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系统LSI中存储器的测试方法
1
作者 林 《电子测试》 1998年第6期12-14,共3页
系统LSI的存储器测试技术有直接存储器访问测试、高速直接存储器访问测试及内置自测试,几种方式各有优缺点,最好能加以组合应用。
关键词 系统LSI 存储器 测试 大规模集成电路
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