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粗制氧化锌的X射线衍射全谱图拟合定量相分析探讨 被引量:13
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作者 吴景武 于泓锦 +1 位作者 冯均利 唐梦奇 《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 2018年第9期14-19,共6页
采用X射线荧光光谱(XRF)半定量法或化学法分析粗制氧化锌中ZnO含量时,如存在Zn、ZnFe_2O_4等非ZnO物相,结果往往偏高,导致一些禁止进口的固体废物进入我国。为此,实验选取两种粗制氧化锌试样,先采用X射线荧光光谱半定量法测定ZnO含量,... 采用X射线荧光光谱(XRF)半定量法或化学法分析粗制氧化锌中ZnO含量时,如存在Zn、ZnFe_2O_4等非ZnO物相,结果往往偏高,导致一些禁止进口的固体废物进入我国。为此,实验选取两种粗制氧化锌试样,先采用X射线荧光光谱半定量法测定ZnO含量,然后采用X射线衍射(XRD)分析技术和Rietveld全谱图拟合定量相分析。利用整个衍射空间的散射信息,用多个不同物理含义的模型对实验数字衍射谱进行Rietveld全谱图拟合。拟合过程采用线性最小平方拟合算法不断调节模型中参数,获得与实际谱线吻合的理论谱线(加权图形剩余方差因子Rwp<10%),最后获得试样组成相的含量。采用在粗制氧化锌中分别加入一定量ZnO,按照上述方法进行Rietveld全谱图拟合分析,结果差值小于5.0%。结果表明:方法精修后得到粗制氧化锌中各常见物相的晶体结构参数与已报道的文献非常接近,实现了ZnO相含量的更准确测定,可用于进口粗制氧化锌的检验监管和属性鉴别。 展开更多
关键词 粗制氧化锌 X射线荧光光谱(XRF) X射线衍射 RIETVELD 定量分析 物相分析
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一维非公度调制结构安康矿X射线衍射及四维空间指标化研究 被引量:2
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作者 李国武 马喆生 +2 位作者 施倪承 熊明 范海福 《矿物岩石》 CAS CSCD 北大核心 2005年第3期41-46,共6页
采用最新的CCD单晶衍射仪,对一维非公度调制结构矿物安康矿进行了单晶和粉晶X射线衍射研究,利用单晶X射线衍射和三维超结构分析方法测定晶胞参数a=1.014 08(10)nm,b=1.014 08(10)nm,c=0.295 72(6)nm,α=90,°=β90,°γ=90,... 采用最新的CCD单晶衍射仪,对一维非公度调制结构矿物安康矿进行了单晶和粉晶X射线衍射研究,利用单晶X射线衍射和三维超结构分析方法测定晶胞参数a=1.014 08(10)nm,b=1.014 08(10)nm,c=0.295 72(6)nm,α=90,°=β90,°γ=90,°调制向量q=0.444c*,据此对单晶衍射数据进行了四维空间的指标化。并用新近研究开发的利用单晶体来进行粉晶衍射的新方法对粉晶衍射实验及粉晶数据的四维空间进行指标化研究。 展开更多
关键词 非公度调制结构 X射线衍射 指标化 安康矿
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显微织构取向分布函数的电子背散射衍射测定 被引量:3
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作者 刘静 雷建林 王仁卉 《电子显微学报》 CAS CSCD 1999年第4期462-467,共6页
用电子背散射衍射( E B S D)技术可以分别对试样中不同类型的晶粒,测定其显微织构。当 E B S D 附件只能给出显微织构的极图、反极图和每一晶粒的欧拉角时,本文介绍了如何编写计算机程序由欧拉角数据获取取向分布函数( O ... 用电子背散射衍射( E B S D)技术可以分别对试样中不同类型的晶粒,测定其显微织构。当 E B S D 附件只能给出显微织构的极图、反极图和每一晶粒的欧拉角时,本文介绍了如何编写计算机程序由欧拉角数据获取取向分布函数( O D F)。当试样在扫描电镜中的放置方位不同于仪器所规定的标准放置方位时,本文介绍了如何由仪器给出的欧拉角计算出对应于非标准放置的试样的欧拉角,并进而获取 O D F的方法。 展开更多
关键词 电子背散射衍射 显微织构 取向分布函数 晶粒
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单晶衍射花样与晶体结构之间的数理关系及绘制方法 被引量:5
