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沟槽结构β-Ga_(2)O_(3)SBD的设计与仿真
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作者 杨震 吴春艳 +3 位作者 吴霞 高金绪龙 陈强 解光军 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 北大核心 2025年第2期196-202,231,共8页
在肖特基势垒二极管(Schottky barrier diode,SBD)漂移层表面刻蚀沟槽形成金属-绝缘体-半导体(metal-insulator-semiconductor,MIS)结构,抑制镜像力效应并减小器件的反向漏电流,是提升器件反向击穿特性的有效途径。为优化沟槽结构β-Ga_... 在肖特基势垒二极管(Schottky barrier diode,SBD)漂移层表面刻蚀沟槽形成金属-绝缘体-半导体(metal-insulator-semiconductor,MIS)结构,抑制镜像力效应并减小器件的反向漏电流,是提升器件反向击穿特性的有效途径。为优化沟槽结构β-Ga_(2)O_(3)SBD的结构参数,文章利用Silvaco Atlas软件仿真不同台面宽度和沟槽深度对器件性能的影响。结果表明,参数优化后(台面宽度1.0μm,沟槽深度0.5μm)的沟槽结构β-Ga_(2)O_(3)SBD开启电压为0.6 V、比导通电阻为1.69 mΩ·cm^(2)、击穿电压为1416 V、功率品质因数为1.19 GW/cm^(2),实现了兼具低开启电压和高击穿电压的良好器件性能。与基础结构SBD和场板结构SBD相比,优化后的器件性能得到显著提升。 展开更多
关键词 β-Ga_(2)O_(3) 肖特基势垒二极管(SBD) 沟槽结构 功率器件仿真
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TVS管失效案例分析
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作者 戚继先 姜经纬 《电子质量》 2025年第5期55-58,共4页
瞬态电压抑制器(TVS)具有响应速度快、瞬态功率高、击穿电压精度高、电容低、漏电流小、箝位电压可控性强、耐冲击无损等特性,已广泛应用于消费电子、计算机系统、通信设备及家用电器等领域。然而,随着其广泛应用,失效问题日益凸显。通... 瞬态电压抑制器(TVS)具有响应速度快、瞬态功率高、击穿电压精度高、电容低、漏电流小、箝位电压可控性强、耐冲击无损等特性,已广泛应用于消费电子、计算机系统、通信设备及家用电器等领域。然而,随着其广泛应用,失效问题日益凸显。通过综合运用外观检查、电特性测试、X射线检测、开封分析等技术手段,系统分析了某型号TVS的失效机理,并提出改进措施。研究表明:异常电压引发芯片阳极接触窗边角金属化烧熔及硅熔坑,导致单向导通特性异常,反向参数符合规范。结合热力学分析,判定失效原因为异常电压导致的大功率过热烧毁。建议从材料纯度提升、工艺优化、选型适配、使用约束及环境防护等方面提高产品可靠性。 展开更多
关键词 瞬态电压抑制器 电特性测试 金属化烧熔 失效分析
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碳化硅功率二极管辐射效应测试系统的开发
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作者 刘建成 郭刚 +1 位作者 韩金华 刘翠翠 《科技资讯》 2024年第14期28-33,共6页
为探究碳化硅功率器件抗辐照损伤能力和辐射效应机制,基于LabVIEW软件开发平台,利用Keithley公司的2410高压源表、USB-GPIB接口适配器等设备,针对两款商用碳化硅功率二极管,建立了一套辐射效应测试系统。系统在集成了Keithley 2410高压... 为探究碳化硅功率器件抗辐照损伤能力和辐射效应机制,基于LabVIEW软件开发平台,利用Keithley公司的2410高压源表、USB-GPIB接口适配器等设备,针对两款商用碳化硅功率二极管,建立了一套辐射效应测试系统。系统在集成了Keithley 2410高压源表功能面板模拟仿真实时控制和信息同步显示的基础上,还实现了电压和电流数据的实时采集、图像化的I-V和I-t特性曲线显示及存储等功能。开发的测试系统在碳化硅功率二极管的重离子和质子辐照实验中成功应用,为今后深入开展辐射效应实验研究提供了技术保障。 展开更多
