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晶体管爆裂噪声的积分双谱检测方法研究 被引量:1
1
作者 丛玉良 王树勋 +1 位作者 赵继印 戴逸松 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第5期99-100,共2页
本文根据对积分双谱分布特性分析,论证了晶体管爆裂噪声是服从非高斯且非对称分布的,并提出可利用积分双谱方法来检测晶体管爆裂噪声.
关键词 晶体管 爆裂噪声 积分双谱 检测
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晶体管低频噪声模型参数的精确测量 被引量:1
2
作者 徐建生 戴逸松 翟翌立 《计量学报》 CSCD 北大核心 1997年第4期300-307,共8页
本文针对目前使用的晶体管EnIn噪声模型及其测量方法的不足之处,提出改进方案,并给出精确测量噪声模型参数的方法。根据误差分析,提出测量谱相关系数的源阻抗选择规则,并对低噪声放大器进行实际测量,给出适合于低噪声电路设... 本文针对目前使用的晶体管EnIn噪声模型及其测量方法的不足之处,提出改进方案,并给出精确测量噪声模型参数的方法。根据误差分析,提出测量谱相关系数的源阻抗选择规则,并对低噪声放大器进行实际测量,给出适合于低噪声电路设计的三维FZs图形。 展开更多
关键词 晶体管 低频噪声模型 噪声测量
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二极管击穿电压的数值计算 被引量:2
3
作者 高玉民 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1993年第2期19-24,共6页
本文以与实验结果符合得最好的R.V.Overstraeten等人的碰撞电离率为依据,按照雪崩击穿条件,采用数值方法计算了非穿通型单边突变结的雪崩击穿电压与衬底掺杂浓度的关系.在此基础上得到了非穿通型二极管击穿电压与电阻率的经验关系式,此... 本文以与实验结果符合得最好的R.V.Overstraeten等人的碰撞电离率为依据,按照雪崩击穿条件,采用数值方法计算了非穿通型单边突变结的雪崩击穿电压与衬底掺杂浓度的关系.在此基础上得到了非穿通型二极管击穿电压与电阻率的经验关系式,此组公式在给定的电压范围内与数值结果符合得相当好.对于穿通型二极管,把这些经验公式与解析式相结合所得结果与数值计算结果符合的程度更加令人满意. 展开更多
关键词 半导体二极管 击穿电压 计算
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两级分布式微机系统测试1000管位晶体管参数的新方法 被引量:1
4
作者 戴义保 《电气自动化》 北大核心 1994年第3期23-26,共4页
设计了两级分布式微机系统一次测试1000管位晶体管参数的新型系统。通过计算机的集散控制,可一次性完成1000管位的晶体管质量检验任务,上位机IBMPC/XT 作为管理机,下位机由两台单片机系统组成。测试的晶体管参数可直接在屏幕上显示,系... 设计了两级分布式微机系统一次测试1000管位晶体管参数的新型系统。通过计算机的集散控制,可一次性完成1000管位的晶体管质量检验任务,上位机IBMPC/XT 作为管理机,下位机由两台单片机系统组成。测试的晶体管参数可直接在屏幕上显示,系统具有硬件电路结构简单、可靠性高、软件调试灵活等优点。 展开更多
关键词 晶体管 参数测试 软件 微机
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磁敏晶体管漂移特性测试装置
5
作者 赵熙萍 陈丽艳 +1 位作者 多宝庆 李树林 《电测与仪表》 北大核心 1995年第5期23-24,共2页
磁敏三极管由于具有比霍尔器件更高的灵敏度故在电磁测量中有很大的应用前景,但其漂移较大限制了它的应用。本文针对国产4CCM系列磁敏晶体管漂移问题,研制了测试及筛选其漂移特性的试验装置。本装置由控温系统和测试二大部分组成... 磁敏三极管由于具有比霍尔器件更高的灵敏度故在电磁测量中有很大的应用前景,但其漂移较大限制了它的应用。本文针对国产4CCM系列磁敏晶体管漂移问题,研制了测试及筛选其漂移特性的试验装置。本装置由控温系统和测试二大部分组成,可同时对8只磁敏管的时漂、温漂的特性进行测量。本装置也可对其它磁敏器件的漂移进行测试。 展开更多
关键词 磁敏晶体管 漂移特性 测试
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测量晶体管特性的新方法
6
作者 尹慧 《曲阜师范大学学报(自然科学版)》 CAS 2002年第1期56-57,共2页
给出了测量晶体二极管伏安特性、三极管输入特性的一种简单、直观的方法 ,分析了此方法的线路连接。
关键词 伏安特性 输入特性 三极管 晶体二极管 电子线路实验 特性曲线 测量方法
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晶体三极管的综合性能检测装置
7
作者 黄正华 《实验室研究与探索》 CAS 1997年第5期82-84,共3页
