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一种容软错误的BIST结构 被引量：9
1
作者 黄正峰 梁华国 +2 位作者 陈田 詹文法 孙科 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2009年第1期33-36,43,共5页
针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要原因,提出一种容软错误的BIST结构——FT-CBILBO.该结构对并发内建逻辑块观察器进行改进,通过对多输入特征寄存器进行功能复用,构建双模冗余的容错微结构,并且能有效地降... 针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要原因,提出一种容软错误的BIST结构——FT-CBILBO.该结构对并发内建逻辑块观察器进行改进,通过对多输入特征寄存器进行功能复用,构建双模冗余的容错微结构,并且能有效地降低开销;在触发器输出端插入C单元,可有效地针对单事件翻转进行防护,阻塞瞬态故障引发的软错误.在UMC0.18μm工艺下的实验结果表明,FT-CBILBO面积开销为28.37%～33.29%,性能开销为4.99%～18.20%. 展开更多
关键词 软错误 并发内建逻辑块观察器 功能复用 C单元
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基于内建自测的软错误与老化在线检测 被引量：1
2
作者 杨叔寅 秦晨飞 +1 位作者 黄正峰 梁华国 《计算机工程》 CAS CSCD 2012年第8期235-238,共4页
负偏置温度不稳定性为主的老化会造成时序违规故障及软错误故障。为此,提出软错误与老化在线检测器(SEAOS)。在器件正常工作的情况下,在线检测上述2种故障。复用并发内建逻辑块观察器,使得硬件开销不超过30%。实验结果表明,在0.18μm工... 负偏置温度不稳定性为主的老化会造成时序违规故障及软错误故障。为此,提出软错误与老化在线检测器(SEAOS)。在器件正常工作的情况下,在线检测上述2种故障。复用并发内建逻辑块观察器,使得硬件开销不超过30%。实验结果表明,在0.18μm工艺尺寸下,与经典检测结构相比,SEAOS有较好的检测能力,且硬件开销较少。 展开更多
关键词 软错误与老化在线检测器 老化 单事件翻转故障 复用 负偏置温度不稳定性 内建逻辑块观察器
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