单片机系统在核电磁脉冲辐照下的效应研究 被引量：14

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作者 侯民胜 刘尚合 王书平 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第5期623-626,共4页

核电磁脉冲 (NEMP)、雷电电磁脉冲 (LEMP)和高功率微波 (HPM)等强电磁脉冲对单片机系统具有很强的干扰和破坏作用。为研究它们对单片机系统的各种效应 ,利用 GTEM室产生的核电磁脉冲 ,对单片机系统进行了辐照效应实验。实验表明 ,单片... 核电磁脉冲 (NEMP)、雷电电磁脉冲 (LEMP)和高功率微波 (HPM)等强电磁脉冲对单片机系统具有很强的干扰和破坏作用。为研究它们对单片机系统的各种效应 ,利用 GTEM室产生的核电磁脉冲 ,对单片机系统进行了辐照效应实验。实验表明 ,单片机系统在强电磁脉冲作用下 ,会出现“死机”、重启动、通讯出错等现象。基于实验 。 展开更多

关键词 核电磁脉冲 辐照效应 单片机系统

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用显微喇曼扫描成像(mapping)法测集成电路中CoSi_2电极引起的应力 被引量：4

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作者 李碧波 黄福敏 +2 位作者 张树霖 高玉芝 张利春 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第4期299-303,共5页

本文用显微喇曼光谱方法，在μｍ尺度上对集成电路中由多晶硅衬底上生长ＣｏＳｉ２所引起的应力进行了测量，并对这种应力的类型和大小与含有ＣｏＳｉ２的电路结构间的关系做了研究．结果表明，ＣｏＳｉ２所引起的应力为压应力，其大小... 本文用显微喇曼光谱方法，在μｍ尺度上对集成电路中由多晶硅衬底上生长ＣｏＳｉ２所引起的应力进行了测量，并对这种应力的类型和大小与含有ＣｏＳｉ２的电路结构间的关系做了研究．结果表明，ＣｏＳｉ２所引起的应力为压应力，其大小随着面积的减小而增大，在边界处的应力与ＣｏＳｉ２区域中心处的应力类型相反，数值大一倍． 展开更多

关键词 二硅化钴 电极 集成电路 测量

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倍频移相扫描法电光采样测量 被引量：3

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作者 田小建 衣茂斌 +3 位作者 孙伟 贾刚 孙建国 马振昌 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第3期189-192,共4页

分析了倍频移相扫描法的工作原理，介绍了用倍频移相扫描法构成的电光采样测量系统．测量了高速ＧａＡｓ动态分频器集成电路芯片，并给出分频关系波形的测量结果．

关键词 移相扫描 电光采样 集成电路芯片 分频

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CMOS集成电路电流参数测试分析 被引量：4

4

作者 谭婕娟 《电子设计工程》 2016年第4期64-66,共3页

基于在工作过程中遇到部分CMOS集成电路性能不稳定等原因,通过多次试验,发现CMOS集成电路的输入电流(Ii)、电源电流(Icc)对电路的整体性能影响较大,本文对输入电流和电源电流的定义、测试原理、测试必要性、影响测试结果准确性因素等几... 基于在工作过程中遇到部分CMOS集成电路性能不稳定等原因,通过多次试验,发现CMOS集成电路的输入电流(Ii)、电源电流(Icc)对电路的整体性能影响较大,本文对输入电流和电源电流的定义、测试原理、测试必要性、影响测试结果准确性因素等几个方面进行了理论方面的叙述。最后采用54HC14集成电路进行了实际测试试验,得出本文里所使用的电流测试方式是准确可行的。 展开更多

关键词 输入电流 电源电流 CMOS集成电路 54HC14

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器件的失效与DC参数测试系统的关系 被引量：1

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作者 邵金仙 《电测与仪表》 北大核心 1996年第5期11-15,共5页

本文叙述集成电路测试中遇到的几个主要问题，分析了器件测试中经常使用的ＤＣ参数测试系统的结构、与其失效参数的关系及改进的方法。对集成电路生产、测试与使用者均有一定参考作用。