关键词 碳化硅功率二极管 辐射效应 单粒子烧毁 测试系统
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PIN型功率二极管动态特性物理模型参数提取 被引量:19
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作者 方春恩 李威 +3 位作者 李先敏 李伟 任晓 刘星 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2015年第6期208-215,共8页
PIN型功率二极管在电能变换和处理的电力电子装置中被广泛应用,但是长期以来其内部物理模型参数有效提取方法的缺乏限制了其仿真模型的应用和使用水平的提高。本文以PIN型功率二极管为对象,在对其内部物理结构与动态特性分析基础上,确... PIN型功率二极管在电能变换和处理的电力电子装置中被广泛应用,但是长期以来其内部物理模型参数有效提取方法的缺乏限制了其仿真模型的应用和使用水平的提高。本文以PIN型功率二极管为对象,在对其内部物理结构与动态特性分析基础上,确定了决定其动态特性的关键参数。采用Saber软件动态仿真与量子遗传算法相结合的方法对PIN型功率二极管内部关键物理模型参数进行优化辨识。最后,对ZP800A3000V型号的PIN型功率二极管器件进行了参数提取和实验测试,证明了该方法的有效性。 展开更多
关键词 PIN功率二极管 物理模型 动态特性 参数提取
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新型SiGe/Si异质结开关功率二极管的特性分析及优化设计 被引量:10
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作者 高勇 陈波涛 杨媛 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第7期735-740,共6页
将SiGe技术应用于功率半导体器件的特性改进 ,提出了新型SiGe/Si异质结p i n开关功率二极管结构 ,在分析器件结构机理的基础上 ,用Medici模拟了该器件的特性并进行了优化设计 .结果表明 ,该功率二极管具有低的正向压降 ,较少的存贮电荷 ... 将SiGe技术应用于功率半导体器件的特性改进 ,提出了新型SiGe/Si异质结p i n开关功率二极管结构 ,在分析器件结构机理的基础上 ,用Medici模拟了该器件的特性并进行了优化设计 .结果表明 ,该功率二极管具有低的正向压降 ,较少的存贮电荷 ,其性能远远超过Si的同类型结构 .这种性能的改进无需采用少子寿命控制技术 ,因而很容易集成于功率IC中 . 展开更多
关键词 开关功率二极管 SIGE/SI异质结 功率损耗 通态压降 存贮电荷
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功率二极管反向恢复特性的仿真研究 被引量:8
6
作者 胡庆彬 卢元元 《电力电子技术》 CSCD 北大核心 1999年第5期45-48,共4页
在国际电力电子领域对功率二极管模型研究成果的基础上,利用计算机仿真对功率二极管的反向恢复过程和特性进行了较深入、系统的研究,得出了一些有实际意义的结论。
关键词 仿真 瞬态特性 功率二极管 反向恢复
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一种新型n^-区多层渐变掺杂SiGe/Si功率开关二极管 被引量:3
7
作者 马丽 高勇 王彩琳 《电子器件》 CAS 2004年第2期232-235,共4页
n- 区掺杂浓度采用多层渐变式结构的p+ (SiGe) n- n+ 异质结功率二极管 ,对该新结构的反向恢复特性及正反向I -V特性进行了模拟 ,从器件运行机理上对模拟结果做出了详细的分析。与n- 区固定掺杂的普通p+ (SiGe) n- n+ 二极管相比 ,... n- 区掺杂浓度采用多层渐变式结构的p+ (SiGe) n- n+ 异质结功率二极管 ,对该新结构的反向恢复特性及正反向I -V特性进行了模拟 ,从器件运行机理上对模拟结果做出了详细的分析。与n- 区固定掺杂的普通p+ (SiGe) n- n+ 二极管相比 ,在正向压降基本不发生变化的前提下 ,渐变掺杂后的器件反向恢复时间可缩短一半 ,反向峰值电流能降低 33% ,反向恢复软度因子可提高 1 5倍。并且 ,随着n- 区渐变掺杂的层数增多 ,反向恢复特性越好。 展开更多
关键词 SIGE/SI异质结 功率二极管 多层渐变掺杂 快速软恢复
