随着集成电路设计复杂度的不断提高,IP核(Intellectual Property Core)作为可复用的电路模块,已成为现代芯片设计的重要组成部分。IP核的正确性、可靠性和性能直接影响到SoC(System on Chip)的整体质量和开发效率。然而,当前IP核评测标...随着集成电路设计复杂度的不断提高,IP核(Intellectual Property Core)作为可复用的电路模块,已成为现代芯片设计的重要组成部分。IP核的正确性、可靠性和性能直接影响到SoC(System on Chip)的整体质量和开发效率。然而,当前IP核评测标准存在不统一、验证不充分等问题,亟需建立一套科学、全面的评测方法。本文通过对IP核设计验证和硅验证方法的深入研究,提出了一套结合设计验证和硅验证的IP核评测标准。该标准涵盖了功能验证、性能验证、面积检查、代码质量检查、可交付信息资料以及硅验证等内容,为IP核的标准化设计、验证与交付提供了明确的指导。研究还分析了现有国际和国内标准的优缺点,并提出了未来研究方向,包括针对特定功能领域(如:人工智能、网络安全等)的细化标准、更高效的验证方法与工具,以及积极参与国际标准的制定与交流。展开更多
文摘随着集成电路设计复杂度的不断提高,IP核(Intellectual Property Core)作为可复用的电路模块,已成为现代芯片设计的重要组成部分。IP核的正确性、可靠性和性能直接影响到SoC(System on Chip)的整体质量和开发效率。然而,当前IP核评测标准存在不统一、验证不充分等问题,亟需建立一套科学、全面的评测方法。本文通过对IP核设计验证和硅验证方法的深入研究,提出了一套结合设计验证和硅验证的IP核评测标准。该标准涵盖了功能验证、性能验证、面积检查、代码质量检查、可交付信息资料以及硅验证等内容,为IP核的标准化设计、验证与交付提供了明确的指导。研究还分析了现有国际和国内标准的优缺点,并提出了未来研究方向,包括针对特定功能领域(如:人工智能、网络安全等)的细化标准、更高效的验证方法与工具,以及积极参与国际标准的制定与交流。
