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基于扩展频谱时域反射原理的电容反射波特性及容值估算方法
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作者 成庶 张多 +2 位作者 刘畅 向超群 吕壮壮 《电工技术学报》 北大核心 2025年第4期1156-1168,共13页
电容是电力电子领域的核心元件,在多种应用场合都发挥着重要作用。基于此,该文提出一种利用扩展频谱时域反射原理估算电容容值的方法,根据注入信号与反射信号所做出的互相关波形,发现信号种类、信号频率、互相关系数峰值大小、互相关系... 电容是电力电子领域的核心元件,在多种应用场合都发挥着重要作用。基于此,该文提出一种利用扩展频谱时域反射原理估算电容容值的方法,根据注入信号与反射信号所做出的互相关波形,发现信号种类、信号频率、互相关系数峰值大小、互相关系数峰值对应时延4个特征参数与容值的映射关系显著,并以上述4个特征参数作为输入,建立基于遗传算法(GA)-BP神经网络的容值估算模型。结果表明,随着信号码长的增加,信号互相关系数图像旁瓣值越小,相关特性越好;信号频率通过影响电容的特征阻抗,进而影响信号的互相关波形;互相关系数峰值所对应时延与容值呈严格正相关趋势。同时,相较于传统的BP神经网络模型,GA优化后的模型误差减少了28.32%,估算精度在99%以上,精度高于传统BP神经网络模型,适合更好地挖掘各特征参数与容值之间的映射关系。 展开更多
关键词 多层陶瓷电容(MLCC) 容值估算 扩展频谱时域反射法 遗传算法(GA)-BP 神经网络
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外场作用下BME MLCC陶瓷-金属界面行为研究
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作者 刘信 孟智超 +1 位作者 万永康 虞勇坚 《电子元件与材料》 北大核心 2025年第4期441-445,共5页
贱金属多层陶瓷电容器(BME MLCC)是电子产品中使用量极大的电子元件,其向小型化、宽温区、高比容方向发展时,陶瓷-金属界面存在热失配、化学兼容性差、界面结合强度低等问题。以BME MLCC陶瓷-金属界面行为作为研究对象,通过高加速寿命... 贱金属多层陶瓷电容器(BME MLCC)是电子产品中使用量极大的电子元件,其向小型化、宽温区、高比容方向发展时,陶瓷-金属界面存在热失配、化学兼容性差、界面结合强度低等问题。以BME MLCC陶瓷-金属界面行为作为研究对象,通过高加速寿命试验模拟应用环境对BME MLCC的影响,采用透射电子显微镜(TEM)、能谱分析(EDS)、X射线光电子能谱(XPS)对高加速寿命试验前后的BME MLCC样品进行微观表征,研究了温度应力和电应力对BME MLCC陶瓷-金属界面行为的影响。结果表明,高加速寿命试验后,陶瓷-金属界面晶格畸变程度增大了5.93%,陶瓷介质O_(V)/O_(L)值增长了68.71%。温度应力和电应力会加速BME MLCC陶瓷-金属界面处元素的扩散,并导致陶瓷介质氧空位增多、钙钛矿结构晶格畸变程度加剧。 展开更多
关键词 BME MLCC 界面 扩散 晶格畸变
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Ho元素调控“芯-壳”结构超薄层MLCC介电性能和可靠性研究
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作者 蔡振灏 赵一凡 +4 位作者 张蕾 于杰 曹秀华 付振晓 孙蓉 《现代技术陶瓷》 2025年第5期470-483,共14页
随着电子器件微型化的发展,片式多层陶瓷电容器(MLCC)作为核心电子元件,其超薄层化进程中的介电性能和可靠性提升成为关键挑战。本研究通过“芯-壳”结构精准调控,实现了超薄层MLCC中BaTiO3基陶瓷介质层性能的改善。研究表明,Ho掺杂浓... 随着电子器件微型化的发展,片式多层陶瓷电容器(MLCC)作为核心电子元件,其超薄层化进程中的介电性能和可靠性提升成为关键挑战。本研究通过“芯-壳”结构精准调控,实现了超薄层MLCC中BaTiO3基陶瓷介质层性能的改善。研究表明,Ho掺杂浓度的调节能有效调控“芯-壳”结构特征,从而系统优化MLCC的介电性能和可靠性。当Ho掺杂量达到1.5 mol%时,壳层浓度显著提升,材料表现出优异的介电性能:常温介电常数达3820,介电损耗低于2.0%,且在-55℃至100℃温度区间内表现出优异的温度稳定性,容温系数变化不超过15%。值得注意的是,当Ho掺杂量增至2 mol%时,壳层厚度增加导致“芯-壳”比例改变使介电性能降低,但材料的绝缘电阻得到显著提升,整体可靠性获得增强。本研究系统阐明了Ho掺杂浓度、“芯-壳”结构特征与材料性能间的构效关系,为超薄层MLCC介质材料的结构设计和性能优化提供了重要的理论指导和实验基础。这些发现对推动新一代高性能MLCC的发展具有重要的科学意义和应用价值。 展开更多