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作者 陈亮维 王孟金 +3 位作者 霍广鹏 李敬敬 唐艳艳 虞澜 《昆明理工大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2020年第5期17-20,共4页
分析透射电子衍射斑点图对于研究晶体结构十分重要.本文研究了单晶透射电子或X光衍射花样与晶体结构、晶体取向之间的数理关系,以四方晶体为例,绘制了简单四方和体心四方晶体的标准透射衍射花样,提出了实测四方晶体透射衍射花样的指标... 分析透射电子衍射斑点图对于研究晶体结构十分重要.本文研究了单晶透射电子或X光衍射花样与晶体结构、晶体取向之间的数理关系,以四方晶体为例,绘制了简单四方和体心四方晶体的标准透射衍射花样,提出了实测四方晶体透射衍射花样的指标化方法.这为科研工作者深入理解单晶透射衍射斑点图的物理含义,解析实测单晶透射衍射花样的晶体结构和晶体取向提供了基础理论支撑. 展开更多
关键词 单晶衍射斑点 四方晶系 透射衍射 倒易矢量
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Determination of Structure and Polarity of Si C Single Crystal by X-Ray Diffraction Technique 被引量:1
5
作者 郑新和 渠波 +2 位作者 王玉田 杨辉 梁骏吾 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期35-39,共5页
Structure and polarity of the Si C single crystal have been analyzed with the four- circle X- ray diffraction method by a double- crystal diffractom eter.The hexagonal{ 10 15 } pole figure shows that this Si C sam pl... Structure and polarity of the Si C single crystal have been analyzed with the four- circle X- ray diffraction method by a double- crystal diffractom eter.The hexagonal{ 10 15 } pole figure shows that this Si C sam ple has a6 H modification.The difference between the integrated intensities m easured byω scan in the triple- axis diffraction set- up finds some convincing evidence that the surface is either a Si- terminated face or C- terminated face.The experi- mental ratios of| F( 0 0 0 L) | 2 / | F( 0 0 0 L) | 2 are in good agreem entwith the calculated ones after the dispersion cor- rections to the atomic scattering factors( L=6 ,12 and18,respectively) .Thus,this m easurem ent technique is con- venient for the application of the materials with remarkable surface polarity. 展开更多
关键词 Si C single crystal polarity hexagonal6 H scattering factor
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X衍射法分析CVD制备SnO_2多晶膜的构成及其对气敏特性的影响 被引量:2
6
作者 颜永美 沈华 蔡玉霜 《固体电子学研究与进展》 CSCD 北大核心 1995年第2期185-189,共5页
通过X光衍射图分析,确认了较低温度下CVD法生长的非掺杂SnO2晶膜含有较多的偏离SnO2配位的晶体成份,从而定性地解释了该晶膜具有较高的气体敏感度的现象。
