期刊文献+
共找到7,524篇文章
< 1 2 250 >
每页显示 20 50 100
低空穴衬底电流的新型体硅横向绝缘栅双极晶体管
1
作者 段宝兴 李玉滢 +2 位作者 唐春萍 任宇壕 杨银堂 《物理学报》 北大核心 2026年第5期331-339,共9页
本文提出一种新型延伸多晶硅栅体硅型横向绝缘栅双极晶体管(extended polysilicon gate bulk silicon LIGBT,EGBS-LIGBT),该器件结构为P型衬底上依次外延N型、P型硅作为N漂移区和P漂移区,相当于将常规SOI(silicon-on-insulator)-LIGBT... 本文提出一种新型延伸多晶硅栅体硅型横向绝缘栅双极晶体管(extended polysilicon gate bulk silicon LIGBT,EGBS-LIGBT),该器件结构为P型衬底上依次外延N型、P型硅作为N漂移区和P漂移区,相当于将常规SOI(silicon-on-insulator)-LIGBT的埋氧层替换成N型硅,其优势在于极大降低成本且能降低空穴衬底电流.在阳极正偏时,P漂移区上方的肖特基型延伸多晶硅栅(Schottky-extended polysilicon gate,S-EG)在P漂移区的内侧表面形成电子反型层,以获得低的正向导通压降(V_(on)).此外,阳极采用肖特基接触降低空穴注入效率,而P漂移区快速的动态电场调制能力还可迅速提取存储在漂移区中的过剩载流子,且其多子为空穴还能促进关断时过剩电子的快速复合,关断能量损耗(E_(off))得以降低.仿真结果表明:EGBS-LIGBT在显著降低空穴衬底电流的同时,改善了E_(off)与V_(on)间的折中关系.该器件的V_(on)为1.59 V、空穴衬底电流为1.9 mA/cm^(2)、E_(off)为0.51 mJ/cm^(2)、击穿电压(BV)达701 V.相较常规LIGBT,该结构在保持V_(on)基本不变的前提下,将空穴衬底电流降至1/105,E_(off)降低69.8%,BV提升19.6%. 展开更多
关键词 横向绝缘栅双极晶体管 空穴衬底电流 关断损耗 肖特基接触
在线阅读 下载PDF
一种10.7~12.8 GHz百瓦级功率放大器MMIC
2
作者 李泽楷 吴洪江 +1 位作者 范悬悬 杨卅男 《微纳电子技术》 2026年第3期100-107,共8页
基于0.35μm GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)工艺研制了一款工作于10.7~12.8 GHz的紧凑型功率放大器单片微波集成电路(MMIC)。引入双场板结构,显著提升器件的击穿电压,超过200 V;通过热电联合设计,针对栅极间距与末级布局进行了优化,使器... 基于0.35μm GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)工艺研制了一款工作于10.7~12.8 GHz的紧凑型功率放大器单片微波集成电路(MMIC)。引入双场板结构,显著提升器件的击穿电压,超过200 V;通过热电联合设计,针对栅极间距与末级布局进行了优化,使器件的热阻降低至约0.52℃/W;设计了融合功分/功合、阻抗变换与谐波调谐的匹配网络,采用多元件串联结构提升击穿电压,增强电路的鲁棒性。测试结果表明,在10.7~12.8 GHz内,芯片(面积4.1 mm×5.3 mm)的饱和输出功率典型值为100 W,全频段内均大于95 W;功率附加效率典型值为40%,全频段内均大于38%;功率增益高于22 dB。 展开更多
关键词 紧凑型 功率放大器 氮化镓 功率附加效率 单片微波集成电路(MMIC)
原文传递
外部参数对汽车点火IGBT自钳位感性开关能力的影响
3
作者 柯俊吉 王浩 钟圣荣 《半导体技术》 北大核心 2026年第1期22-29,共8页
研究了直流母线电压、栅极驱动电压、外部栅极驱动电阻、负载电感及初始结温对汽车点火IGBT自钳位感性开关(SCIS)极限能力的影响。通过分析点火IGBT的工作原理,结合工作波形分析和开关过程理论推导,建立了点火IGBT结温温升与外部参数的... 研究了直流母线电压、栅极驱动电压、外部栅极驱动电阻、负载电感及初始结温对汽车点火IGBT自钳位感性开关(SCIS)极限能力的影响。通过分析点火IGBT的工作原理,结合工作波形分析和开关过程理论推导,建立了点火IGBT结温温升与外部参数的数学关系。搭建了点火IGBT的SCIS测试平台。测试结果表明:直流母线电压越高、负载电感越小、器件初始结温越高,点火IGBT的SCIS极限能力越低;栅极驱动电压越高、外部栅极驱动电阻越大,点火IGBT的SCIS极限能力越高。该研究结果可为汽车点火IGBT的应用提供参考。 展开更多
关键词 汽车点火IGBT 自钳位感性开关(SCIS)极限能力 直流母线电压 栅极驱动参数 负载电感 初始结温
原文传递
Strategical dynamic modulation of turn-on voltage for write transistor introducing charge-trap layer in 2T0C DRAM cell employing IGZO channel
