实践验证,修复后的抛光轮使用效果良好,大幅降低了生产成本。 展开更多
关键词 tft-lcd玻璃基板 金刚石抛光轮 修复利用 修复效果 使用效率
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TFT-LCD玻璃边部研磨弧面划痕行为分析与对策
4
作者 李昌隆 郑聪 +2 位作者 王国全 梁波 祖光周 《玻璃》 2025年第5期44-48,共5页
为提高TFT-LCD超薄玻璃后续面板工艺的加工质量以及效率,需要对玻璃基板四边进行研磨和抛光。玻璃基板越薄,加工难度越大,在对玻璃基板四边进行研磨抛光过程中,由于设备结构、研磨抛光工艺参数、研磨槽与抛光槽材料与槽型结构、研磨槽... 为提高TFT-LCD超薄玻璃后续面板工艺的加工质量以及效率,需要对玻璃基板四边进行研磨和抛光。玻璃基板越薄,加工难度越大,在对玻璃基板四边进行研磨抛光过程中,由于设备结构、研磨抛光工艺参数、研磨槽与抛光槽材料与槽型结构、研磨槽与抛光槽使用寿命等因素综合影响,会在玻璃边缘的弧面产生划痕,划痕越明显,微裂纹越深,后续面板深加工过程中,破片概率越大。优化设备结构和工艺参数,改善研磨与抛光槽槽型、控制研磨槽与抛光槽使用寿命,可以明显降低产生划痕的风险和产生划痕的轻重程度。 展开更多
关键词 tft-lcd超薄玻璃 弧面划痕 研磨抛光设备结构 研磨抛光工艺参数 研磨与抛光槽型 研磨与抛光槽使用寿命
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TFT-LCD周边驱动电路集成化设计 被引量：21
5
作者 徐杰 杨虹 +2 位作者 郭树旭 李英博 郜峰利 《液晶与显示》 CAS CSCD 2004年第1期42-47,共6页
根据N沟道和P沟道多晶硅薄膜晶体管(poly SiTFT)的特性,使用Orcad作为辅助工具,设计了应用于132(RGB)×176TFT LCD的栅驱动电路和数据驱动电路。依据132RGB×176TFT LCD的参数对电路进行了模拟,实现了小尺寸液晶屏的p SiTFT周... 根据N沟道和P沟道多晶硅薄膜晶体管(poly SiTFT)的特性,使用Orcad作为辅助工具,设计了应用于132(RGB)×176TFT LCD的栅驱动电路和数据驱动电路。依据132RGB×176TFT LCD的参数对电路进行了模拟,实现了小尺寸液晶屏的p SiTFT周边集成驱动电路的设计。 展开更多
关键词 tft-lcd 多晶硅薄膜晶体管 集成周边驱动电路 液晶显示 电路设计 栅驱动电路 数据驱动电路
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ARM芯片S3C2410驱动TFT-LCD的研究 被引量：26
6
作者 张义磊 安吉宇 +3 位作者 仲崇亮 任爽 于涛 孙铁铮 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期61-66,共6页
介绍了 S3C2410 的 LCD 控制器的数据和控制管脚,并给出了 LCD 的控制流程和TFT LCD的控制器设置规则。参照 TFT LCD CJM10C0101 的逻辑要求和时序要求设计了其驱动电路,设置了各主要LCD寄存器。开发了 CJM10C0101 在嵌入式 LINUX下的... 介绍了 S3C2410 的 LCD 控制器的数据和控制管脚,并给出了 LCD 的控制流程和TFT LCD的控制器设置规则。参照 TFT LCD CJM10C0101 的逻辑要求和时序要求设计了其驱动电路,设置了各主要LCD寄存器。开发了 CJM10C0101 在嵌入式 LINUX下的显示驱动程序,并在CJM10C0101上显示了清晰稳定的画面。实验表明这套装置通用性好,能驱动大部分的TFT LCD;可移植性强,经过少许修改即可应用在其他嵌入式系统中。它是 S3C2410驱动TFT LCD的一套较佳的解决方案。 展开更多
关键词 显示技术 tft-lcd LINUX驱动程序
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TFT-LCD基板玻璃化学组成的发展状况与展望 被引量：47
7
作者 田英良 张磊 +1 位作者 戴琳 程金树 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第6期1348-1352,1362,共6页