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SiGeC/Si功率二极管的数值模拟与分析 被引量:1
8
作者 高勇 刘静 +1 位作者 马丽 余明斌 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第6期1068-1072,共5页
将SiGeC技术应用于功率半导体器件的特性改进,提出了一种新型p+(SiGeC)n-n+异质结功率二极管结构.在分析SiGeC合金材料物理特性的基础上,给出了该结构的关键物理参数模型,并在此基础上利用MEDICI模拟,对比分析了C的引入对器件各种电特... 将SiGeC技术应用于功率半导体器件的特性改进,提出了一种新型p+(SiGeC)n-n+异质结功率二极管结构.在分析SiGeC合金材料物理特性的基础上,给出了该结构的关键物理参数模型,并在此基础上利用MEDICI模拟,对比分析了C的引入对器件各种电特性的影响.此外,还模拟比较了不同p+区厚度对器件反向漏电流的影响.结果表明:在SiGe/Si功率二极管中加入少量的C,在基本不影响器件正向I V特性和反向恢复特性的前提下,大大减少了器件的反向漏电流,并且C的加入还减小了器件特性对材料临界厚度的依赖性,提高了器件稳定性. 展开更多
关键词 SiGeC/Si异质结 功率二极管 反向恢复 漏电流
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超结硅锗功率二极管电学特性的研究 被引量:1
9
作者 马丽 高勇 +1 位作者 王冬芳 张如亮 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2010年第3期333-337,共5页
超结SiGe功率开关二极管可以克服常规Si功率二极管存在的一些缺陷,如阻断电压增大的同时,正向导通压降也将增大,反向恢复时间也变长。该新型功率二极管有两个重要特点:一是由轻掺杂的p型柱和n型柱相互交替形成超结结构,代替传统功率二... 超结SiGe功率开关二极管可以克服常规Si功率二极管存在的一些缺陷,如阻断电压增大的同时,正向导通压降也将增大,反向恢复时间也变长。该新型功率二极管有两个重要特点:一是由轻掺杂的p型柱和n型柱相互交替形成超结结构,代替传统功率二极管的n-基区;二是p+区采用很薄的应变SiGe材料。该器件可以同时实现高阻断电压、低正向压降和快速恢复的电学特性。与相同器件厚度的常规Si功率二极管相比较,反向阻断电压提高了42%,反向恢复时间缩短了40%,正向压降减小了约0.1V(正向电流密度为100A/cm2时)。应变SiGe层中Ge含量和器件的基区厚度是影响超结SiGe二极管电学特性的重要参数,详细分析了该材料参数和结构参数对正向导通特性、反向阻断特性和反向恢复特性的影响,为器件结构设计提供了实用的参考价值。 展开更多
关键词 硅锗二极管 超结 电学特性 基区厚度 锗含量
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温度对SiGe/Si异质结功率二极管电学特性的影响(英文) 被引量:1
10
作者 马丽 谢加强 +1 位作者 陈琳楠 高勇 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2014年第6期514-521,共8页
在考虑到各种物理机制如载流子-载流子散射、俄歇复合、禁带窄化效应及结温效应等的基础上,数值模拟分析了SiGe/Si功率开关二极管的各种温度依赖特性。对Si和SiGe/Si功率二极管而言,温度对器件的正向压降VF、反向击穿电压VB以及反向漏电... 在考虑到各种物理机制如载流子-载流子散射、俄歇复合、禁带窄化效应及结温效应等的基础上,数值模拟分析了SiGe/Si功率开关二极管的各种温度依赖特性。对Si和SiGe/Si功率二极管而言,温度对器件的正向压降VF、反向击穿电压VB以及反向漏电流JR的影响规律基本相似,即随着温度的升高,正向压降降低,击穿电压增加,反向漏电流迅速提高。然而在相同的温度下,与Si功率开关二极管相比,SiGe/Si二极管(20%Ge含量)的正向压降降低了近0.1V(在正向电流密度10A/cm2的情况下),反向恢复时间缩短了一半以上,反向峰值电流密度也下降了约三分之一,软度因子S提高了2倍多。SiGe二极管的另外一个重要优点是其反向恢复特性受温度影响很小。当温度从300K增加到400K时,Si功率二极管的反向恢复时间增加了近1倍,而SiGe/Si二极管(20%Ge含量)的反向恢复时间基本保持不变。SiGe/Si功率开关二极管的一个缺点是在高温下产生较大的漏电流,但这可以通过适当降低Ge含量来改善。Ge的引入为器件设计提供了更大的自由度,其含量对器件特性有重要影响。为了获得低的正向压降和短的反向恢复时间,应该提高Ge的含量,但Ge含量增加将导致大的漏电流,因此Ge含量的大小应该优化折衷考虑。 展开更多
