期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到10篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
用於气相瞬变体紫外光电子能谱仪的双加热进样器 被引量：8
1
作者 赵恒奇 王殿勋 徐广智 《分析仪器》 CAS 1991年第4期23-26,共4页
本文报导用于气相瞬变体研究的紫外光电子能谱仪(UPS)双加热进样器系统.它不但能广泛地用于一般固体样品的升华研究,而且是热解产生瞬变活泼中间体的优秀方法.文中给出了用这种装置研究某些化合物所获得的UPS谱.
关键词 气相瞬变体 电子能谱仪 紫外光
在线阅读 下载PDF
高灵敏度的高分辨率电子能量损失谱计算机控制系统
2
作者 侯晓远 黄列 +3 位作者 卢学坤 丁训民 董国胜 陈平 《真空科学与技术》 CSCD 1992年第5期379-383,共5页
对进口ADES-400型角分辨电子能谱仪的计算机控制录谱系统进行了改造,使谱仪增加了高分辨电子能量损失谱(HREELS)的计算机控制录谱功能,并且使HREELS谱的灵敏度提高了近两个数量级。
关键词 电子能谱仪 计算机控制 损失谱
在线阅读 下载PDF
潘宁离子枪AG21的故障诊断和修复
3
作者 吴正龙 《现代仪器》 2003年第4期48-48,共1页
在离子枪和电源被损后,通过自行测定分析,计算出励磁线圈的匝数、励磁电流 和电压,并成功地修复潘宁离子枪及其电源。
关键词 电子能谱仪 潘宁离子枪 故障诊断 修复 励磁线圈
在线阅读 下载PDF
电子能谱仪中高压电源“假过载”故障的检修
4
作者 吴正龙 《国外分析仪器技术与应用》 1998年第3期37-38,共2页
介绍了原英国ＶＧ公司电子能谱仪高压电源的“假过载”现象的分析及排除。
关键词 电子能谱仪 维修 故障检修 高压电源
在线阅读 下载PDF
Na_xCoO_2·yH_2O体系的高分辨电子能量损失谱和电子结构研究
5
作者 肖睿娟 杨槐馨 +2 位作者 陈江华 马超 李建奇 《电子显微学报》 CAS CSCD 2007年第3期171-178,共8页
本文通过高分辨电子能量损失谱(EELS)的实验分析与密度泛函计算相结合的方法,研究了NaxCoO2.yH2O系统的电子结构特性和电子关联效应。实验结果表明,金属性Na0.3CoO2材料和电荷有序绝缘体Na0.5CoO2的O-K吸收边存在明显的结构差别,在Na0.5... 本文通过高分辨电子能量损失谱(EELS)的实验分析与密度泛函计算相结合的方法,研究了NaxCoO2.yH2O系统的电子结构特性和电子关联效应。实验结果表明,金属性Na0.3CoO2材料和电荷有序绝缘体Na0.5CoO2的O-K吸收边存在明显的结构差别,在Na0.5CoO2的EELS中第一个峰发生明显分裂,密度泛函计算证实这种分裂现象和电子关联效应直接相关。通过理论模拟谱线与实验谱线的比较确定了其电子关联强度为U=3.0 eV。在Na0.3CoO2.yH2O(y=0,0.6,1.3)超导体系中,实验发现其能损谱的低能部分随着水含量的增加发生系统的变化,损失峰向低能量方向逐步移动。电子结构计算表明水分子的插入可以引起费米面附近能态原子轨道杂化情况的改变,从而导致EELS的变化。 展开更多
关键词 电子能量损失谱 密度泛函理论 NaxCoO2.yH2O 电子结构 强关联体系
在线阅读 下载PDF
基于STEM-EELS方法在纳米尺度上测量表面声子强度 被引量：4
6
作者 刘秉尧 李宁 +3 位作者 孙元伟 李跃辉 高鹏 俞大鹏 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2018年第5期474-480,共7页
单色仪和球差校正器的装备使得透射电子显微镜同时具备高空间和高能量分辨率。基于扫描透射电子显微镜-电子能量损失谱(STEM-EELS)方法可以实现在纳米尺度上测量材料的声子结构,这为研究表界面和缺陷的声子行为及其与微观结构之间的关... 单色仪和球差校正器的装备使得透射电子显微镜同时具备高空间和高能量分辨率。基于扫描透射电子显微镜-电子能量损失谱(STEM-EELS)方法可以实现在纳米尺度上测量材料的声子结构,这为研究表界面和缺陷的声子行为及其与微观结构之间的关系提供了强有力的手段。本文测量了六方氮化硼(h-BN)纳米片体内、表面、表面附近真空中声子信号的强度,利用多种拟合方法探究了其衰减行为并做出理论解释。对比了各种拟合方法的优缺点,讨论了它们的适用范围,提出了一套简单的经验公式来拟合真空中信号强度的衰减行为,并与其他拟合方法对比。 展开更多
关键词 单色仪 STEM-EELS 六方氮化硼 声子 定量分析
在线阅读 下载PDF
纳米分辨STEM-EELS研究单晶MgO辐照缺陷振动谱 被引量：1
7
作者 赵娜 杜进隆 +5 位作者 亓瑞时 时若晨 李跃辉 付恩刚 高鹏 徐军 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2020年第6期687-693,共7页
