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电光探测技术
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作者 高桥宏典 江涛 《红外》 CAS 1994年第7期8-12,共5页
具有高速、非接触、非侵入特性的电光探测是一种利用电光学晶体把电压变化变换成光强度变化的测定方法。这种测定方法不影响线路的分布常数,可以测定集成电路(IC)内部的任意一点。
关键词 电光探测 光集成电路 E-O探测器
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