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微波GaAs功率场效应晶体管稳态温度场的数值模拟
被引量:
1
1
作者
袁泽亮
范垂祯
《真空与低温》
1994年第3期156-161,共6页
根据微波功率GaAs功率场效应晶体管芯片结构特点建立热模型,用有限元法对模型数值求解得到芯片稳态温度分布。分析了影响芯片表面沟道温度的诸因素:功耗、芯片周围环境温度、GaAs材热导率、芯片厚度、芯片热源分布及其跨导。
关键词
微波
GAAS
FET
场效应晶体管
稳态温度场
在线阅读
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职称材料
微波GaAs功率场效应晶体管烧毁机理的研究:Ⅰ.直流烧毁
2
作者
袁泽亮
范垂祯
《真空与低温》
1994年第3期128-132,共5页
用扫描电镜(SEM)和扫描俄歇微探针(SAM)对国内研制开发的微波GaAs功率FET芯片在测试中的直流烧毁进行了分析研究,探讨了直流烧毁机理及物理过程。
关键词
直流烧毁
微波
GAAS
半导体器件
场效应晶体管
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职称材料
题名
微波GaAs功率场效应晶体管稳态温度场的数值模拟
被引量:
1
1
作者
袁泽亮
范垂祯
机构
兰州物理研究所
出处
《真空与低温》
1994年第3期156-161,共6页
文摘
根据微波功率GaAs功率场效应晶体管芯片结构特点建立热模型,用有限元法对模型数值求解得到芯片稳态温度分布。分析了影响芯片表面沟道温度的诸因素:功耗、芯片周围环境温度、GaAs材热导率、芯片厚度、芯片热源分布及其跨导。
关键词
微波
GAAS
FET
场效应晶体管
稳态温度场
Keywords
Microwave GaAs power FET(fleld effect transistor),steady state temperature field,finite element methods,channed temperature.
分类号
TN385.01 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
微波GaAs功率场效应晶体管烧毁机理的研究:Ⅰ.直流烧毁
2
作者
袁泽亮
范垂祯
机构
兰州物理研究所
出处
《真空与低温》
1994年第3期128-132,共5页
文摘
用扫描电镜(SEM)和扫描俄歇微探针(SAM)对国内研制开发的微波GaAs功率FET芯片在测试中的直流烧毁进行了分析研究,探讨了直流烧毁机理及物理过程。
关键词
直流烧毁
微波
GAAS
半导体器件
场效应晶体管
Keywords
D.C. burnout,microwave GaAs power FET (field effect transistor)、scanning Auger microprobe(SAM),scanning electron microscopy(SEM),high field dolnain avalancbe.
分类号
TN385.01 [电子电信—物理电子学]
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1
微波GaAs功率场效应晶体管稳态温度场的数值模拟
袁泽亮
范垂祯
《真空与低温》
1994
1
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职称材料
2
微波GaAs功率场效应晶体管烧毁机理的研究:Ⅰ.直流烧毁
袁泽亮
范垂祯
《真空与低温》
1994
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