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脉宽调制器可靠性评估电路的设计与应用
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作者 刘玉奎 《微电子学》 CAS CSCD 1995年第5期41-44,共4页
本文介绍一种评价脉宽调制器可靠性和工艺控制水平的评估电路设计。它是针对X1525脉宽调制器的小批量试制和贯标而设计的。通过微电子测试图形对工艺的控制检测,和单机理失效的评估来对X1525的可靠性进行评价。该电路也适用... 本文介绍一种评价脉宽调制器可靠性和工艺控制水平的评估电路设计。它是针对X1525脉宽调制器的小批量试制和贯标而设计的。通过微电子测试图形对工艺的控制检测,和单机理失效的评估来对X1525的可靠性进行评价。该电路也适用于一般的双极IC的可靠性评估。文章给出了多种微电子测试图形及单机理评估电路和单元评估电路。 展开更多
关键词 可靠性 评估 脉宽调制器 双极型 集成电路
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双极型半导体集成电路的可靠性设计 被引量:1
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作者 王林 《电子产品可靠性与环境试验》 1996年第5期32-37,60,共7页
半导体器件的可靠性在很大一部分程度是取决于产品的可靠性设计。在产品的开发研制过程中,必须合理地采用可靠性设计技术和工程方法才能有效地提高产品的可靠性,以保证产品的可靠性指标。只有在器件设计时就奠定可靠性基础.才能实现产... 半导体器件的可靠性在很大一部分程度是取决于产品的可靠性设计。在产品的开发研制过程中,必须合理地采用可靠性设计技术和工程方法才能有效地提高产品的可靠性,以保证产品的可靠性指标。只有在器件设计时就奠定可靠性基础.才能实现产品的高可靠。本文是本人参阅有关技术资料及自己多年的实际工作经验和生产中的具体问题、数据及结果整理而成,可供从事双极型电路设计的人员作参考。双极型半导体集成电路的可靠性设计分为以下几个方面:(1)可靠性目标;(2)设计标准化;(3)线路设计;(4)版图设计;(5)工艺设计;(6)结构设计;(7)可靠性试验及失效分析;(8)设计评审。 展开更多
关键词 半导体集成电路 双极型 可靠性 设计
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扫描电镜的束感生电流法在模拟集成电路失效分析...
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作者 刘文波 张杏暖 《电子产品可靠性与环境试验》 1990年第2期42-44,共3页
关键词 模拟集成电路 失效分析 扫描电镜
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