4
作者 Kyung Min Kim Sang Han Ko Sung Min Yoon 《Journal of Semiconductors》 2026年第2期33-43,共11页
The fabrication of a dynamic threshold-2T0C(DT-2T0C) DRAM cell incorporating a ZnO charge-trap layer in the write transistor has been successfully achieved, addressing the negative hold voltage(V_(HOLD)) issue of conv... The fabrication of a dynamic threshold-2T0C(DT-2T0C) DRAM cell incorporating a ZnO charge-trap layer in the write transistor has been successfully achieved, addressing the negative hold voltage(V_(HOLD)) issue of conventional 2T0C DRAM cells using oxide channel layers. The proposed device facilitates dynamic modulation of turn-on voltage(V_(ON)) through an additional SET operation, allowing V_(ON) to shift above 0 V. The retention time in SET operation was extended to 10^(4) s by optimizing the tunneling layer deposition conditions. The device characterization revealed a significant correlation between V_(ON) and both the WRITE speed and the retention properties of the DT-2T0C, verifying the trade-off between WRITE time and retention time. A long retention time over 1000 s was achieved, even under VHOLD of 0 V. 展开更多
关键词 IGZO thin-film transistor(TFT) dynamic random-access memory(DRAM) 2T0C
在线阅读 下载PDF
中子/γ单独及顺序辐照对双极型器件的损伤效应研究
5
作者 邢嘉彬 王凯 +2 位作者 曹菲 杨剑群 秦建强 《原子能科学技术》 北大核心 2026年第2期441-448,共8页
基于^(60)Co放射源辐照平台和CFBR-II快中子反应堆,系统性地开展了双极晶体管的中子/γ单独辐照以及不同顺序组合辐照实验。测量了电流增益倒数变化量Δ(1/β)、基极电流I_(B)及其变化量ΔI_(B)随基极-发射极电压VBE的动态响应特性。实... 基于^(60)Co放射源辐照平台和CFBR-II快中子反应堆,系统性地开展了双极晶体管的中子/γ单独辐照以及不同顺序组合辐照实验。测量了电流增益倒数变化量Δ(1/β)、基极电流I_(B)及其变化量ΔI_(B)随基极-发射极电压VBE的动态响应特性。实验发现:PNP型晶体管在先γ后中子和先中子后γ两种辐照顺序下均呈现显著协同增强效应。而NPN型晶体管表现出辐照顺序依赖性,先中子后γ辐照时呈现协同增强效应,先γ后中子辐照时则呈现协同减弱效应。机理分析得出,这种器件类型依赖性源于辐照损伤模式的根本差异,对于PNP型晶体管,γ辐照主要诱导SiO_(2)/Si界面陷阱增加,而NPN型晶体管受γ辐照主要引起氧化层俘获电荷积累,这些正电荷在后续中子辐照时发生室温退火是NPN型器件在后中子辐照中表现出负协同效应的主要原因。本文结果可为中子/γ协同辐射场下不同类型双极型晶体管的抗辐射加固技术提供重要依据。 展开更多
关键词 双极型晶体管 位移损伤 总剂量效应 协同效应
在线阅读 下载PDF
中压三电平IGBT功率模组典型失效机理研究
6
作者 韩剑波 何亮 +2 位作者 刘鎏 高大朋 王永棋 《科技视界》 2026年第5期98-102,共5页
基于绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的中压三电平功率拓扑广泛应用于大功率电力变换场合,由于其功能重要性对设备运行可靠性要求极高,开展核心IGBT功率器件的失效机理及状态监测技术研究对保障设备运行可靠及运维优化具有重要意义。针对中压... 基于绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的中压三电平功率拓扑广泛应用于大功率电力变换场合,由于其功能重要性对设备运行可靠性要求极高,开展核心IGBT功率器件的失效机理及状态监测技术研究对保障设备运行可靠及运维优化具有重要意义。针对中压三电平功率拓扑典型IGBT器件,基于电、热多应力下失效机理分析,开展了功率模组-功率模块-功率器件全范围等效物理场建模,基于焊料层空洞这一典型故障类型,对功率器件从正常运行至失效全过程进行了仿真分析,揭示不同失效模式、不同劣化程度下的特征参数变化规律,并验证了参数变化规律与实际劣化状态机理的匹配性,可为建立功率模组定量故障诊断模型奠定技术基础。 展开更多