关键词 功率开关二极管 硅锗/硅异质结 温度特性
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大功率LED封装的散热分析 被引量:1
11
作者 陆建华 朱金荣 +3 位作者 尹志威 易峰 唐开远 倪晓武 《光电子技术》 CAS 北大核心 2013年第4期285-288,共4页
建立大功率LED的三维封装模型,利用有限元方法对LED的温度场分布进行模拟计算,通过改变LED封装的相关参数,分析得到了键合材料和基板厚度等对LED封装散热的影响,这一设计方法对优化LED的封装具有一定的指导意义。
关键词 大功率 LED 散热 有限元方法
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超低漏电流超快恢复SiGeC功率二极管研究 被引量:1
12
作者 刘静 高勇 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第11期2525-2529,共5页
提出一种超低漏电流超快恢复SiGeC p-i-n二极管结构.基于异质结电流输运机制,该SiGeC二极管实现了低通态压降下高电流密度的传输,改善了二极管的反向恢复特性,同时具有较低的反向漏电流.与少子寿命控制技术相比,该器件有效协调了降低通... 提出一种超低漏电流超快恢复SiGeC p-i-n二极管结构.基于异质结电流输运机制,该SiGeC二极管实现了低通态压降下高电流密度的传输,改善了二极管的反向恢复特性,同时具有较低的反向漏电流.与少子寿命控制技术相比,该器件有效协调了降低通态电压、减小反向漏电流、缩短反向恢复时间三者之间的矛盾.对不同温度下器件反向恢复特性研究结果表明,SiGeC二极管的反向恢复时间与同结构SiGe二极管相比,350K时缩短了1/3,400K时缩短了40%以上,器件的热稳定性显著提高,降低了对器件后续制作工艺的限制,有益于功率集成. 展开更多
关键词 硅锗碳 超低漏电流超快恢复 热稳定性
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PIN功率二极管参数辨识及有效性验证 被引量:2
13
作者 高艳霞 王道洪 陈伯时 《电气技术》 2006年第3期77-82,93,共7页
本文论述了采用实验和仿真相结合的参数辨识方法,通过器件的外特性辨识其内部物理模型参数。这一方法的实现依赖于最优化算法的应用,通过最优化算法的迭代不断促使仿真波形向实验波形逼近,从而实现器件模型参数的自动辨识。在实现功率... 本文论述了采用实验和仿真相结合的参数辨识方法,通过器件的外特性辨识其内部物理模型参数。这一方法的实现依赖于最优化算法的应用,通过最优化算法的迭代不断促使仿真波形向实验波形逼近,从而实现器件模型参数的自动辨识。在实现功率二极管模型参数辨识的基础上,对所辨识的参数进行了有效性验证。本文给出了以BYT12PI100为例的实验结果。 展开更多
关键词 PIN功率二极管 参数辨识 有效性验证 最优化算法
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大功率快速软恢复二极管概述 被引量:10
14
作者 张海涛 张斌 《半导体情报》 2001年第3期1-3,32,共4页
详细介绍了快速软恢复二极管的工作原理、参数分析和现状 ,并且指出了快速软恢复二极管的发展方向及主要的技术难点。
关键词 功率二极管 软恢复 工作原理
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A Novel Ideal Ohmic Contact SiGeC/Si Power Diode with Graded Doping Concentration
15
作者 刘静 高勇 +1 位作者 杨媛 王彩琳 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第3期342-348,共7页