关键词 X光衍射法 晶膜构成 气体敏感度 二氧化锡 CVD法
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人工生长白宝石单晶结构的TEM衍射测定 被引量:1
7
作者 马胜利 卢正欣 井晓天 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第2期182-184,共3页
用透射电镜选区电子衍射(TEM)方法测试了导模法生长的白宝石单晶体的晶体结构和点阵常数。测试结果表明,人工生长的白宝石单晶为六方结构,点阵常数a=0.476nm,c=1.301nm,晶胞常数比c/a=2.735。
关键词 白宝石 单晶 晶体结构 TEM衍射 人工生长
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高精度X射线双晶衍射仪的原理及其应用 被引量:2
8
作者 卢焕明 赵轶 叶志镇 《材料科学与工程》 CSCD 1997年第4期51-53,共3页
本文介绍了X射线双晶衍射仪的特点及其原理,以及利用X射线摇摆曲线技术在半导体材料研究方面的应用。
关键词 双晶衍射 摇摆曲线 超晶格 X射线
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多晶材料晶胞参数的X射线线对法最小二乘方程稳定性判别解法 被引量:1
9
作者 黄月鸿 郭常霖 《硅酸盐学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第1期42-46,共5页
晶胞参数是多晶材料晶体结构的重要参数。测定两条衍射线之间的衍射角差的线对法在实验技术上比较简便,系统误差小,可得到较精确的结果。但线对法求解晶胞参数时,最小二乘方程的某些系数组合可使误差严重积累。这些病态方程组解出的... 晶胞参数是多晶材料晶体结构的重要参数。测定两条衍射线之间的衍射角差的线对法在实验技术上比较简便,系统误差小,可得到较精确的结果。但线对法求解晶胞参数时,最小二乘方程的某些系数组合可使误差严重积累。这些病态方程组解出的晶胞参数误差很大。本研究提出一种用逆矩阵范数数值对线对法最小二乘方程组的稳定性进行判别,选择常态方程而求解晶胞参数的方法。 展开更多
关键词 晶胞参数 X射线衍射 线对法 方程稳定 晶体结构
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六方Al_(14.2)(Fe,V)_(3.0)Si_(1.3)准晶近似晶体相的电子衍射分析 被引量:1
10
作者 金头男 尹忠民 李斗星 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第11期1127-1133,共7页
利用选区电子衍射和会聚束衍射研究了喷射沉积Al-Fe-V-Si合金中一种六方相的晶体结构,其点阵常数为: a—2.52 cm, c=1.26 nm,空间群为 P6/mmm,该六方相与立方相具有固定取向关系,且 EDS分析表... 利用选区电子衍射和会聚束衍射研究了喷射沉积Al-Fe-V-Si合金中一种六方相的晶体结构,其点阵常数为: a—2.52 cm, c=1.26 nm,空间群为 P6/mmm,该六方相与立方相具有固定取向关系,且 EDS分析表明,两相成分相 近.系统对比分析 SAED花样发现,六方相的某些带轴衍射谱具有立方相的二十面体结构基元表现出的衍射特征,表明六方相也 是一种准晶近似晶体相,其结构构架可能由(Fe+V)和(AI+Si)双层二十面体结构基元以 展开更多
关键词 六方Al-(Fe V)-Si相 电子衍射 准晶 结构基元
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图解法标定未知点阵的电子衍射图 被引量:2
11
作者 秦勇 李宗全 《理化检验(物理分册)》 CAS 1995年第1期39-41,共3页
报道了标定未知点阵的电子衍射图的图解法.当某一衍射点列与倾转轴基本一致时,绕此点列转动晶体,得到不同转角下的一系列衍射图.将这些衍射图画在以倾转轴为X轴的直角坐标系内,由各衍射点的坐标可以求出倒易点阵初基胞的参数,经变换、... 报道了标定未知点阵的电子衍射图的图解法.当某一衍射点列与倾转轴基本一致时,绕此点列转动晶体,得到不同转角下的一系列衍射图.将这些衍射图画在以倾转轴为X轴的直角坐标系内,由各衍射点的坐标可以求出倒易点阵初基胞的参数,经变换、约化得出相应的布喇菲点阵的类型和参数,同时对电子衍射图指标化.此图解法直观、简便,适用于任意晶体点阵,尤其是对称性不高的晶体点阵使用起来较为方便. 展开更多
关键词 图解法 电子衍射图 晶体结构 点阵