关键词 失效机理 功率模组 绝缘栅双极型晶体管(IGBT) 空洞率 结温
在线阅读 下载PDF
基于动态特征演化与门控注意力机制的IGBT剩余寿命预测
7
作者 史尚贤 李小波 +1 位作者 刘心怡 吴浩 《半导体技术》 北大核心 2026年第3期289-297,共9页
针对绝缘栅双极型晶体管(IGBT)退化过程中难以精准获取特征重要性(FI)的动态演化,以及静态FI与动态时间步的重要性维度失配导致剩余使用寿命(RUL)预测精度不足的问题,提出一种门控引导注意力机制的卷积神经网络-双向长短期记忆(CNN-BiLS... 针对绝缘栅双极型晶体管(IGBT)退化过程中难以精准获取特征重要性(FI)的动态演化,以及静态FI与动态时间步的重要性维度失配导致剩余使用寿命(RUL)预测精度不足的问题,提出一种门控引导注意力机制的卷积神经网络-双向长短期记忆(CNN-BiLSTM)模型用于RUL预测。构建了多维度随机森林FI评估框架,动态评估退化阶段的FI;设计了多模态输入解耦架构,构建了加权物理特征分支;提出了同步映射机制,以状态偏离度为桥梁,将静态FI投影至时间轴进行维度匹配;进而构建了FI引导的门控注意力机制,实现数据驱动与先验知识引导注意力的自适应融合。最后,基于NASA研究中心提供的数据集开展算法验证实验,结果表明,该方法的预测精度显著提高,相较于多特征模型、CNN-BiLSTM和BiLSTM分别提高了27.67%、18.68%和9.11%。 展开更多
关键词 绝缘栅双极型晶体管(IGBT) 特征重要性(FI)动态演化 门控引导注意力机制 卷积神经网络-双向长短期记忆(CNN-BiLSTM)网络 剩余使用寿命(RUL)预测
原文传递
基于改进粒子群优化算法-粒子滤波模型的IGBT寿命预测方法研究
8
作者 刘东静 李涛 +1 位作者 肖煜 周小舒 《电气技术》 2026年第1期20-27,34,共9页
为了提高绝缘栅双极型晶体管(IGBT)寿命预测精度,降低维护成本和系统故障风险,提出一种融合改进粒子群优化算法(IPSO)和粒子滤波(PF)的IGBT寿命预测方法。选取集电极-发射极导通电压(Vce_on)作为退化特征参数,以NASA公开的Vce_on历史数... 为了提高绝缘栅双极型晶体管(IGBT)寿命预测精度,降低维护成本和系统故障风险,提出一种融合改进粒子群优化算法(IPSO)和粒子滤波(PF)的IGBT寿命预测方法。选取集电极-发射极导通电压(Vce_on)作为退化特征参数,以NASA公开的Vce_on历史数据集为基础,通过Matlab拟合退化模型,确定模型参数,构建状态方程和观测方程;利用自适应权值和正切函数优化粒子群优化算法参数,改善其前期过早收敛、后期易陷入局部最优的状况;建立IPSO-PF模型,通过IPSO最优寻参分别动态调整PF预测阶段和重采样阶段的粒子权重,使粒子更逼近系统的后验概率分布,设定Vce_on的失效阈值,从而实现IGBT寿命准确预测。经仿真分析,IPSO-PF模型的平均相对精度为0.971 1,相较于PF、无迹卡尔曼粒子滤波(UPF)、猎人猎物优化粒子滤波(HPO-PF)模型,分别提高了20.44%、6.99%、5.37%,证明IPSO-PF模型能有效提升IGBT寿命预测精度。为验证各改进模块的有效性,设计消融实验,结果证明各改进模块有效提升了IPSO-PF模型性能。 展开更多
关键词 绝缘栅双极型晶体管(IGBT) 寿命预测 特征参数 粒子群优化算法(PSO) 粒子滤波(PF) 消融实验
在线阅读 下载PDF
IGBT导通压降在线监测电路研究 被引量:2
9
作者 文阳 张冲 +1 位作者 杨媛 马智坚 《电力电子技术》 2025年第7期1-6,共6页
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)在电力电子系统中应用广泛,其结温监测吸引了学者的广泛关注。集电极-发射极导通压降U_(CE)是IGBT结温监测中最常用的参数,对其在线监测电路的研究具有重要意义。本文首先介绍了传统U_(CE)采集电路的基本工作原... 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)在电力电子系统中应用广泛,其结温监测吸引了学者的广泛关注。集电极-发射极导通压降U_(CE)是IGBT结温监测中最常用的参数,对其在线监测电路的研究具有重要意义。本文首先介绍了传统U_(CE)采集电路的基本工作原理,分析了误差来源,在此基础上提出了改善的U_(CE)在线监测电路。其次,设计了精度及温漂实验,对不同采集电路的精度和温度敏感性进行实验验证。结果表明,传统采集电路精度低且易受温度影响,改善后的采集电路精度达到97%且温度稳定性好。最后,介绍了该采集电路在功率器件状态监测系统中的实际应用。 展开更多