关键词 集成电路 DC参数 加电测量 测试系统

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动态集成电路的光声分层成像

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作者 方健文 张淑仪 +1 位作者 程建春 张仲宁 《应用科学学报》 CAS CSCD 1995年第3期352-358,共7页

利用压电光声技术，对处于工作状态的集成电路器件进行了光声分层成像。同时，在理论上研究了动态集成电路的光声分层成像机理，结果表明，动态器件的光声分层成像，不仅可以突出显示器件中某些一般不易观察到的亚表面结构，而且还可研... 利用压电光声技术，对处于工作状态的集成电路器件进行了光声分层成像。同时，在理论上研究了动态集成电路的光声分层成像机理，结果表明，动态器件的光声分层成像，不仅可以突出显示器件中某些一般不易观察到的亚表面结构，而且还可研究器件的工作原理以及分析器件动态失效的原因。显示了动态光声分层成像在半导体领域的应用前景。 展开更多

关键词 光声技术 分层成像 动态集成电路 集成电路

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GaAs集成电路芯片在片直接故障检测分析

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作者 田小建 张大明 +1 位作者 孙伟 衣茂斌 《激光杂志》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第2期23-24,共2页

介绍了一种实用的电光采样测试系统 ,其稳定的光学系统结构可保持精度几年不变 ,单位带宽电压灵敏度为 2 5 2mV/Hz。改进了电子移相扫描法 ,利用倍频移相扫描法对GaAs动态分频器芯片故障进行了在片检测分析。

关键词 集成电路芯片 故障检测 砷化镓

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集成电路扫描电镜检测中的二次电子分析器的计算机模拟

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作者 陈文雄 《电子显微学报》 CAS CSCD 1990年第2期36-48,共13页

集成电路的扫描电镜检测和失效分析已日益显得重要,其中关键的部分是要设计性能良好的二次电子能量分析器,为此必须借助于计算机辅助设计。迄今为止发表的文献都是在大型机上进行辅助设计的。本文介绍为设计二次电子分析器编制的、可在... 集成电路的扫描电镜检测和失效分析已日益显得重要,其中关键的部分是要设计性能良好的二次电子能量分析器,为此必须借助于计算机辅助设计。迄今为止发表的文献都是在大型机上进行辅助设计的。本文介绍为设计二次电子分析器编制的、可在微型机上运行的程序包的功能。程序包中包括用有限差分法求解静电场的程序,静电场可以是旋转对称的,也可以是平面对称的;用Runge-Kutta法或Hamming法计算轨迹的程序;形成绘图文件的程序;用绘图仪描绘等位线和电子轨道的程序。程序有很高的精确度,在640KB内存下,可用到多至16000个网格点。一般情形下可有0.5％—0.1％的精度。10000个格点迭代一遍约需15秒;电场无误差时,轨迹可有5位有效数字的准确度。一条轨迹走1500步约需1分钟。程序是完全通用的,使用者只需输入用自由格式编好的数据文件。描绘出的等位线和轨迹十分光滑。文中对程序的精度通过四极透镜和八极透镜等计算作了检验,并应用于平面对称型二次电子分析器的实际模拟,得出了其中复杂的等位线分布和典型的电子轨迹,并分析了集成电路表面上方的局部微场对电子轨迹的影响,得出了正确的、令人满意的结果。 展开更多

关键词 集成电路 检测 扫描电镜 微机 模拟

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集成高速动态分频器的倍频移相扫描电光测量 被引量：4

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作者 田小建 衣茂斌 +2 位作者 孙伟 张大明 高艳君 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第7期528-531,共4页

本文测量了集成高速动态分配器的延迟时间，转移特性曲线以及内部点的波形．介绍了倍频移相电光取样方法。

关键词 高速集成电路 倍频移相 砷化镓 测量

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加电测量单元新技术

10

作者 邵金仙 《微电子测试》 1995年第1期14-17,共4页

巧妙地将自动跟踪电路加接到加电测量单元的有关部分,并对转换开关的通断时序加以修改,使得在测量期间加到被测电路的电压保持恒定。或随被测点的电压大小而变化,杜绝了由于换接开关时加电测量单元本身的电压跳变而影响DUT的状态发生变... 巧妙地将自动跟踪电路加接到加电测量单元的有关部分,并对转换开关的通断时序加以修改,使得在测量期间加到被测电路的电压保持恒定。或随被测点的电压大小而变化,杜绝了由于换接开关时加电测量单元本身的电压跳变而影响DUT的状态发生变化所导致测量错误。同时,改进后的加电测量单元,其测量时间显著减少。 展开更多