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电子通道花样的晶体学标定 被引量:1
12
作者 张启海 孙丽虹 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第3期199-202,共4页
从扫描电镜中电子通道花样的特征及形成机理的分析提出可用单晶选区电子衍射花样的标定方法对电子通道花样进行标定。给出了用这种方法对电子通道花样进行晶体学标定的具体步骤以及实际花样的标定结果。
关键词 电子通道花样 晶体学标定
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中子衍射研究Ho_2Fe_9Ga_2Al_6和Ho_2Fe_9Ga_6Al_2的
13
作者 陈东风 勾成 +4 位作者 孙凯 严启伟 张泮霖 沈保根 宫华扬 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第6期529-534,共6页
在中子三轴谱仪上用粉末中子衍射测定室温下Ho2Fe9Ga2Al6和Ho2Fe9Ga6Al2的晶体结构和磁结构,衍射数据用Izumi的Rietveld分析程序RIETAN进行轮廓精修处理,确定替代原子Ga、Al的占位及... 在中子三轴谱仪上用粉末中子衍射测定室温下Ho2Fe9Ga2Al6和Ho2Fe9Ga6Al2的晶体结构和磁结构,衍射数据用Izumi的Rietveld分析程序RIETAN进行轮廓精修处理,确定替代原子Ga、Al的占位及占位数以及磁性原子Ho、Fe的原子磁矩的大小和方向。Ho2Fe9Ga2Al6显顺磁性,Ho2Fe9Ga6Al2显亚铁磁性,显单轴各向异性。并给出了居里温度和饱和磁化强度随Ga、Al含量的变化关系。 展开更多
关键词 中子衍射 晶体结构 磁结构 磁性材料
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X射线单晶体衍射仪 被引量:7
14
作者 马礼敦 《上海计量测试》 2003年第2期46-50,共5页
一、引言 X射线单晶体衍射仪的英文名称是X-ray single cry stal diffractomet er,简写为XRD. 本仪器分析的对象是一粒单晶体,如一粒砂糖或一粒盐.在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的.将X射线(如C u的Kα辐射)射到一粒单晶体上... 一、引言 X射线单晶体衍射仪的英文名称是X-ray single cry stal diffractomet er,简写为XRD. 本仪器分析的对象是一粒单晶体,如一粒砂糖或一粒盐.在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的.将X射线(如C u的Kα辐射)射到一粒单晶体上会发生衍射,由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律,也即解出晶体的结构[1].物质或由其构成的材料的性能是与晶体的结构密切相关的,如金刚石和石墨都是由纯的碳构成的,由于它们的晶体结构不同就有着截然不同的性质. 展开更多
关键词 x射线单晶体衍射仪 晶体结构 分析 原理 构造
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四硼酸钾晶体的拉曼振动谱
15
作者 王继扬 袁多荣 +1 位作者 李丽霞 刘苏淮 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 1993年第3期281-284,共4页
本文报道了四硼酸钾(K_2B_4O_7·4H_2O 简称 KB_4)晶体的拉曼光散射。用拉曼光谱分析了 KB_4晶体的结构特点,指出光谱中的最强峰仍属于畸变 BO_4四面体的振动。但由于其畸变比某些晶体如KTP 中的 TiO_6八面体小,分子极化率低,故散... 本文报道了四硼酸钾(K_2B_4O_7·4H_2O 简称 KB_4)晶体的拉曼光散射。用拉曼光谱分析了 KB_4晶体的结构特点,指出光谱中的最强峰仍属于畸变 BO_4四面体的振动。但由于其畸变比某些晶体如KTP 中的 TiO_6八面体小,分子极化率低,故散射强度远比 KTP 晶体低。由于分子中存在较多水分子,其引起的氢键使振动频率降低,谱线红移。 展开更多
关键词 四硼酸钾晶体 散射谱 振动
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YBaCo_4O_7及YBaCo_4O_(8.5)中六角超结构的电子衍射分析
16