关键词 绝缘栅双极型晶体管 在线监测 采集电路
在线阅读 下载PDF
IGBT模块在机械振动与循环热载荷耦合作用下的疲劳失效机理研究
10
作者 刘堰祯 王维民 +1 位作者 户东方 陈奕屹 《电子元件与材料》 北大核心 2026年第2期191-200,207,共11页
为探究多物理场耦合作用下大功率绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块的内部损伤演化机理与疲劳寿命,基于Miner线性累积损伤等理论模型,通过有限元仿真分析,建立了IGBT在单一热载荷、单一振动载荷及跨时间尺度热-振耦合载荷下的疲劳寿命预测... 为探究多物理场耦合作用下大功率绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块的内部损伤演化机理与疲劳寿命,基于Miner线性累积损伤等理论模型,通过有限元仿真分析,建立了IGBT在单一热载荷、单一振动载荷及跨时间尺度热-振耦合载荷下的疲劳寿命预测模型。仿真结果显示:热载荷对寿命的影响显著高于振动载荷,而热-振耦合条件会进一步加速材料退化,使疲劳寿命显著降低。为验证仿真结果,开展了直流功率循环加速老化实验,仿真与实验误差为24.05%,二者均表明危险部位主要集中在芯片和上焊接层区域,并从芯片位置向周围扩散。该研究对IGBT模块的可靠性评估、寿命预测及优化设计具有重要的工程参考价值。 展开更多
关键词 IGBT模块 热-振耦合 疲劳寿命 可靠性
在线阅读 下载PDF
光电双模态感知的有机晶体管及人工突触性能
11
作者 张文鑫 巫晓敏 严育杰 《电子元件与材料》 北大核心 2026年第2期145-149,共5页
随着人工智能与类脑计算的快速发展,有机场效应晶体管在神经形态器件中展现出优异的可调控特性。传统有机神经形态器件往往受限于突触功能单一,难以满足多模态感知与复杂信息处理的需求。本研究基于IDTBT∶PS复合介质层构建了一种光电... 随着人工智能与类脑计算的快速发展,有机场效应晶体管在神经形态器件中展现出优异的可调控特性。传统有机神经形态器件往往受限于突触功能单一,难以满足多模态感知与复杂信息处理的需求。本研究基于IDTBT∶PS复合介质层构建了一种光电双模态有机突触晶体管。该器件通过光照调控实现了从开关晶体管到神经形态突触的功能重构,表现为光照后迟滞窗口扩大7.9 V、电导提升26倍、突触增强率达150%的特性变化。通过对器件在不同工作状态下的电学参数与突触特性进行表征,揭示了光照调控对沟道载流子浓度与驻极体电荷俘获行为的协同作用机理。该方法在保持优异电学性能的基础上实现了光控突触行为,为发展集感知、存储与计算于一体的多模态神经形态平台提供了新的器件范式。 展开更多
关键词 多模态 薄膜 突触 有机场效应晶体管
在线阅读 下载PDF
多晶硅发射极高速双极晶体管质子单粒子效应
12
作者 李培 韩承相 +4 位作者 何子杰 董志勇 何欢 贺朝会 魏佳男 《物理学报》 北大核心 2025年第14期316-323,共8页
随着半导体工艺的发展,具有深沟槽隔离(DTI)技术的双极晶体管因其优异的电气性能和隔离效果,逐步应用于性能和集成度要求更高的先进半导体器件.现有的双极晶体管单粒子效应研究表明,深沟槽隔离技术会导致双极器件产生新的单粒子效应机制... 随着半导体工艺的发展,具有深沟槽隔离(DTI)技术的双极晶体管因其优异的电气性能和隔离效果,逐步应用于性能和集成度要求更高的先进半导体器件.现有的双极晶体管单粒子效应研究表明,深沟槽隔离技术会导致双极器件产生新的单粒子效应机制.本文针对深沟槽隔离结构的多晶硅发射极双极晶体管,开展了质子入射角度对其单粒子效应的影响研究.实验结果表明,质子入射角度会显著影响晶体管集电极的单粒子瞬态电压脉冲振幅.利用Sentaurus TCAD软件模拟了多晶硅发射极双极晶体管的单粒子效应电荷收集过程,根据模拟结果分析了深沟槽隔离器件的灵敏体积,并基于Geant4蒙特卡罗模拟方法开展了质子不同角度入射深沟槽器件灵敏体积的模拟.结果表明,次级离子在灵敏体积内的积分截面会随着入射角度的增加而增大,为深沟槽隔离双极晶体管的单粒子效应抗辐射加固提供了理论支撑. 展开更多
关键词 深沟槽隔离 质子单粒子效应 TCAD数值模拟 Geant4粒子仿真
在线阅读 下载PDF
“电路分析基础”课程案例教学研究——以惠斯通电桥为例
13
作者 杨敏 陈阳 刘战 《教育教学论坛》 2025年第41期129-132,共4页
探讨案例教学法在“电路分析基础”课程中的应用,以惠斯通电桥为例,通过学习串并联电路的原理,分析惠斯通电桥电路的原理;通过应变片搭建惠斯通电桥电路制作力传感器,验证了该方法能有效提升学生的实践与分析能力。案例教学法不仅增强... 探讨案例教学法在“电路分析基础”课程中的应用,以惠斯通电桥为例,通过学习串并联电路的原理,分析惠斯通电桥电路的原理;通过应变片搭建惠斯通电桥电路制作力传感器,验证了该方法能有效提升学生的实践与分析能力。案例教学法不仅增强了学生的团队合作精神,还使其能够更直观地理解电路原理及应用。研究主要聚焦于“电路分析基础”课程中最简单的惠斯通电桥案例,具有一定的局限性,但为电路分析课程的教学改革提供了有益参考。未来研究可进一步拓展案例范围,探究该方法在不同教学环境下的适用性。 展开更多