晶体三极管的综合性能检测装置黄正华(石油大学数理系东营市257062)熟悉与掌握晶体三极管外部特性与工作特性是正确使用它的先决条件。我们研制的晶体三极管综合性能检测技术与装置仪表可快速而准确地分辨出管子的三电极名称b... 晶体三极管的综合性能检测装置黄正华(石油大学数理系东营市257062)熟悉与掌握晶体三极管外部特性与工作特性是正确使用它的先决条件。我们研制的晶体三极管综合性能检测技术与装置仪表可快速而准确地分辨出管子的三电极名称b、c、e极,并能直观、清晰地显示出... 展开更多
关键词 晶体三极管 检测装置 电流放大系数
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基于 PC 机的晶体管特性测试系统 被引量:2
8
作者 傅志仁 杨衍明 《核电子学与探测技术》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第3期212-215,共4页
本文介绍一种基于PC机的晶体管特性测试系统的原理与实现
关键词 分辨率 模数变换 晶体管特性 PC机 测试系统
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重掺杂发射区中禁带宽度和少子复合寿命的确定方法
9
作者 郑茳 冯耀兰 《电子科学学刊》 CSCD 1989年第4期439-443,共5页
禁带宽度和少子复合寿命是硅晶体管发射区中重要的物理参数。本文利用p-n结反向扩散电流的温度特性和借助于线性外推法,提出了一种确定绝对零度时禁带宽度的新方法。由于发射区重掺杂,本文考虑了载流子的费米-狄拉克统计分布。提出了确... 禁带宽度和少子复合寿命是硅晶体管发射区中重要的物理参数。本文利用p-n结反向扩散电流的温度特性和借助于线性外推法,提出了一种确定绝对零度时禁带宽度的新方法。由于发射区重掺杂,本文考虑了载流子的费米-狄拉克统计分布。提出了确定发射区中少子复合寿命的方法。该方法简便实用。 展开更多
关键词 硅晶体管 掺杂 禁带宽度 复合寿命
全文增补中
Reverse blocking characteristics and mechanisms in Schottky-drain AlGaN/GaN HEMT with a drain field plate and floating field plates 被引量:2
10
作者 毛维 佘伟波 +4 位作者 杨翠 张金风 郑雪峰 王冲 郝跃 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2016年第1期777-782,共6页
In this paper, a novel A1GaN/GaN HEMT with a Schottky drain and a compound field plate (SD-CFP HEMT) is presented for the purpose of better reverse blocking capability. The compound field plate (CFP) consists of a... In this paper, a novel A1GaN/GaN HEMT with a Schottky drain and a compound field plate (SD-CFP HEMT) is presented for the purpose of better reverse blocking capability. The compound field plate (CFP) consists of a drain field plate (DFP) and several floating field plates (FFPs). The physical mechanisms of the CFP to improve the reverse breakdown voltage and to modulate the distributions of channel electric field and potential are investigated by two-dimensional numer- ical simulations with Silvaco-ATLAS. Compared with the HEMT with a Schottky drain (SD HEMT) and the HEMT with a Schottky drain and a DFP (SD-FP HEMT), the superiorities of SD-CFP HEMT lie in the continuous improvement of the reverse breakdown voltage by increasing the number of FFPs and in the same fabrication procedure as the SD-FP HEMT. Two useful optimization laws for the SD-CFP HEMTs are found and extracted from simulation results. The relationship between the number of the FFPs and the reverse breakdown voltage as well as the FP efficiency in SD-CFP HEMTs are discussed. The results in this paper demonstrate a great potential of CFP for enhancing the reverse blocking ability in A1GaN/GaN HEMT and may be of great value and significance in the design and actual manufacture of SD-CFP HEMTs. 展开更多