关键词 MLCC 芯-壳结构 介电性能 可靠性 X5R
原文传递
MLCC烧结工艺发展及其对产品性能的影响
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作者 陈旭锐 黄兴高 曾福林 《印制电路资讯》 2025年第5期47-54,共8页
本文介绍了MLCC烧结的基本原理、关键设备及工艺流程,采用DOE方法深入分析了烧结工艺参数对产品性能的影响机制。通过引入先进的表征技术,对烧结过程中内应力演变规律进行定量研究,成功识别出影响产品性能与应力的关键控制因素。研究成... 本文介绍了MLCC烧结的基本原理、关键设备及工艺流程,采用DOE方法深入分析了烧结工艺参数对产品性能的影响机制。通过引入先进的表征技术,对烧结过程中内应力演变规律进行定量研究,成功识别出影响产品性能与应力的关键控制因素。研究成果不仅为规模化生产中的工艺稳定性控制提供了科学依据,同时为MLCC产品的结构设计、工艺优化及原材料选择等环节提供了重要的技术支撑,对提升MLCC产品的性能稳定性具有显著的指导价值。 展开更多
关键词 MLCC 烧结工艺 DOE 内应力表征 工艺优化 产品性能 生产稳定
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镍电极MLCC排胶后残碳量及其电性能研究
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作者 蒋晋东 易凤举 +1 位作者 陈沫言 程淇俊 《电子与封装》 2025年第1期77-82,共6页
多层陶瓷电容(MLCC)固有的坯体有机物残留导致产品可靠性低,其主要原因是排胶不充分。通过改变排胶工序的不同工艺条件,使用硫碳分析仪对排胶后坯体残碳量进行量化,结合破坏性物理分析、扫描电镜对烧成后的产品进行结构分析,并对成品进... 多层陶瓷电容(MLCC)固有的坯体有机物残留导致产品可靠性低,其主要原因是排胶不充分。通过改变排胶工序的不同工艺条件,使用硫碳分析仪对排胶后坯体残碳量进行量化,结合破坏性物理分析、扫描电镜对烧成后的产品进行结构分析,并对成品进行电性能测试,探索残碳量与成品的电极连续性、电性能及可靠性之间的联系。结果表明通过增大气体交换、降低排胶升温速率、延长保温时间等手段可有效降低排胶后的残碳量,烧成MLCC的内电极连续性变得更好,容量和击穿电压等电性能数据得到提升,介质层变得更致密,使用寿命延长。所探讨的测定排胶充分性以及增加排胶充分性的方法可为MLCC工业生产中的排胶作业提供参考。 展开更多
关键词 MLCC 残碳量 排胶 电极连续性 电性能
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论MLCC国产化的重要性
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作者 冯旭 《机电元件》 2025年第4期49-52,共4页
多层片式陶瓷电容器(Multilayer Ceramic Capacitor,MLCC),因为类似独石的结构体,也称为“独石电容器”。随着电容小型化、大容量的趋势发展,电容的规格越来越极限,设计余量也越来越小,MLCC也相应向高温、高压、高可靠性、高比容发展。M... 多层片式陶瓷电容器(Multilayer Ceramic Capacitor,MLCC),因为类似独石的结构体,也称为“独石电容器”。随着电容小型化、大容量的趋势发展,电容的规格越来越极限,设计余量也越来越小,MLCC也相应向高温、高压、高可靠性、高比容发展。MLCC国产化的研发与生产打破了国外垄断的现象,本文介绍MLCC在我国研发过程和其重要性。 展开更多
关键词 MLCC 高集成度
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砂磨工艺对镍电极多层瓷介电容器性能及可靠性的影响
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作者 张鸿军 易凤举 何云飞 《电子元件与材料》 北大核心 2025年第5期593-598,共6页