关键词 电路分析基础 案例教学 惠斯通电桥
在线阅读 下载PDF
基于共模辐射干扰信号的IGBT模块焊料层空洞老化的检测方法
14
作者 董超 韦虎俊 杜明星 《天津理工大学学报》 2025年第5期50-56,共7页
提出一种基于共模电磁辐射(common mode electromagnetic radiation,CMEMR)频谱特征的绝缘栅双极性晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)模块焊料层老化状态的非侵入监测方法。当IGBT模块焊料层发生老化时会改变IGBT模块内... 提出一种基于共模电磁辐射(common mode electromagnetic radiation,CMEMR)频谱特征的绝缘栅双极性晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)模块焊料层老化状态的非侵入监测方法。当IGBT模块焊料层发生老化时会改变IGBT模块内部结构,引起电磁干扰通路的参数变化,进而影响电磁干扰强度。文中研究了CM电磁干扰产生的原因,分析焊料层空洞对IGBT模块内部寄生电容的影响,以及寄生电容对CM干扰的影响,最后搭建试验平台,对不同空洞率的IGBT模块进行健康监测,发现随着焊料层空洞损伤程度的加剧,CM辐射干扰信号强度降低。 展开更多
关键词 绝缘栅双极性晶体管 共模电磁辐射 寄生电容 焊料层空洞
在线阅读 下载PDF
分立GaN HEMT器件动态电阻测量系统设计
15
作者 文阳 石孟洁 +1 位作者 杨媛 张冲 《电力电子技术》 2025年第1期117-120,共4页
氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)在高频、高功率密度等应用领域得到广泛应用,然而GaN HEMT器件的导通电阻会随着应用工况发生改变(动态电阻现象),导致其在应用中导通损耗不能被准确评估。针对这一问题,本文设计了一种GaN HEMT器件... 氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)在高频、高功率密度等应用领域得到广泛应用,然而GaN HEMT器件的导通电阻会随着应用工况发生改变(动态电阻现象),导致其在应用中导通损耗不能被准确评估。针对这一问题,本文设计了一种GaN HEMT器件动态电阻测量系统。首先,介绍了动态电阻测试原理,其次,介绍了该测试系统的组成并对各部分设计原理及选型进行了详细的描述。最后,搭建了GaN HEMT器件动态电阻测试系统并对测试系统性能进行了测试。结果表明,该系统可以准确地测试GaN HEMT器件在不同工况下的动态电阻值。 展开更多
关键词 高电子迁移率晶体管 动态电阻 导通电压测量 测量系统
在线阅读 下载PDF
Beyond the Silicon Plateau:A Convergence of Novel Materials for Transistor Evolution
16
作者 Jung Hun Lee Jae Young Kim +3 位作者 Hyeon-Ji Lee Sung-Jin Choi Yoon Jung Lee Ho Won Jang 《Nano-Micro Letters》 2026年第2期786-844,共59页
As silicon-based transistors face fundamental scaling limits,the search for breakthrough alternatives has led to innovations in 3D architectures,heterogeneous integration,and sub-3 nm semiconductor body thicknesses.Ho... As silicon-based transistors face fundamental scaling limits,the search for breakthrough alternatives has led to innovations in 3D architectures,heterogeneous integration,and sub-3 nm semiconductor body thicknesses.However,the true effectiveness of these advancements lies in the seamless integration of alternative semiconductors tailored for next-generation transistors.In this review,we highlight key advances that enhance both scalability and switching performance