关键词 A1GaN/GaN HEMT drain field plate floating field plate reverse breakdown voltage
原文传递
功率器件的二次击穿无损坏测试技术 被引量:2
11
作者 周友昆 《电力电子技术》 CSCD 北大核心 1995年第1期61-65,共5页
通过对功率晶体管二次击穿机理的分析和安全工作区的划分,提出了可行的无损坏二次击穿测试技术和无损坏二次击穿测试电路.该技术也适用于其他有二次击穿问题的器件。
关键词 晶体管 二次击穿 测量
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三极管系数自动测量仪的设计与应用
12
作者 朱俊 朱红 《电测与仪表》 北大核心 1995年第1期19-20,共2页
本文介绍了一种无需区分通用三极管的三极,以及无需区分PNP型或NPN型,而能自动地测出所需三极管参数的方法。并对此方法进一步实用化提出了四个方向。
关键词 晶体三极管 参数 自动测量 晶体管
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新型晶体管测试仪 被引量:1
13
作者 郭志先 韩维明 《LSI制造与测试》 1996年第4期4-7,共4页
本文阐述了新型晶体测略仪的硬件和软件的特点,着重介绍系统的硬件体系结构和高精度的精密测量单元。文章较详细地论述电流增益HFE的快速逼近法。
关键词 晶体管 测试仪 精密测量单元
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JT—1型晶体管图示仪的改良—将扫描电压扩充到1000V...
14
作者 贺开矿 霍桂平 《电力电子技术》 CSCD 北大核心 1990年第4期48-51,共4页
关键词 晶体管 图示仪 测试 高耐压
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微机控制的晶体管差分配对仪
15
作者 王珏 《电气自动化》 北大核心 1991年第3期32-33,61,共3页
关键词 晶体管 差分配对仪 微机控制 配对
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555集成电路应用三则
16
作者 强志宏 《电气自动化》 北大核心 1990年第4期61-61,共1页
关键词 晶体管 集成电路 检验
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应用微型电子计算机分析半导体三极管放大电路静态工作电流对温度变化的关系
17
作者 汪源浚 《科技与教育》 1989年第1期74-80,87,共8页
关键词 半导体三极管 微机 放大电路 温度
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295型晶体管直流参数测试表
18
作者 楼松根 《电子世界》 1991年第1期23-24,共2页
关键词 晶体管 填流参数 测试表
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美国宇航级晶体管2N2219AL实物质量水平剖析 被引量:1
19
作者 徐立生 谭宗新 于学东 《半导体情报》 1999年第1期50-52,共3页
本文报道了对美国宇航级晶体管2N2219AL进行一系列试验和检测的结果。
关键词 宇航级 晶体管 质量水平 检测 半导体器件
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浅谈BT-15扫频图示仪的使用
20
作者 谢笃芳 《卫星电视与宽带多媒体》 2007年第14期68-69,共2页
BT-15扫频图示仪的用途 BT一15扫频图示仪是扫频范围在0.5-1000MHz的频率特性分析仪。其应用领域遍及于工厂、研究所、大专院校、电视中心、电台、电视台、广电网络、卫星地球站等单位。该仪器可在0.5-1000MHz频段内,定量测量全部... BT-15扫频图示仪的用途 BT一15扫频图示仪是扫频范围在0.5-1000MHz的频率特性分析仪。其应用领域遍及于工厂、研究所、大专院校、电视中心、电台、电视台、广电网络、卫星地球站等单位。该仪器可在0.5-1000MHz频段内,定量测量全部有源、无源双口网络的传输特性(增益或衰减)和反射特性(回波损耗或电压驻波比),还可测量射频电平、通频带、 展开更多
关键词 图示仪 扫频 定量测量 卫星地球站 电压驻波比 频率特性 大专院校 电视中心
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