光电关联显微镜技术(Correlative light and electron microscopy, CLEM)将光学显微镜的颜色分辨能力和大视场与电子显微镜的高分辨率相结合,弥补了各自成像的局限,能获得更全面准确的定位及结构信息。本文提出了一种基于超景深光学显...光电关联显微镜技术(Correlative light and electron microscopy, CLEM)将光学显微镜的颜色分辨能力和大视场与电子显微镜的高分辨率相结合,弥补了各自成像的局限,能获得更全面准确的定位及结构信息。本文提出了一种基于超景深光学显微镜与场发射扫描电子显微镜(SEM)的光电关联与样品定位技术,用于解决SEM在样品定位过程中效率低、耗时长的问题。通过超景深光学显微镜的快速全景成像与颜色识别能力,结合高精度坐标转换算法,实现了目标区域的快速定位与SEM的高分辨率成像。实验结果表明,该技术显著提高了样品定位效率,大大缩短了定位时间,同时保持了良好的定位与成像精度。本研究为材料科学、生命科学等领域的大尺寸或复杂颜色分布样品的快速分析提供了有效解决方案。展开更多
文摘光电关联显微镜技术(Correlative light and electron microscopy, CLEM)将光学显微镜的颜色分辨能力和大视场与电子显微镜的高分辨率相结合,弥补了各自成像的局限,能获得更全面准确的定位及结构信息。本文提出了一种基于超景深光学显微镜与场发射扫描电子显微镜(SEM)的光电关联与样品定位技术,用于解决SEM在样品定位过程中效率低、耗时长的问题。通过超景深光学显微镜的快速全景成像与颜色识别能力,结合高精度坐标转换算法,实现了目标区域的快速定位与SEM的高分辨率成像。实验结果表明,该技术显著提高了样品定位效率,大大缩短了定位时间,同时保持了良好的定位与成像精度。本研究为材料科学、生命科学等领域的大尺寸或复杂颜色分布样品的快速分析提供了有效解决方案。