TFT-LCD基板玻璃是组成TFT-LCD的重要材料,其物理化学性能是由基板玻璃的化学组成来决定。文中介绍了典型商用TFT-LCD基板玻璃的化学组成及其物理化学性能,并对TFT-LCD基板玻璃的发展状况进行了展望。
关键词 tft-lcd 基板玻璃 化学组成
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基于自适应局部增强的手机TFT-LCD屏Mura缺陷自动检测 被引量：11
8
作者 廖苗 刘毅志 +3 位作者 欧阳军林 余建勇 肖文辉 彭理 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2018年第6期475-482,共8页
针对手机屏幕图像整体亮度不均以及Mura缺陷对比度低等特点,提出一种基于自适应局部增强的Mura缺陷自动在线检测方法。首先对CCD相机采集的手机屏幕原始图像进行感兴趣区域提取、几何校正、滤波等预处理,获取图像中的屏幕区域,然后将屏... 针对手机屏幕图像整体亮度不均以及Mura缺陷对比度低等特点,提出一种基于自适应局部增强的Mura缺陷自动在线检测方法。首先对CCD相机采集的手机屏幕原始图像进行感兴趣区域提取、几何校正、滤波等预处理,获取图像中的屏幕区域,然后将屏幕区域划分为多个不重叠的像素块,并根据每个像素块的灰度分布特征,采用自适应局部增强算法自动识别并定位图像中的Mura区域,最后考虑到Mura缺陷大小的不确定,提出采用多层级分块的方式对屏幕区域进行检测,提高算法鲁棒性。实验结果表明,相较现有多种屏幕缺陷自动检测算法,本文方法能更准确有效地识别手机屏幕中的Mura缺陷,且覆盖率和误检率分别为91.17%和5.84%。 展开更多
关键词 tft-lcd屏 Mura 图像增强 缺陷检测
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一种TFT-LCD Vertical Block Mura的研究与改善 被引量：26
9
作者 吴洪江 王威 龙春平 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2007年第4期433-439,共7页
在TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)以及其他显示器件产品中,Mura是一种比较常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质。文章结合生产工艺的实际情况,采用MM,CD,EPM,SEM,FIB等检测设备,对一种Vertical Block... 在TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)以及其他显示器件产品中,Mura是一种比较常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质。文章结合生产工艺的实际情况,采用MM,CD,EPM,SEM,FIB等检测设备,对一种Vertical Block Mura进行了大量的实验测试、数据分析和理论研究工作,特别是对其产生的原因创新性地提出了两种方向上的理论观点。通过加强设备科学管理监控,减小耦合电容效应等一系列改善措施,产品质量得到了很大程度的提升,Vertical Block Mura从改善前的26.1%降到了1.3%,从而使Vertical Block Mura得以改善,很大程度地提高了产品的品质,并为今后相关问题的进一步研究和解决奠定了一定的理论基础。 展开更多
关键词 tft-lcd Mura 抖动 耦合电容 画面品质
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基于TFT-LCD&ARM&FPGA的触摸手持式存储示波表 被引量：9
10
作者 胡必武 宋跃 +2 位作者 胡升平 雷瑞庭 余炽业 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2008年第1期112-117,共6页
