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大规模集成电路单粒子闭锁辐射效应测试系统 被引量：11
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作者 贺朝会 耿斌 +1 位作者 李永宏 惠卫东 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第6期724-728,共5页
根据CMOS器件单粒子闭锁机理,以CMOS存储器和80C86微处理器为对象,研制了单粒子闭锁辐射效应测试系统,并进行了初步的实验验证。实验结果表明,应用程序界面友好,使用方便,可用于多种辐射源下半导体器件单粒子闭锁效应的测试。
关键词 单粒子闭锁 CMOS存储器 80c86微处理器
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