本文通过离子辐照技术在单晶MgO中引入辐照缺陷,利用X射线衍射(XRD)结合透射电子显微镜(TEM)表征辐照引入的缺陷,使用6 meV能量分辨率和纳米空间分辨的扫描透射电子显微镜电子能量损失谱技术(STEM-EELS)测量辐照前后单晶MgO声子谱。论... 本文通过离子辐照技术在单晶MgO中引入辐照缺陷,利用X射线衍射(XRD)结合透射电子显微镜(TEM)表征辐照引入的缺陷,使用6 meV能量分辨率和纳米空间分辨的扫描透射电子显微镜电子能量损失谱技术(STEM-EELS)测量辐照前后单晶MgO声子谱。论文研究离子辐照引入点缺陷对单晶MgO声子结构的影响,结果表明辐照点缺陷会引起单晶MgO声子能量的改变。本论文对于发展离子辐照缺陷调控材料声子结构这一技术路线具有重要启发意义。 展开更多
关键词 电子能量损失谱 单晶MgO 辐照点缺陷 振动谱
在线阅读 下载PDF
石墨烯的低电压扫描透射电子显微学成像研究 被引量：9
8
作者 周武 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2018年第5期524-531,共8页
石墨烯由于其独特的物理、化学特性在过去十余年里备受关注。从2010年开始,基于石墨烯的单原子层厚度以及半金属特性,笔者利用石墨烯作为模型体系,探索单原子分辨率的低电压球差校正扫描透射电子显微学(STEM)定量成像分析及电子能量损失... 石墨烯由于其独特的物理、化学特性在过去十余年里备受关注。从2010年开始,基于石墨烯的单原子层厚度以及半金属特性,笔者利用石墨烯作为模型体系,探索单原子分辨率的低电压球差校正扫描透射电子显微学(STEM)定量成像分析及电子能量损失谱(EELS)分析技术,进而利用这些低电压STEM技术研究新型二维原子晶体材料的结构和缺陷物理。本文通过回顾和总结笔者在石墨烯的低电压STEM成像方面的工作,希望为今后低电压STEM技术在其他纳米材料体系研究中的应用提供参考。 展开更多
关键词 石墨烯 低电压 扫描透射电子显微学 原子分辨 定量成像分析
在线阅读 下载PDF
纳米分辨Aloof STEM-EELS无损研究H/D同位素材料振动谱 被引量：2
9
作者 李宁 计宇诚 +4 位作者 李跃辉 刘秉尧 时若晨 杜进隆 高鹏 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2020年第5期543-549,共7页
本文使用亚10 meV能量分辨率和纳米空间分辨的扫描透射电子显微镜电子能量损失谱技术(STEM-EELS),在aloof条件下无损测量了磷酸二氢钾(KH2PO4)和磷酸二氘钾(KD2PO4)的振动模式,并结合红外和拉曼光谱方法对测得的模式进行了标定。在此基... 本文使用亚10 meV能量分辨率和纳米空间分辨的扫描透射电子显微镜电子能量损失谱技术(STEM-EELS),在aloof条件下无损测量了磷酸二氢钾(KH2PO4)和磷酸二氘钾(KD2PO4)的振动模式,并结合红外和拉曼光谱方法对测得的模式进行了标定。在此基础上,进一步定量测量了振动信号在真空中的强度衰减行为,与理论相符合。该工作对电镜下使用快电子能量损失谱研究同位素以及电子束敏感材料的空间分辨振动谱具有启发意义。 展开更多
关键词 电子能量损失谱 aloof测量 磷酸二氢/氘钾 振动模式 同位素
在线阅读 下载PDF
高分辨率电子能量损失谱在材料科学中的应用 被引量：1
10
作者 王乙潜 杜庆田 +2 位作者 丁艳华 梁文双 段晓峰 《物理》 CAS 北大核心 2010年第12期839-843,共5页
简要介绍了FEI Titan80-300STEM扫描透射电镜中装配的Wien-filter型能量单色器（monochromator）.文章特别指出,装配有能量单色器的FEI Titan80-300STEM扫描透射电镜,可以直接给出高能量分辨率（~0.1eV）的电子能量损失谱.利用高分辨电... 简要介绍了FEI Titan80-300STEM扫描透射电镜中装配的Wien-filter型能量单色器（monochromator）.文章特别指出,装配有能量单色器的FEI Titan80-300STEM扫描透射电镜,可以直接给出高能量分辨率（~0.1eV）的电子能量损失谱.利用高分辨电子能量损失谱,在高能损失区,对于K或L能级自然宽度（natural width of energylevel）小于0.5eV的元素,可以获得更细致的的近限精细结构（energy-loss near-edge structure）,更有利于解析其电子结构;在低能损失区,可以用于精确地确定半导体材料的带隙（bandgap）以及p型掺杂引起的带隙能的变化. 展开更多
关键词 高分辨电子能量损失谱 近限精细结构 半导体带隙
原文传递
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部