模拟电路故障诊断可信度研究 被引量：4

1

作者 杨祖樱 张志涌 《通信学报》 EI CSCD 北大核心 1995年第6期96-100,共5页

提出了描述标称转移矩阵Ｚ０的各标征向量几何分布性状的Ｖｏｒｏｎｏｉ多胞体，定义了描述测量向量ｄＵ在标征向量Ｚｉ中位置的标征干扰角θｕｉ。然后利用这两个概念揭示了容差─故障电路可诊充要和充分条件，讨论了定位故障的极值法... 提出了描述标称转移矩阵Ｚ０的各标征向量几何分布性状的Ｖｏｒｏｎｏｉ多胞体，定义了描述测量向量ｄＵ在标征向量Ｚｉ中位置的标征干扰角θｕｉ。然后利用这两个概念揭示了容差─故障电路可诊充要和充分条件，讨论了定位故障的极值法和阈值法的有效性、局限性，及提高定位准确率的可能途径。 展开更多

关键词 故障诊断 线性电路 模拟电路 可信度

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模拟集成电路的测试与故障检测技术 被引量：2

2

作者 王志华 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第10期81-85,31,共6页

本文综述了模拟集成电路的测试及故障检测等有关问题，首先介绍面向性能的测试方法；然后讨论故障模型和面向故障的测试方法；在介绍了模拟集成电路的可测试性设计技术之后，讨论了利用电源电流监测进行故障检测的方法。

关键词 集成电路 测试 故障检测 模拟集成电路

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模拟电器故障诊断理论和方法发展现状综述 被引量：2

3

作者 何怡刚 《电子科技》 1995年第2期1-3,共3页

文中对模拟电路故障诊断的研究意义及其历史作一简明回顾，扼要综述了模拟电路故障诊断理论和方法的发展现状，指出了问题所在，并给出了解决的办法。

关键词 集成电路 模拟电路 故障诊断 神经网络

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模拟集成电路测试系统软件分析 被引量：1

4

作者 陈芳 《华侨大学学报（自然科学版）》 CAS 1995年第3期338-343,共6页

介绍模拟集成电路的硬件结构，并对直接程序编程和页表式程序编程进行了讨论；文中着重介绍用ＴｕｒｂｏＣ语言进行编程的基本测试软件包，并举例说明．

关键词 模拟集成电路 软件 直接程序编程 测试系统

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模拟多路开关在内建自测试结构中的应用

5

作者 茅成 张殉 +1 位作者 郭裕顺 赵国南 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第1期21-25,共5页

本文提出了采用模拟多路开关的模拟内建自测试电路ＡＢＩＳＴ的一种新结构。与采用ＡＳＲ的ＡＢＩＳＴ［１］相比，本文倡导的ＡＢＩＳＴ不仅能够增加模拟ＩＣ的可测节点，而且能达到一定的测试精度，为模拟ＩＣ可测性设计和故障诊断提... 本文提出了采用模拟多路开关的模拟内建自测试电路ＡＢＩＳＴ的一种新结构。与采用ＡＳＲ的ＡＢＩＳＴ［１］相比，本文倡导的ＡＢＩＳＴ不仅能够增加模拟ＩＣ的可测节点，而且能达到一定的测试精度，为模拟ＩＣ可测性设计和故障诊断提供了有效途径。 展开更多

关键词 模拟集成电路 故障诊断 测试电路 多路开关

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K故障可诊断条件及其可测性设计

6

作者 彭敏放 陈艳 +1 位作者 周任军 杨叔孔 《计算技术与自动化》 1997年第1期65-68,共4页

本文将图的矩阵引入电路的可测性分析，给出了电路的K故障可诊断拓朴条件，使对电路可测性的分析简单化、系统化，并将其应用于网络的可测性设计。

关键词 K故障 可测性 模拟电路 设计 计算机应用

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模拟集成电路自动测试系统

7

作者 康赐荣 《华侨大学学报（自然科学版）》 CAS 1995年第2期209-213,共5页

测试系统硬件部分由通用ＰＣ机和测试仪两大部分组成．它们在测试软件包的配合下，可对常用的模拟ＩＣ的直流参数和功能进行自动测试．

关键词 计算机辅助测试 模拟集成电路 自动测试系统

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模拟集成电路交流参数的测试分析

8

作者 邵金仙 《电测与仪表》 北大核心 1991年第9期20-23,共4页

利用傅里叶变换的频谱密度函数计算AC 信号的有关参数.从而完成对模拟IC 输出响应的测试分析。给出双通道音频放大器的部分AC 参数的测试实例。此法具有速度快、精度高、灵活等一系列优点。

关键词 模拟集成电路 交流参数 测量

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面向性能的故障诊断方法

9

作者 黄先祥 饶贵安 杨海栋 《微电子测试》 1997年第1期13-15,共3页

本文提出了面向性能的故障诊断方法。测后模拟一般都是从基本电路理论开始推导,从测试已知量求解故障位置或故障元件值。但一般从可及节点得到的测量值只是有效值,而不是基本电路理论中所要求的带相位的电量。诊断是为了维修,而维修是... 本文提出了面向性能的故障诊断方法。测后模拟一般都是从基本电路理论开始推导,从测试已知量求解故障位置或故障元件值。但一般从可及节点得到的测量值只是有效值,而不是基本电路理论中所要求的带相位的电量。诊断是为了维修,而维修是为了恢复仪器的性能。文中提出了直接面向性能的诊断与维修方法。先由检测量求解幅频特性,再由幅频特性求解元件值,以定位故障元件。 展开更多