介绍一种LPC2220+IS61LV256+STT39VF1601+ISP1581组成ARM控制部分,完成显示数据的处理和对FPGA的控制,AD9283与EP1C6Q240FPGA芯片完成数据采集的智能控制,USB2.0实现与PC通信,由CPLD+SRAM来完成TFT驱动和显示控制,用C/C++语言实现TFT仪... 介绍一种LPC2220+IS61LV256+STT39VF1601+ISP1581组成ARM控制部分,完成显示数据的处理和对FPGA的控制,AD9283与EP1C6Q240FPGA芯片完成数据采集的智能控制,USB2.0实现与PC通信,由CPLD+SRAM来完成TFT驱动和显示控制,用C/C++语言实现TFT仪器界面设计,显示的刷新频率为60Hz,运用实时与等效采样原理,实现双通道实时采样100MHz,等效采样5GHz的手持式存储示波表的设计思想和实现方案。该设计在数据处理功能不降低的情况下,有结构简单,价格低,可以分多层实现文字和图像的静态和动态显示的特点。实验表明该设计控制灵活可靠,能够实现对液晶的时序和控制功能。文中在介绍系统设计思想的同时,重点讲述FPGA/CPLD设计、软件设计等。 展开更多
关键词 存储示波表 嵌入式系统 FPGA tft-lcd
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基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法 被引量：10
11
作者 卢小鹏 李辉 +2 位作者 刘云杰 梁平 李坤 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2014年第1期146-151,共6页
针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓... 针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓曲线内、外部区域之间的亮度差项,提高了分割准确性。在数值实现上,采用无条件稳定的半隐差分格式,适当加大步长,加速曲线演化过程,相比于有限差分格式和AOS格式,分割速度明显提高。实验结果表明,本文提出的算法能够准确地分割背景不均匀的Mura缺陷图像,并且分割速度快。 展开更多
关键词 Chan—Vese模型 tft-lcd Mura缺陷 水平集 半隐差分格式
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TFT-LCD基板玻璃的研究与发展 被引量：15
12
作者 韩建军 吴孟鸣 +3 位作者 汤何锐 王静 谢俊 刘超 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 北大核心 2017年第12期4078-4083,共6页
无碱铝硼硅酸盐玻璃因为其优越的理化性能作为TFT-LCD面板理想的基板材料。详细介绍了TFT-LCD基板玻璃组成发展历史和工艺流程,并对TFT-LCD基板玻璃采用狭缝下引法、浮法以及熔融溢流法三种成形技术的特点与应用状况进行分析比较;最后... 无碱铝硼硅酸盐玻璃因为其优越的理化性能作为TFT-LCD面板理想的基板材料。详细介绍了TFT-LCD基板玻璃组成发展历史和工艺流程,并对TFT-LCD基板玻璃采用狭缝下引法、浮法以及熔融溢流法三种成形技术的特点与应用状况进行分析比较;最后阐述了无碱铝硼硅系统玻璃的研究现状及进展,总结了SiO_2-Al_2O_3-B_2O_3-RO(R=Mg、Ca、Sr、Ba)系统玻璃各组成对结构、性能的影响。 展开更多
关键词 tft-lcd 玻璃成形 组成 性能
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废TFT-LCD面板中主要元素溶出特性 被引量：8
13
作者 杨东梅 郭玉文 +2 位作者 乔琦 张建强 刘景洋 《环境科学研究》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第4期431-435,共5页
