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移相掩模应用技术
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作者 贾海强 张玉清 +1 位作者 张慕义 李岚 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第2期28-29,共2页
一种用于大栅宽器件的移相掩模应用技术是将移相器边缘线用作不透明掩模,以代替铬图形。利用此移相掩模技术,制作了特征线长为0.15μm的微细栅条和大栅宽器件。
关键词 亚半微米 移相掩膜 半导体集成电路 应用
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硅结构中载流子浓度纵向分布的自动测量
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作者 罗江财 《微电子学》 CAS CSCD 1989年第3期12-15,共4页
本文叙述了通过自动电化学C-V剖面图技术,在宽的掺杂和深度范围内,载流子浓度纵向分布的测量。用电化学C-V剖面图技术,可以对扩散层、离子注入层和外延层这样的硅结构,进行自动的载流子浓度纵向分布描绘。它具有操作简便、分辨率高、以... 本文叙述了通过自动电化学C-V剖面图技术,在宽的掺杂和深度范围内,载流子浓度纵向分布的测量。用电化学C-V剖面图技术,可以对扩散层、离子注入层和外延层这样的硅结构,进行自动的载流子浓度纵向分布描绘。它具有操作简便、分辨率高、以及能测高浓度而深度不受限制的优点。 展开更多
关键词 硅结构 集成电路 C-V测量 电化学
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投影光刻的干涉效应
3
作者 邹海兴 《LSI制造与测试》 1990年第3期37-41,46,共6页
关键词 投影光刻 干涉效应 激光光束
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图象反转技术
4
作者 吴允弘 《半导体杂志》 1990年第2期38-39,共2页
关键词 图象反转技术 集成电路 光刻胶
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准分子激光光刻技术
5
作者 王世贵 《国外激光》 CSCD 1990年第3期29-32,共4页
1.序言超大规模集成电路的开发日趋激烈,最小图形为1μm的1Mbit DRAM(动态随机存取存储器)才投入批量生产,0.8μm的4MbitDRAM 样品又已上市,现正处在争先恐后研制0.5~0.6μm的16Mbit DRAM 的鼎盛时期。这样稳固的发展,只有在光缩小曝... 1.序言超大规模集成电路的开发日趋激烈,最小图形为1μm的1Mbit DRAM(动态随机存取存储器)才投入批量生产,0.8μm的4MbitDRAM 样品又已上市,现正处在争先恐后研制0.5~0.6μm的16Mbit DRAM 的鼎盛时期。这样稳固的发展,只有在光缩小曝光技术最近几年有了显著进展之后才成为可能。光刻术中,首先制作标线板,板上有用电子束以5倍大小刻划的超大规模集成电路图形。然后,采用大孔径投影透镜把电路图形缩成1/5,无畸变地把15mm 展开更多
关键词 集成电路 准分子 激光 光刻技术
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