by leveraging emerging semiconductor materials.Among the most promising candidates are 2D van der Waals semiconductors,Mott insulators,and amorphous oxide semiconductors,which offer not only unique electrical properties but also low-power operation and high carrier mobility.Additionally,we explore the synergistic interactions between these novel semiconductors and advanced gate dielectrics,including high-K materials,ferroelectrics,and atomically thin hexagonal boron nitride layers.Beyond introducing these novel material configurations,we address critical challenges such as leakage current and long-term device reliability,which become increasingly crucial as transistors scale down to atomic dimensions.Through concrete examples showcasing the potential of these materials in transistors,we provide key insights into overcoming fundamental obstacles—such as device reliability,scaling down limitations,and extended applications in artificial intelligence—ultimately paving the way for the development of future transistor technologies. 展开更多
关键词 Modern transistors Transistor scaling Alternative semiconductors 3D integration Device reliability
在线阅读 下载PDF
Back-gate-tuned organic electrochemical transistor with temporal dynamic modulation for reservoir computing
17
作者 Qian Xu Jie Qiu +6 位作者 Mengyang Liu Dongzi Yang Tingpan Lan Jie Cao Yingfen Wei Hao Jiang Ming Wang 《Journal of Semiconductors》 2026年第1期118-123,共6页
Organic electrochemical transistor(OECT)devices demonstrate great promising potential for reservoir computing(RC)systems,but their lack of tunable dynamic characteristics limits their application in multi-temporal sca... Organic electrochemical transistor(OECT)devices demonstrate great promising potential for reservoir computing(RC)systems,but their lack of tunable dynamic characteristics limits their application in multi-temporal scale tasks.In this study,we report an OECT-based neuromorphic device with tunable relaxation time(τ)by introducing an additional vertical back-gate electrode into a planar structure.The dual-gate design enablesτreconfiguration from 93 to 541 ms.The tunable relaxation behaviors can be attributed to the combined effects of planar-gate induced electrochemical doping and