以废TFT-LCD面板破碎料为研究对象,在使用XRF(X射线荧光光谱分析仪)分析其主要元素组成以及采用ICP-AES测试不同酸体系下主要元素浓度的基础上,研究了不同酸体系下主要元素的溶出特性.结果表明:废TFT-LCD面板由Si、Al、Sr和In等10余种... 以废TFT-LCD面板破碎料为研究对象,在使用XRF(X射线荧光光谱分析仪)分析其主要元素组成以及采用ICP-AES测试不同酸体系下主要元素浓度的基础上,研究了不同酸体系下主要元素的溶出特性.结果表明:废TFT-LCD面板由Si、Al、Sr和In等10余种元素组成,其主要组成元素在不同酸体系下的溶出特性存在明显差异,这与其赋存形态有密切关系.In在各种酸体系下溶出浓度变化较小,为2.83～3.06 mg/L.Fe的溶出特性与In相似,是主要伴随离子.Al和Sr易在浓盐酸体系下溶出.As在含有浓硝酸的体系下溶出率较高,最高溶出率为100%,而在无浓硝酸体系下的溶出率最低值仅为2.93%.Zn、Ti、Cu、Sn和Cr在各酸体系下的溶出浓度均较低(均低于1 mg/L),不宜回收. 展开更多
关键词 废tft-lcd 面板 ICP-AES 溶出特性
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SXGA TFT-LCD驱动电路的设计 被引量：9
14
作者 杨虹 凌志华 +3 位作者 王刚 唐志勇 黄锡珉 金圣经 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2000年第4期268-272,共5页
文中详细分析了一种分辨率为 ＳＸＧＡ的液晶显示器驱动电路的设计概要，介绍了其所 使用的驱动方法——三级电压驱动方法、数据驱动器和扫描驱动器的结构及其功能，对在驱动中的 灰度级产生方法进行了分析。并阐述了电路中电磁干扰（... 文中详细分析了一种分辨率为 ＳＸＧＡ的液晶显示器驱动电路的设计概要，介绍了其所 使用的驱动方法——三级电压驱动方法、数据驱动器和扫描驱动器的结构及其功能，对在驱动中的 灰度级产生方法进行了分析。并阐述了电路中电磁干扰（ＥＭＩ）的解决方法，对接口中所应用的 ＬＶＤＳ技术进行了说明。 展开更多
关键词 SXGA 液晶显示屏 tft-lcd 驱动电路
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基于二维DFT的TFT-LCD平板表面缺陷检测 被引量：21
15
作者 张腾达 卢荣胜 张书真 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2016年第3期7-15,共9页
为了检测TFT-LCD平板表面缺陷,搭建了自动光学检测(AOI)实验系统,提出了一种基于二维DFT的缺陷检测算法。通过霍夫变换(HT)检测到代表线状纹理的高能量频域直线,将位于直线邻域内的频率成分置0,再经过二维IDFT进行空间域图像重构,来移... 为了检测TFT-LCD平板表面缺陷,搭建了自动光学检测(AOI)实验系统,提出了一种基于二维DFT的缺陷检测算法。通过霍夫变换(HT)检测到代表线状纹理的高能量频域直线,将位于直线邻域内的频率成分置0,再经过二维IDFT进行空间域图像重构,来移除方向性线状纹理背景,最后经过简单的阈值算法将缺陷从背景中提取出来。在对高能量频域直线的斜角计算时,利用数学统计解决了如何自动选取频域中高能量阈值以及如何从斜角直方图中自动提取各个峰值点这两个关键问题。在重构图像时,在以傅里叶频谱中心为圆心的圆环内,设置圆环内的频率成分不变,很好地保护了方向接近方向纹理的缺陷不被移除。实验结果表明,对包含纤维、污点和划痕的TFT-LCD平板表面缺陷,检测结果完全正确,证明了该检测算法具有良好的实用性与鲁棒性。 展开更多
关键词 tft-lcd 缺陷检测 二维DFT 线状纹理 霍夫变换
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MATLAB在TFT-LCD屏显示MURA缺陷检测的应用 被引量：10
16
作者 刘毅 郑学仁 +1 位作者 王亚南 梁志明 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2007年第6期731-736,共6页