通过调整瓷浆料砂磨次数,制备了三组致密性不同的镍电极多层瓷介电容器(BME-MLCC)。研究了砂磨次数引起的瓷体致密性差异对BME-MLCC电性能和可靠性的影响。借助扫描电子显微镜(SEM)、比表面积测试仪及碳硫分析仪等手段,分析了瓷体致密... 通过调整瓷浆料砂磨次数,制备了三组致密性不同的镍电极多层瓷介电容器(BME-MLCC)。研究了砂磨次数引起的瓷体致密性差异对BME-MLCC电性能和可靠性的影响。借助扫描电子显微镜(SEM)、比表面积测试仪及碳硫分析仪等手段,分析了瓷体致密性、晶粒尺寸、气孔分布等微观结构差异对BME-MLCC电性能和可靠性的影响。结果表明,砂磨次数引起的瓷体致密性过度稀疏或过度紧密都将降低BME-MLCC的电性能和可靠性。当砂磨次数为14次时,瓷体端面和内部结构紧密程度最为适中,电性能最为集中和稳定,可靠性最佳。 展开更多
关键词 砂磨次数 MLCC 致密性 电性能 可靠性
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BaTiO_3基介质瓷料的抗还原性及其缺陷化学 被引量:3
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作者 刘波 庄志强 苏瑫珑 《材料导报》 EI CAS CSCD 2004年第6期19-21,共3页
多层陶瓷电容器(MLCCs)体现了电子元器件小型化、复合化、低成本、高可靠性的发展趋势。BME(BaseMetal Electrode)技术的发展促进了 Ni 内电极 MLCCs 的生产和应用。为了适应贱金属 Ni 内电极 MLCCs 还原气氛烧结需要,对介质瓷料提出了... 多层陶瓷电容器(MLCCs)体现了电子元器件小型化、复合化、低成本、高可靠性的发展趋势。BME(BaseMetal Electrode)技术的发展促进了 Ni 内电极 MLCCs 的生产和应用。为了适应贱金属 Ni 内电极 MLCCs 还原气氛烧结需要,对介质瓷料提出了抗还原性要求,使其具有高的绝缘电阻率和长的工作寿命。综述了 BaTiO_3 基介质瓷料的抗还原性措施,涉及电子缺陷浓度的降低以及氧空位缺陷迁移的抑制,并利用缺陷化学阐述了其 A 位施主和 B 位受主掺杂的改性机理。 展开更多
关键词 钛酸钡 多层陶瓷电容器 贱金属内电极 还原气氛 缺陷化学 掺杂 mlccs
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薄介质MLCC的一种常见缺陷及其制备工艺优化
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作者 邓丽云 陈长云 邱小灵 《电子工艺技术》 2025年第3期60-62,共3页
MLCC在实际使用中发生的失效,除了常见的电应力失效之外,大部分情况是MLCC自身存在缺陷。其中薄介质MLCC的内电极堆积为影响其可靠性的常见问题,多为生产制程和过程管控不稳定导致出现部分内电极层堆积,引起电极的绝缘下降,影响了产品... MLCC在实际使用中发生的失效,除了常见的电应力失效之外,大部分情况是MLCC自身存在缺陷。其中薄介质MLCC的内电极堆积为影响其可靠性的常见问题,多为生产制程和过程管控不稳定导致出现部分内电极层堆积,引起电极的绝缘下降,影响了产品的可靠性能。对薄介质MLCC常见的内电极堆积问题和多层陶瓷电容器制备工艺深入开展了讨论与分析,并提出了相应的改善方案和预防措施。 展开更多
关键词 薄介质 MLCC 缺陷 内电极 堆积 制备工艺
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气浮式烘箱膜带表面流场特性的仿真研究
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作者 郭家豪 孙强 +4 位作者 胡建 王霞 刘鸿磊 孔松涛 王堃 《重庆科技大学学报(自然科学版)》 2025年第5期18-26,共9页
流延工艺是制造多层陶瓷电容器的核心步骤之一,其关键是通过流延机将陶瓷浆料成型为均匀、规定厚度的薄膜。在流延生产线上,烘箱在溶剂挥发、应力控制和结构定型等方面起到非常重要的作用,烘箱的温度控制效果直接影响薄膜的质量。为此,... 流延工艺是制造多层陶瓷电容器的核心步骤之一,其关键是通过流延机将陶瓷浆料成型为均匀、规定厚度的薄膜。在流延生产线上,烘箱在溶剂挥发、应力控制和结构定型等方面起到非常重要的作用,烘箱的温度控制效果直接影响薄膜的质量。为此,以某工程所用气浮式烘箱为研究对象,利用计算流体力学方法,对烘箱内部流场进行数值仿真,定量分析膜带表面流场的均匀性。针对膜带表面风速不均的现象,对气浮式烘箱的风室、风嘴结构设计进行优化。通过热风速度评估烘箱的烘干特性,得到最优风嘴出风口角度和送风高度,并分析了热风入口与回风口的压强差对最大风速的影响。 展开更多
