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高压真空断路器灭弧室触头温度测算方法
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作者 成兰 《真空》 2026年第1期74-81,共8页
触头温度过高会直接降低真空断路器分合闸速度和绝缘性能,继而导致其故障率增加。故针对真空环境下触头温升监测难的问题,本文提出了高压真空断路器灭弧室触头温度测算方法。利用红外测温仪监测当前的高压真空断路器灭弧室触头温度,并... 触头温度过高会直接降低真空断路器分合闸速度和绝缘性能,继而导致其故障率增加。故针对真空环境下触头温升监测难的问题,本文提出了高压真空断路器灭弧室触头温度测算方法。利用红外测温仪监测当前的高压真空断路器灭弧室触头温度,并通过发射率和光纤布拉格光栅温度传感器监测的环境温度修正红外温度;建立触头动态温升数学模型,通过ANSYS Workbench仿真软件进行多物理场耦合求解获取触头温度分布及温升速率等结果。随着时间的增加,本研究方法的温度测算误差未出现明显增大的趋势,表明该方法在长时间温度测算过程中能够保持较高的稳定性和准确性。 展开更多
关键词 真空断路器 真空灭弧室 触头温升 非接触测温
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