作者 贾艳 戴瑞 《东北师大学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2011年第1期67-71,共5页
制备了氧化学剂量样品YBaCo4O7,通过电子衍射谱分析确定为六角结构,晶格常数a=0.629(5)nm,c=1.023(5)nm;制备的氧非化学剂量样品YBaCo4O8.5中,过量的氧是以超结构的方式存在.通过电子衍射方法确定了其中一种六角超结构相,其晶格参数as=b... 制备了氧化学剂量样品YBaCo4O7,通过电子衍射谱分析确定为六角结构,晶格常数a=0.629(5)nm,c=1.023(5)nm;制备的氧非化学剂量样品YBaCo4O8.5中,过量的氧是以超结构的方式存在.通过电子衍射方法确定了其中一种六角超结构相,其晶格参数as=bs=1.090(4)nm,cs=1.002(6)nm. 展开更多
关键词 电子衍射 超结构 YBaCo4O7 YBaCo4O8.5
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已知晶体电子衍射指标化中的实际问题
17
作者 施洪龙 雒敏婷 王文忠 《电子显微学报》 CAS CSCD 2015年第1期25-32,共8页
电子衍射是晶体结构分析最为常用的实验技术之一,电子衍射花样能直接反映晶体倒易点阵的特征。但利用传统方法对电子衍射花样进行指标化相当耗时、繁杂。为此,本文基于一些常用软件和DM插件对指标化过程中衍射点间距的测量、晶面间距的... 电子衍射是晶体结构分析最为常用的实验技术之一,电子衍射花样能直接反映晶体倒易点阵的特征。但利用传统方法对电子衍射花样进行指标化相当耗时、繁杂。为此,本文基于一些常用软件和DM插件对指标化过程中衍射点间距的测量、晶面间距的计算和米勒指数的指认等环节进行实例分析,对指标化过程中的一些常见问题进行可行性讨论,以期实现更为便捷的衍射分析。 展开更多
关键词 电子衍射 指标化 衍射分析
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衍射点数与晶体结构测定结果的关系初探
18
作者 林贤梯 陈冬玲 《Chinese Journal of Structural Chemistry》 SCIE CAS CSCD 1991年第4期308-313,共6页
本文从分析R、R_w和e.s.d.表式入手,结合实例讨论了衍射点数对X-射线晶体结构测定结果的影响,提出测定一个晶体结构并能获得较佳结果的最合理衍射点数(NO)至少应该比总变量数(NV)多9~10倍,即NO/NV≥9~10的看法,建议在测定晶体结构工... 本文从分析R、R_w和e.s.d.表式入手,结合实例讨论了衍射点数对X-射线晶体结构测定结果的影响,提出测定一个晶体结构并能获得较佳结果的最合理衍射点数(NO)至少应该比总变量数(NV)多9~10倍,即NO/NV≥9~10的看法,建议在测定晶体结构工作前期收集衍射数据时,应预估好2θ角范围,保证NO/NV值达到9~10的起码值,以便获得较理想的结构测定结果。 展开更多
关键词 晶体 结构测定 衍射点数
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单晶SADP标定程序编制的纯hkl法
19
作者 张启海 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第3期177-181,共5页
指出为分析复杂结构晶体的单晶SADP用hkl法编制计算机程序时遇到的困难。提出一种编制程序的纯hkl法,以实例给出了用这种方法编制的程序对Ti_3-Nb合金中O相的单晶SADP的标定结果。
关键词 hkl 单晶 SADP标定 晶体结构 程序设计
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三维极图及其测定方法
20
作者 刘毓舒 《理化检验(物理分册)》 CAS 1997年第11期14-16,共3页
多相材料中各相形状和尺寸的空间分布可能引起X射线的各向异性吸收,导致其衍射强度取决于试样相对实验坐标体系的三维取向,这种衍射强度的空间三维分布不仅可以提供衍射相的晶体学取向分布。而且能反映各组成相形状、尺寸几何分布的信... 多相材料中各相形状和尺寸的空间分布可能引起X射线的各向异性吸收,导致其衍射强度取决于试样相对实验坐标体系的三维取向,这种衍射强度的空间三维分布不仅可以提供衍射相的晶体学取向分布。而且能反映各组成相形状、尺寸几何分布的信息。介绍了一种利用普通织构测角器测定三维极图的方法。 展开更多
关键词 X射线 三维极图 多相材料 多晶材料 衍射强度
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