关键词 故障诊断 面向性能 模拟集成电路

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从数字电路测试的角度看模拟电路测试

10

作者 杨志娟 梁业伟 《微电子测试》 1997年第1期6-7,共2页

1 前言我们长期从事数字电路测试的研究,并几次参与模拟电路这方面的讨论,导致想对二者进行比较,提出如下几个问题:对当今的模拟电路来说,是否和数字电路一样:“检测”比“故障定位”相对更重要?对模拟电路是否功能测试更容易?为了便利... 1 前言我们长期从事数字电路测试的研究,并几次参与模拟电路这方面的讨论,导致想对二者进行比较,提出如下几个问题:对当今的模拟电路来说,是否和数字电路一样:“检测”比“故障定位”相对更重要?对模拟电路是否功能测试更容易?为了便利测试,模拟电路是否应建立恰当的故障模型?下面就这些问题稍加展开,谈一下我们的看法,以抛砖引玉。 展开更多

关键词 数字电路 模拟电路 测试

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模拟电路故障自动诊断技术研究 被引量：6

11

作者 王格方 《计算机自动测量与控制》 CSCD 1998年第2期32-35,共4页

本文介绍模拟电路故障诊断的一种基本方法——直流故障字典法，主要介绍了某课题中模拟电路故障自动诊断子系统的硬件基本构成及软件设计方法，并对该子系统的性能进行了初步评价。

关键词 模拟电路 故障诊断 电路板

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串行输出A/D转换器的测试方法

12

作者 任彤 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 1997年第1期47-50,共4页

以ＳＡＤ０８３２８位串行输出Ａ／Ｄ转换器为例，验证了一种串行输出Ａ／Ｄ转换器的特殊测试方法。详细介绍了诸如转换精度、三态输出特性等主要参数的测试方法和测试线路。测试结果表明。

关键词 模拟集成电路 A/D转换器 测试 串行输出

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模拟电路自动测试系统研究 被引量：1

13

作者 王格芳 陈国顺 《国外电子测量技术》 1999年第2期9-10,共2页

本文介绍了利用VXI总线技术组建的模拟电路ATS,它针对模拟电路PCB功能测试和故障诊断的特点,综合了多种自动测试方法,作为陆军电子装备ATS的一个子系统,较好地解决了模拟电路PCB的测试问题,实际应用效果良好。

关键词 模拟电路 自动测试 故障诊断 VXI总线

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用单片机对单稳集成芯片进行故障检测的方法研究 被引量：1

14

作者 宋跃 《现代仪器使用与维修》 1997年第5期1-5,共5页

本文研究了单稳集成芯片的故障检测方法及用MCS-51单片机完成检测的硬软件设计。

关键词 集成芯片 单片机 单稳触发电路 故障 检测

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模拟电路k割集故障诊断的选树问题

15

作者 宋开磻 《北方交通大学学报》 CSCD 北大核心 1989年第3期48-51,共4页

关键词 故障诊断 选树 模拟电路 k割集 树

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模拟交换集成电路MT8816的性能及测试

16

作者 张京红 《电信技术》 北大核心 1991年第6期41-42,共2页

关键词 模拟集成电路 集成电路 测量

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TM—7模拟集成电路测试系统线接收器适配器设计

17

作者 张志江 周晨红 陈文井 《微电子测试》 1995年第3期32-34,共3页

1 前言目前国内集成电路的常用测试设备为TM—6数字集成电路测试系统和TM—7模拟集成电路测试系统。主要解决了TTL数字集成电路、CMOS集成电路及一部分线性电路如集成运算放大器、集成稳压器、电压比较器、A/D转换器、D/A转换器的测试,... 1 前言目前国内集成电路的常用测试设备为TM—6数字集成电路测试系统和TM—7模拟集成电路测试系统。主要解决了TTL数字集成电路、CMOS集成电路及一部分线性电路如集成运算放大器、集成稳压器、电压比较器、A/D转换器、D/A转换器的测试,但其余大部分线性电路的测试问题还未能得到解决。我们在用TM—6测试时基电路555的基础上得到启示,形成了在TM—7上设计测试线接收器所用适配器的设计思想,在此作一详细介绍。 展开更多

关键词 模拟集成电路 测试系统 线接收器 适配器

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模拟集成电路瞄准测试仪的管脚电子部件

18

作者 Goode.,F 铨方 《微电子测试》 1990年第4期39-43,共5页

关键词 摸拟集成电路 测试仪 管脚 元件

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模拟集成块(IC)测试仪

19

《家庭电子》 1996年第11期27-28,共2页

大多数集成电路(IC)测试仪只能测试数字集成电路,不能测试模拟或线性集成电路,而少数线性IC测试仪价格昂贵,使普通电子技术人员陷入困境。本文介绍的模拟IC测试仪将提供可靠的方法来测试各种集成电路。

关键词 模拟集成块 测试仪 集成电路

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自校准技术在模拟集成电路测试中的应用

20

作者 史志豪 石志钢 《微电子测试》 1993年第3期23-25,共3页

关键词 模拟集成电路 测试 自校准技术

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