A novel structure of ideal ohmic contact p^+ (SiGeC)-n^- -n^+ diodes with three-step graded doping concentration in the base region is presented, and the changing doping concentration gradient is also optimized. U... A novel structure of ideal ohmic contact p^+ (SiGeC)-n^- -n^+ diodes with three-step graded doping concentration in the base region is presented, and the changing doping concentration gradient is also optimized. Using MEDICI, the physical parameter models applicable for SiGeC/Si heterojunction power diodes are given. The simulation results indicate that the diodes with graded doping concentration in the base region not only have the merit of fast and soft reverse recovery but also double reverse blocking voltage,and their forward conducting voltage has dropped to some extent,compared to the diodes with constant doping concentration in the base region. The new structure achieves a good trade-off in Qs-Vf-Ir ,and its combination of properties is superior to ideal ohmic contact diodes and conventional diodes. 展开更多
关键词 SiGeC/Si heterojunction power diodes reverse blocking voltage ohmic contact
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基于有限元仿真软件的二极管优化设计
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作者 朱金荣 唐开远 +1 位作者 尹志威 赵成 《扬州大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2013年第2期49-51,56,共4页
为了研究二极管的失效机制,利用有限元仿真软件建立二维有限元模型,对二极管进行热应力分析,并对其引脚尺寸进行优化设计.结果表明:二极管的应力分布不均匀主要集中在芯片位置,导致芯片较易损坏;引脚尺寸是影响二极管应力的一个因素,改... 为了研究二极管的失效机制,利用有限元仿真软件建立二维有限元模型,对二极管进行热应力分析,并对其引脚尺寸进行优化设计.结果表明:二极管的应力分布不均匀主要集中在芯片位置,导致芯片较易损坏;引脚尺寸是影响二极管应力的一个因素,改变引脚尺寸可以在很大程度上减小二极管的残余应力.基于有限元仿真软件的设计可为优化二极管应力提供一种快速、科学的方法. 展开更多
关键词 二极管 有限元模型 热应力分析 优化设计
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SiGeC/Si异质结二极管特性分析与优化设计
17
作者 刘静 高勇 +1 位作者 王彩琳 马丽 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2008年第4期621-626,共6页
基于异质结理论,提出了一种新型p+(SiGeC)-n--n+异质结功率二极管结构。分析了C对SiGe合金的应变补偿作用的物理机理。利用MEDICI模拟、对比分析了C的引入对器件电特性的影响,并针对不同Ge/C组分比进行优化设计。结果表明:在SiGe/Si功... 基于异质结理论,提出了一种新型p+(SiGeC)-n--n+异质结功率二极管结构。分析了C对SiGe合金的应变补偿作用的物理机理。利用MEDICI模拟、对比分析了C的引入对器件电特性的影响,并针对不同Ge/C组分比进行优化设计。结果表明:在SiGe/Si功率二极管中加入少量的C,在基本不影响器件正向I-V特性和反向恢复特性的前提下,大大减少了器件的反向漏电流,提高了器件稳定性,而且对于一定的Ge含量存在一个C的临界值,使得二极管具有最小的反向漏电流,该临界值的提出,对研究其它结构SiGeC/Si异质结半导体器件有一定的参考意义。 展开更多
