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便携式通用TTL数字设备诊断测试系统PORTest的设计与实现
1
作者 王东霞 陈书明 窦文华 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 1997年第8期30-32,共3页
本文介绍了便携式通用ＴＴＬ数字设备诊断测试系统（ＰＯＲＴｅｓｔ）的设计思想、体系结构与实现，并着重讲述了实现中采用的流水线结构和多种测试技术。
关键词 TTL 数字设备 PORTest 逻辑电路
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基于故障树的逻辑电路划分诊断方法
2
作者 欧阳一鸣 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 1999年第11期117-119,128,共4页
在基于ＡＮＤ／ＯＲ故障树的数字系统诊断方法中，当电路规模变得越来越大时，所生成的命题数目将会急剧增加，从而使诊断的复杂性随之增加。为了有效地解决这一问题，文章给出一种基于故障树的划分诊断方法，并结合对具体电路的划分诊... 在基于ＡＮＤ／ＯＲ故障树的数字系统诊断方法中，当电路规模变得越来越大时，所生成的命题数目将会急剧增加，从而使诊断的复杂性随之增加。为了有效地解决这一问题，文章给出一种基于故障树的划分诊断方法，并结合对具体电路的划分诊断，阐明该方法可显著降低诊断的复杂性。 展开更多
关键词 故障树 逻辑电路 故障诊断 计算机
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组合电路测试生成研究及实验
3
作者 崔晓天 魏道政 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 1996年第10期788-793,共6页
本文以门级组合电路为对象，以主路径敏化算法为基础，研究提高测试生成效率的策略．实验结果表明，按本文提出的策略所研制的测试生成系统，不仅效率较好，且得到的测试集也较小．
关键词 测试生成 组合电路 逻辑电路
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PLA的故障测试生成算法 被引量：1
4
作者 吴继娟 《电脑学习》 1997年第4期44-45,48,共3页
可编程逻辑阵列PLA（ProgrammableLogicArrays）由于使用灵活，结构规整，设计简单得到越来越广泛地应用。本文介绍的算法，正是面向实际应用，依据PLA的故障测试原理生成的通用型测试矢量集，对任何PLA阵列的故障情况做出测试，而与PL... 可编程逻辑阵列PLA（ProgrammableLogicArrays）由于使用灵活，结构规整，设计简单得到越来越广泛地应用。本文介绍的算法，正是面向实际应用，依据PLA的故障测试原理生成的通用型测试矢量集，对任何PLA阵列的故障情况做出测试，而与PLA所完成的功能无关。 展开更多
关键词 PLA 单敏化通路 可编程逻辑阵列 故障测试
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多功能逻辑测试器
5
作者 从余 《实用电子文摘》 1996年第3期55-57,共3页
在做逻辑电路实验时,逻辑测试设备是一件不可缺少的工具。本文介绍一种只需四块通用集成块的逻辑测试器。它有八个通道,除了可测试数字电路的逻辑状态和各信号间的逻辑关系之外,还可以与计算机的打印输出口连接构成一台八通道脉冲发生器。
关键词 逻辑电路 逻辑测试器 测试
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