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快闪存储器及测试编程技术
1
作者 栗学忠 谭伟 《微处理机》 2000年第1期10-12,共3页
快闪存储器日益广泛地应用于电子装置上 ,严格测试其逻辑功能和电参数十分必要。文章首先简单介绍 FL ASH的工作原理 ,然后叙述对这类器件进行数据编程的测试技术以及交流参数测试方法。
关键词 快闪存储器 功能测试 编程 EPROM E^2PROM
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EPROM测试程序的设计
2
作者 尹轩 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 1992年第9期17-19,共3页
概述EPROM的原理及其测试步骤。介绍如何使用学习法在SENTRY-VII上生成可测试多种EPROM的测试图形。
关键词 EPROM 测试 程序设计
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E^2PROM的测试技术
3
作者 杨筱莉 《微处理机》 1993年第1期26-28,共3页
通常 E^2PROM 的测试需要大量的图形和较长的测试时间。本文以2817A为例,介绍用 DIC-8032测试系统在 E^2PROM 测试中,如何将测试方法与测试技巧结合起来,优化测试图形,以达到用最短的写入时间,最少的擦写次数完成其全功能的测试。
关键词 E^2PROM 测试系统 只读存储器
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测试系统数据保护的一种方法：如何用软件提高EEPROM2864存储？…
4
作者 吕田有 孙燕华 《测试技术学报》 1998年第2期230-234,共5页
本文介绍在测试系统中采集数据时，使用ＥＥＰＲＯＭ２８６４存储数据防止数据破坏的一种方法，即把需存储数据分固定数据和动态数据两类，采用一组数据存几份，然后在同数据时通过举手表决得出未被破坏的数据。该方法具有实用价值。
关键词 电擦除 可编程 只读存储器 测试系统 数据保护
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IBM—PC微机ROM测试程序的分析与应用
5
作者 张荣清 《电脑应用时代》 1990年第2期30-38,共9页
关键词 微机 ROM 测试程序
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