关键词 硅锗碳 功率二极管 临界值 漏电流
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SiGeC异质结功率二极管通态特性研究
18
作者 马丽 高勇 +1 位作者 刘静 王彩琳 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2008年第3期455-459,共5页
研究了一种大功率低功耗p+(SiGeC)-n--n+异质结二极管结构,分析了Ge、C含量对器件正向通态特性的影响。结果表明:与常规的Si p-i-n二极管相比,在正向电流密度不超过1000 A/cm2情况下,p+(SiGeC)-n--n+二极管的正向压降有明显的降低。当... 研究了一种大功率低功耗p+(SiGeC)-n--n+异质结二极管结构,分析了Ge、C含量对器件正向通态特性的影响。结果表明:与常规的Si p-i-n二极管相比,在正向电流密度不超过1000 A/cm2情况下,p+(SiGeC)-n--n+二极管的正向压降有明显的降低。当电流密度为10 A/cm2时,Si p-i-n二极管的压降为0.655 V,而SiGeC异质结二极管的压降只有0.525 V,大大降低了器件的通态功耗。在相同正向电流密度的条件下,SiGeC异质结二极管在n-区存储的载流子比Si二极管的减少了1个数量级以上,这导致前者的关断时间远小于后者。 展开更多
关键词 硅锗碳/硅异质结功率二极管 正向通态特性 大功率 低功耗
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SiGe超快速软恢复功率开关二极管(英文)
19
作者 马丽 高勇 +1 位作者 刘静 余明斌 《功能材料与器件学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第5期490-494,共5页
SiGe材料由于禁带带隙较窄和与Si工艺相兼容的优点,被广泛用于高频双极晶体管的制造中。实验把SiGe/Si异质结应用于功率器件方面,制造出了超快速软恢复SiGe/Si异质结功率开关二极管。与同结构的传统Si二极管相比,该功率二极管可以获得... SiGe材料由于禁带带隙较窄和与Si工艺相兼容的优点,被广泛用于高频双极晶体管的制造中。实验把SiGe/Si异质结应用于功率器件方面,制造出了超快速软恢复SiGe/Si异质结功率开关二极管。与同结构的传统Si二极管相比,该功率二极管可以获得更短的反向恢复时间,低的正向压降,低的反向峰值电流,较软的恢复特性。30%Ge含量的SiGe二极管反向恢复时间比同结构的Si二极管缩了短四分之三,软度因子接近于1。这些性能的改进无需采用少子寿命控制技术,因而很容易集成于功率集成电路中。 展开更多
关键词 SIGE/SI异质结 功率二极管 超快速 软恢复
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杂质纵向高斯分布UTBB-SOI MOSFET的虚拟阴极阈值电压解析模型
20
作者 韦素芬 陈红霞 +2 位作者 李诗勤 黄长斌 刘璟 《集美大学学报(自然科学版)》 CAS 2021年第5期472-480,共9页
采用Sentaurus Process工艺仿真工具,验证了超薄硅膜内单次纵向离子注入并快速热退火后所实现的轻掺杂杂质分布符合高斯规律。设计杂质纵向高斯分布的轻掺杂纳米UTBB-SOI MOSFET,用虚拟阴极处反型载流子浓度来定义阈值电压的方法,为器... 采用Sentaurus Process工艺仿真工具,验证了超薄硅膜内单次纵向离子注入并快速热退火后所实现的轻掺杂杂质分布符合高斯规律。设计杂质纵向高斯分布的轻掺杂纳米UTBB-SOI MOSFET,用虚拟阴极处反型载流子浓度来定义阈值电压的方法,为器件建立二维阈值电压解析模型。通过与Sentaurus Device器件仿真结果对比分析,发现:阈值电压模型能准确预测器件在不同掺杂、器件厚度和偏置电压下的阈值电压,正确反映器件的背栅效应,其模拟结果与理论模型相符。 展开更多
关键词 UTBB-SOI MOSFET 高斯分布 虚拟阴极 阈值电压
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