关键词 MLCC 气浮式烘箱 CFD 均匀性 结构优化
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MLCC失效机理分析与可靠性提升方法研究
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作者 王静 孙慧楠 +2 位作者 程淇俊 郑增伟 易凤举 《日用电器》 2025年第4期74-79,共6页
本文深入剖析多层片式陶瓷电容器(Multi-layer Ceramic Capacitor,英文缩写MLCC)的失效问题,通过对其失效机理、常见失效模式及影响因素的研究,运用多种分析手段对失效样品进行全面检测,旨在为提高MLCC可靠性提供理论依据和实践指导。... 本文深入剖析多层片式陶瓷电容器(Multi-layer Ceramic Capacitor,英文缩写MLCC)的失效问题,通过对其失效机理、常见失效模式及影响因素的研究,运用多种分析手段对失效样品进行全面检测,旨在为提高MLCC可靠性提供理论依据和实践指导。研究发现,电应力、热应力、机械应力以及环境因素是导致MLCC失效的关键因素,而通过优化材料、改进制造工艺和加强应用管理等措施,可有效降低其失效风险。 展开更多
关键词 MLCC 陶瓷电容器 失效分析 可靠性 环境应力
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LED灯条显示屏啸叫的成因与抑制研究
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作者 姜玲玲 《电声技术》 2025年第11期154-156,166,共4页
基于实验拆解、材料特性分析,对发光二极管(Light Emitting Diode,LED)灯条显示屏啸叫机理进行系统研究。研究发现,该啸叫声的根本原因在于多层陶瓷电容器(Multi-Layer Ceramic Capacitor,MLCC)的电致伸缩,即电容在交变电场作用下发生... 基于实验拆解、材料特性分析,对发光二极管(Light Emitting Diode,LED)灯条显示屏啸叫机理进行系统研究。研究发现,该啸叫声的根本原因在于多层陶瓷电容器(Multi-Layer Ceramic Capacitor,MLCC)的电致伸缩,即电容在交变电场作用下发生微小机械形变,进而通过印制线路板(Printed Circuit Board,PCB)的弹性结构耦合并经型材腔体放大而产生可听声。在此基础上,进一步探讨基于电路优化、元器件替代以及结构设计改进的多维度抑制策略。研究结果不仅揭示了LED灯条啸叫的本质机理,而且为后续相关产品的低噪声设计提供了理论依据和工程指导。 展开更多
关键词 灯条显示屏 啸叫 多层陶瓷电容器(MLCC) 压电效应 噪声抑制
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导致MLCC失效的常见微观机理 被引量:21
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作者 李世岚 包生祥 +1 位作者 彭晶 马丽丽 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2007年第5期58-61,共4页
多层陶瓷电容器(MLCC)在实际使用过程中,电参数会发生不同程度的偏离,降低了可靠性,直到MLCC失效。其失效原因可分为外部因素和内在因素,分析讨论了影响MLCC可靠性的内在因素——MLCC内部分层、导电粒子、金属离子迁移和介电老化等常见... 多层陶瓷电容器(MLCC)在实际使用过程中,电参数会发生不同程度的偏离,降低了可靠性,直到MLCC失效。其失效原因可分为外部因素和内在因素,分析讨论了影响MLCC可靠性的内在因素——MLCC内部分层、导电粒子、金属离子迁移和介电老化等常见微观失效机理,并提出了主要应对措施。 展开更多
关键词 电子技术 MLCC 失效分析 内在因素 微观机理
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多层陶瓷电容器技术现状及未来发展趋势 被引量:39
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作者 杨邦朝 冯哲圣 卢云 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2001年第6期17-19,共3页
