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第三届国际感应加速器专题研讨会
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《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第7期1944-1944,共1页
第一轮通知由中国脉冲功率技术及应用学会主办,中国加速器学会协办,中国工程物理研究院流体物理研究所承办的"第三届国际感应加速器专题研讨会——The Third International Workshop on Recent Progress in Inductio Accelerators,201... 第一轮通知由中国脉冲功率技术及应用学会主办,中国加速器学会协办,中国工程物理研究院流体物理研究所承办的"第三届国际感应加速器专题研讨会——The Third International Workshop on Recent Progress in Inductio Accelerators,2011"(RPIA’11)将于2011年10月18~21日在四川省都江堰市举行。热忱欢迎国内外同行及相关领域研究人员参加会议。 展开更多
关键词 感应加速器 专题研讨会 中国工程物理研究院 国际 WORKSHOP 脉冲功率技术 物理研究所 都江堰市
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第三届国际感应加速器专题研讨会
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《中国工程物理研究院科技年报》 2012年第1期I0004-I0004,共1页
2011年10月17-20日,由中国脉冲功率技术及应用学会主办,中国工程物理研究院科学技术协会和中国加速器学会协办,中国工程物理研究院流体物理研究所承办的第三届国际感应加速器专题研讨会在都江堰召开。
关键词 感应加速器 专题研讨会 中国工程物理研究院 国际 脉冲功率技术 科学技术协会 物理研究所 都江堰
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用于感应加速器的大电流激光离子源
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作者 柳柳 《等离子体应用技术快报》 2000年第11期15-17,共3页
关键词 感应加速器 大电流激光离子源 重离子聚变
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Design of Elliptical Reflection Zone Plate for Monochromatization of the Ultrafast Betatron Radiation at Low Energy Band 被引量:2
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作者 杨祖华 赵宗清 +4 位作者 魏来 张强强 钱凤 谷渝秋 曹磊峰 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2014年第5期22-25,共4页
The elliptical reflection zone plate is a kind of optical element in soft x-ray and x-ray ranges and has focusing and dispersion properties. Compared with a transmission zone plate, the required dispersion ordei, can ... The elliptical reflection zone plate is a kind of optical element in soft x-ray and x-ray ranges and has focusing and dispersion properties. Compared with a transmission zone plate, the required dispersion ordei, can be easily separated from zeroth order diffraction. It is fabricated on a bulk substrate and does not have much difficulty in the fabrication process. We design a 1000-zone off-axis elliptical reflection zone plate for the rnonochromatization of the ultrafast betatron radiation at the low energy band, at the designed wavelength of 2.478 nm (500eV) which is an important spectral part of the betatron radiation, with high spatial resolution, high spectral resolution. Moreover, we simulate the designed reflection zone plate properties. The simulation results show that the spatial resolutions in the spatial direction and the spectral direction are 6.4μm and 7.3μm (full width half maximum), respectively,, and the spectral resolution reaches up to 496 for the well aligned point source system, which is in good agreement with the theoretical predictions. In addition, we discuss some factors influencing the spectral and spatial resolution, such as the zone number, zone area and the incidence wavelength. The elliptical reflection zone plate also has potential applications in investigating x-ray fluorescence spectra and other fields. 展开更多
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