关键词 加电测量单元 集成电路 测试系统

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测试开发系统中 SUMMIT 语言的移植

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作者 李建宇 林争辉 《上海交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第1期136-139,共4页

研究了测试开发系统（ＴｅＤＳ）中ＩＣ测试软件的移植问题，提出并采用了元测试语言的策略．解决了从元测试语言生成ＩＣ测试机ＤＩＣ－８０３２的测试语言ＳＵＭＭＩＴ的问题和从ＳＵＭＭＩＴ语言变换成元语言的问题．

关键词 测试开发系统 元测试语言 IC 软件移植

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光阈值可调光电开关集成电路的研制

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作者 赵国柱 程东方 蔡仁康 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1992年第4期49-52,共4页

光阈值可调光电开关集成电路是MOS单片集成电路。它是由光电二极管和P-MOS电路构成,通过外接RC网络,在辐照度(0.025～10)mW/cm^2范围内连续调节光电开关电路的光阈值,均能实现开关性能,文中介绍了电荷积累检测技术,电路框图、版图、工... 光阈值可调光电开关集成电路是MOS单片集成电路。它是由光电二极管和P-MOS电路构成,通过外接RC网络,在辐照度(0.025～10)mW/cm^2范围内连续调节光电开关电路的光阈值,均能实现开关性能,文中介绍了电荷积累检测技术,电路框图、版图、工艺设计考虑以及性能指标等。 展开更多

关键词 光电开关 光阈值 单片集成电路

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印刷电路板维修测试的先进手段—“创能”电路维修测试仪 被引量：3

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作者 李文榜 《铁道通信信号》 1990年第9期15-16,共2页

关键词 印刷电路板 测试仪 维修 测试

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用万用表检查常用集成电路

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作者 张家喜 《电工技术》 1992年第1期42-42,共1页

集成电路应用十分广泛。在调试或维修电子线路时,若能用模拟万用表来检查集成电路的好坏,会给工作带来方便。下面介绍两种常用集成电路的检查方法。一。

关键词 集成电路 复用电表 测量

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绘(刻)图实用程序

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作者 王懋章 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1992年第3期288-292,299,共6页

叙述了用 PB-1800型数控绘图机绘(刻)制集成电路版图的实用程序。

关键词 CAD工作站 集成电路 应用程序 绘图

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跳线成型机

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作者 温伟湘 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 1995年第5期17-19,共3页

本文介绍了跳线成型机的结构、原理、技术要求、制造技术、装校及故障处理.线型长度可在5～42mm范围内调节,线脚长度为5～8mm,根据需要选定,适用线径为0.5～0.7mm.

关键词 跳线成型机 集成电路 制造

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用单片机构成的数字集成电路测试仪

17

作者 赖晓宇 白晓宏 《电力电子技术》 CSCD 北大核心 1992年第2期27-29,共3页

关键词 集成电路 测试仪器 微机

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集成电路的直流电压检测法

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作者 高雨春 《电视技术》 北大核心 1989年第6期50-60,共11页

由于集成电路管脚太多,一般情况下都利用在路测试,因此直流电压检测法便特别适用。这种方法是测试集成电路在路情况下各功能管脚的工作电压。表1便是TA 7680 AP在不同彩色电视机应用时的典型电压值,各类彩色电视机进口机型所用集成电路。

关键词 集成电路 直流电压 检测

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微电子测试软件的图化

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作者 赵东风 赵国南 《微电子测试》 1990年第2期4-7,共4页

关键词 微电子 测试 软件 图表式 集成电路

全文增补中

用于硅片线形检测的成象理论

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作者 郁伟 孙杨远 《LSI制造与测试》 1990年第2期6-10,共5页

关键词 集成电路 硅片线条 检测 成象 计算

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