提出一种以MATLAB为主要工具的TFT-LCD屏显示缺陷检测方案,该方案根据CMOS工业摄像机采集到的数字图像,结合二维图像拟合技术和以韦伯定律为原理的自动阈值获取技术,使用MATLAB作为数字图像分析工具实现对屏幕缺陷的检测。介绍了该方案... 提出一种以MATLAB为主要工具的TFT-LCD屏显示缺陷检测方案,该方案根据CMOS工业摄像机采集到的数字图像,结合二维图像拟合技术和以韦伯定律为原理的自动阈值获取技术,使用MATLAB作为数字图像分析工具实现对屏幕缺陷的检测。介绍了该方案的硬件组成和检测原理,给出了MATLAB算法流程和部分代码、介绍了GUI检测界面的设计和详细的检测步骤及结果,为TFT-LCD液晶屏显示缺陷的检测提供了一种快速有效的方法。 展开更多
关键词 tft-lcd MURA MATLAB 缺陷检测
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新型TFT-LCD柱状隔垫物的形变研究 被引量：7
17
作者 于涛 陈晟 +2 位作者 储培鸣 郑永亮 申剑锋 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2012年第4期445-447,共3页
介绍了一种可应用于大尺寸TFT-LCD的新型柱状隔垫物(photo-spacer)材料。与已经量产的材料相比,该材料具有更高的弹性恢复率和外压形变承受能力。在相同生产条件下的对比实验显示,该材料经过230℃加热20min柱高的缩小率为3.04%,具有较... 介绍了一种可应用于大尺寸TFT-LCD的新型柱状隔垫物(photo-spacer)材料。与已经量产的材料相比,该材料具有更高的弹性恢复率和外压形变承受能力。在相同生产条件下的对比实验显示,该材料经过230℃加热20min柱高的缩小率为3.04%,具有较好的热稳定性。机械性能评价结果显示,摩擦压力对于Spacer柱高没有太大的影响。 展开更多
关键词 tft-lcd 柱状隔垫物 彩膜 恢复率
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基于TFT-LCD的多路实时采集显示系统研究 被引量：5
18
作者 杨光义 尹佳琪 +3 位作者 王雪迪 胡康 王岚 滕陈轲敏 《实验室研究与探索》 CAS 北大核心 2015年第6期150-154,共5页
随着电子技术的发展,TFT-LCD在嵌入式系统中得到了广泛的应用。系统使用7寸TFT-LCD配合单片机PIC18F4520实现多路输入电压的实时采集系统,并最终在TFT-LCD上动态显示多路电压的变化曲线,视觉效果良好。系统设置了信号调理模块,扩大了输... 随着电子技术的发展,TFT-LCD在嵌入式系统中得到了广泛的应用。系统使用7寸TFT-LCD配合单片机PIC18F4520实现多路输入电压的实时采集系统,并最终在TFT-LCD上动态显示多路电压的变化曲线,视觉效果良好。系统设置了信号调理模块,扩大了输入电压的动态范围,可以适应各种不同的输入电压范围。 展开更多
关键词 tft-lcd 单片机 实时采集 动态范围
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TFT-LCD切割裂片工艺参数探讨 被引量：32
19
作者 李亚利 张方辉 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2006年第1期43-47,共5页
研究了TFT—LCD切割裂片的原理，以及刀轮角度、切割压力、下压量等工艺参数对切割质量的影响。采用120°和130°两种不同角度的刀轮在切割速度300mm／s、刀轮下压量0．14mm的条件下进行切割，发现120°刀轮的切割深度比130... 研究了TFT—LCD切割裂片的原理，以及刀轮角度、切割压力、下压量等工艺参数对切割质量的影响。采用120°和130°两种不同角度的刀轮在切割速度300mm／s、刀轮下压量0．14mm的条件下进行切割，发现120°刀轮的切割深度比130°刀轮的要大5～10μm；当切割压力一定时，切割深度随下压量的增加而增加。在同样条件下，120°刀轮在切割压力为0．18MPa时出现横向微裂纹，130°刀轮在0．28MPa的切割压力下出现横向裂纹；可见刀轮角度越小，越容易出现横向裂纹。实验结果表明，压力是影响横向微裂纹产生的主要因素，而刀轮下压量对横向裂纹的产生没有太大影响。 展开更多
关键词 tft-lcd 刀轮角度 下压量 切割压力
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