back-gateinduced electrostatic coupling,as verified by electrochemical impedance spectroscopy analysis.Furthermore,we used theτ-tunable OECT devices as physical reservoirs in the RC system for intelligent driving trajectory prediction,achieving a significant improvement in prediction accuracy from below 69%to 99%.The results demonstrate that theτ-tunable OECT shows a promising candidate for multi-temporal scale neuromorphic computing applications. 展开更多
关键词 neuromorphic computing reservoir computing OECT tunable dynamics trajectory prediction
在线阅读 下载PDF
基于MobileNetV3的IGBT故障监测方法
18
作者 肖凯文 钱欣辰 《智能城市》 2026年第1期84-88,共5页
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)是电力行业变流器设备的主要器件,其健康状态影响电力设备和电力系统的安全稳定运行。为适应电力设备采用的嵌入式控制系统,文章提出基于MobileNetV3的IGBT故障监测方法。对IGBT的失效机理进行分析,进一步确定... 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)是电力行业变流器设备的主要器件,其健康状态影响电力设备和电力系统的安全稳定运行。为适应电力设备采用的嵌入式控制系统,文章提出基于MobileNetV3的IGBT故障监测方法。对IGBT的失效机理进行分析,进一步确定能够表征IGBT运行状态的特征变化参数,将其作为算法模型的输入量;将MobileNetV3方法应用于IGBT故障监测,通过减小瓶颈模块中扩展层通道参数,对MobileNetV3进行进一步轻量化改进,构建MobileNetV3故障监测模型,以适应嵌入式系统的较小资源消耗实现高精度的故障监测;通过实验对所提故障监测方法的有效性进行验证。实验结果表明,优化后模型在保持95.98%准确率的同时,参数量降至896 676,内存占用仅为4.4 MB,在精度与资源消耗间取得了良好平衡。 展开更多
关键词 MobileNet IGBT 故障监测 深度学习
在线阅读 下载PDF
基于新型相变材料的IGBT冷却技术研究与应用
19
作者 宁珍 《科技与创新》 2026年第1期166-168,共3页
研究基于新型相变材料(Phase Change Materials,PCMs)的绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT)冷却技术,以解决传统冷却方式在高功率密度场景中的局限性。IGBT工作时会产生热量,传统风冷散热效率低,水冷系统复杂... 研究基于新型相变材料(Phase Change Materials,PCMs)的绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT)冷却技术,以解决传统冷却方式在高功率密度场景中的局限性。IGBT工作时会产生热量,传统风冷散热效率低,水冷系统复杂且易泄漏。新型相变材料通过高相变潜热高效吸热,降低IGBT温度。探讨了相变材料的特性、封装形式及冷却系统设计与优化。结果表明,该技术散热性能优异,结构紧凑且可靠,可显著降低系统质量和体积,保障高速列车牵引变流器安全运行,具有广阔的应用前景。 展开更多
关键词 IGBT冷却 相变材料 高速列车牵引变流器 散热效率
在线阅读 下载PDF
风电系统频繁启停条件下IGBT模块寿命预测模型优化
20
作者 张兴顺 邢雪峰 +3 位作者 韩建涛 艾敬国 宣文虎 侯化澎 《电气技术与经济》 2026年第1期183-185,共3页
风电系统中频繁启停工况引发的瞬态热冲击已成为IGBT模块封装结构热疲劳劣化的关键诱因。本文分析了某沿海2.5MW直驱型风力发电系统的案例概述与优化需求,研究了基于改进Cauer热网络模型的结温反演路径,提出了基于雨流计数法的热疲劳特... 风电系统中频繁启停工况引发的瞬态热冲击已成为IGBT模块封装结构热疲劳劣化的关键诱因。本文分析了某沿海2.5MW直驱型风力发电系统的案例概述与优化需求,研究了基于改进Cauer热网络模型的结温反演路径,提出了基于雨流计数法的热疲劳特征工程提取机制,旨在构建适用于复杂热耦合条件的多维退化建模框架,实现高精度、多参数约束下的封装结构寿命评估。 展开更多
关键词 风电系统 频繁启停 IGBT模块 寿命预测模型
在线阅读 下载PDF
上一页 1 2 250 下一页 到第
使用帮助 返回顶部