介绍了MLCC在容量提高、产品小型化和集成化、电极贱金属化等方面最新的技术动态和发展趋势,指出了未来MLCC的关键技术在于微细粉体的处理,超薄(≤1 mm)生坯的制备,精密切割技术及贱金属电极的研制开发。
关键词 多层陶瓷电容器 现状 发展趋势 MLCC 小型化 集成化
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MLCC内电极用超细镍粉的制备进展 被引量:7
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作者 白柳杨 袁方利 +2 位作者 阎世凯 胡鹏 李晋林 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2006年第10期6-9,共4页
介绍了超细镍粉在MLCC中的应用进展,针对MLCC内电极用镍粉的性能要求,详细地综述了相关超细镍粉的几种制备方法,包括液相还原法、喷雾热解法、等离子法、气相法和固相分解法等。最后,对MLCC内电极用超细镍粉的发展方向作了展望。
关键词 电子技术 超细镍粉 综述 MLCC 制备 应用
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软化学法制备钛酸钡粉体的研究进展 被引量:23
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作者 王辉 崔斌 +1 位作者 畅柱国 王小芳 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第5期773-776,共4页
本文着重讨论了一些软化学法制备钛酸钡粉体的工艺特点、反应机理及应用前景 ,并对溶胶
关键词 软化学法 钛酸钡粉体 制备 溶胶-凝胶法 PTC材料 MLCC材料 BaTi03 电子陶瓷
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两步还原法制备MLCC电极用超细铜粉 被引量:8
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作者 胡敏艺 王崇国 +1 位作者 周康根 徐锐 《材料科学与工艺》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第4期539-543,共5页
为了制备MLCC电极用超细铜粉,克服CuSO4直接水合肼还原法制备的铜粉存在粒度分布不均匀、振实密度小的问题,提出了两步液相还原新工艺,即以CuSO4溶液为原料,首先采用NaOH沉淀-葡萄糖预还原制备Cu2O,然后用水合肼还原Cu2O制备超细铜粉.... 为了制备MLCC电极用超细铜粉,克服CuSO4直接水合肼还原法制备的铜粉存在粒度分布不均匀、振实密度小的问题,提出了两步液相还原新工艺,即以CuSO4溶液为原料,首先采用NaOH沉淀-葡萄糖预还原制备Cu2O,然后用水合肼还原Cu2O制备超细铜粉.针对实现铜晶体的成核与长大过程的分离,研究了水合肼加入方式对铜粉性能的影响,发现较慢的水合肼滴加速度和将水合肼还原Cu2O阶段分为升温均匀成核与水合肼连续滴加长大两个过程有利于得到粒度均匀的铜粉.在最佳试验条件下制得的铜粉呈类球形,粒度分布均匀,分散性好,平均粒径为1.8μm,振实密度达4.2g/ml. 展开更多
关键词 MLCC 铜粉 液相还原 制备
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多层片式陶瓷电容器容量命中率的研究 被引量:8
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作者 张启龙 杨辉 +1 位作者 王家邦 魏文霖 《材料科学与工程》 CSCD 北大核心 2003年第1期72-75,共4页
多层片式陶瓷电容器 (MLCC)容量命中率低是生产中普遍存在的问题。本文通过微观结构、金属层和介质层厚度、以及工序因素分析 ,探讨了引起MLCC容量分散的主要原因 ,提出了工序中应控制的因素 ,为MLCC生产过程控制、提高容量命中率提供... 多层片式陶瓷电容器 (MLCC)容量命中率低是生产中普遍存在的问题。本文通过微观结构、金属层和介质层厚度、以及工序因素分析 ,探讨了引起MLCC容量分散的主要原因 ,提出了工序中应控制的因素 ,为MLCC生产过程控制、提高容量命中率提供了依据。 展开更多
关键词 多层片式陶瓷电容器 容量 微观结构 命中率 MLCC
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