同步辐射SAXS技术在TATB含能材料微孔结构研究中的初步应用 被引量：9

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作者 陈波 董海山 +5 位作者 董宝中 陈银亮 陈喜平 夏庆中 荣利霞 赵辉 《原子与分子物理学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第2期191-196,共6页

TATB含能材料的微结构对该材料的感度等有明显的影响 ,因而对于材料的安全性有着特别重要的意义。小角X射线散射 (SAXS)技术是一种分析物质微观结构的重要手段 ,应用SAXS分析技术可以获取材料中几纳米到几百纳米尺度范围的亚微结构信息... TATB含能材料的微结构对该材料的感度等有明显的影响 ,因而对于材料的安全性有着特别重要的意义。小角X射线散射 (SAXS)技术是一种分析物质微观结构的重要手段 ,应用SAXS分析技术可以获取材料中几纳米到几百纳米尺度范围的亚微结构信息。利用同步辐射作为X射线源对TATB钝感炸药进行了小角散射实验测量 ,获得了SAXS测量谱。对实验谱数据进行处理 。 展开更多

关键词 同步辐射 SAXS 小角X射线散射 TATB材料 含能材料 微孔结构 感度 安全性 微观结构 钝感高能炸药

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多层膜界面粗糙度的低角X射线衍射研究 被引量：4

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作者 王凤平 崔明启 +1 位作者 王佩璇 方正知 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1996年第7期774-778,共5页

对磁控溅射方法制备的Ｗ／Ｓｉ周期多层膜在Ｘ射线衍时仪上进行了低角Ｘ射线衍射实验，并用动力学理论分析了膜层的周期结构和界面粗糙度，在对实验谱线的拟合过程中，考虑了界面的不对称性、周期的随机涨落及系统偏差等因素对衍射强度... 对磁控溅射方法制备的Ｗ／Ｓｉ周期多层膜在Ｘ射线衍时仪上进行了低角Ｘ射线衍射实验，并用动力学理论分析了膜层的周期结构和界面粗糙度，在对实验谱线的拟合过程中，考虑了界面的不对称性、周期的随机涨落及系统偏差等因素对衍射强度的影响，并讨论了各个参量对衍射强度影响的程度． 展开更多

关键词 多层膜 磁控溅射 低角X射线衍射 粗糙度

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X射线小角散射系统构造及应用研究 被引量：3

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作者 张丽娟 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2013年第4期289-297,共9页

X射线小角散射(SAXS)是研究介观尺度固态或液态结构的有力工具。由于SAXS有关理论和解析方法还不成熟,用于专门测试小角特性的仪器"X射线小角散射系统"发展远不如其他X射线衍射仪,而且还不为广泛了解和利用,仪器构造分析及软... X射线小角散射(SAXS)是研究介观尺度固态或液态结构的有力工具。由于SAXS有关理论和解析方法还不成熟,用于专门测试小角特性的仪器"X射线小角散射系统"发展远不如其他X射线衍射仪,而且还不为广泛了解和利用,仪器构造分析及软件也很少有人介绍。介绍了小角散射的原理及构造;探讨了影响测试结果的因素,如:光源、光路系统、分辨率、样品的厚度、探测器等。通过4个基于SAXS的应用研究实例开发了仪器的功能。以SBA-15为例,分析了如何通过该系统表征确定有序介观材料的结构;表征了取向碳纳米管/液晶高分子复合材料的结构;通过SAXS原位变温测试表征了二炔酸/三聚氰胺胶束固体的结构特征;利用SAXS确定了线性聚乙烯退火前后长周期的变化。最后,本文详细的介绍了目前仪器测试功能的局限性和硬件升级改造。 展开更多

关键词 X射线小角散射 X射线小角散射系统 碳纳米管复合材料 原位变温SAXS

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降感环三甲撑三硝胺微缺陷小角X射线散射研究

4

作者 闫冠云 黄朝强 +4 位作者 夏庆中 陈波 黄明 聂福德 吴忠华 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2010年第3期161-164,共4页

应用小角X射线散射研究含能材料降感RDX微缺陷结构,给出降感RDX样品材料内部微缺陷尺寸及微缺陷数量信息,分析了降感RDX晶体在生长过程中微缺陷变化趋势。结果表明,降感RDX微缺陷数量密度随晶体粒度增加逐渐降低,微缺陷特征尺度变化较小... 应用小角X射线散射研究含能材料降感RDX微缺陷结构,给出降感RDX样品材料内部微缺陷尺寸及微缺陷数量信息,分析了降感RDX晶体在生长过程中微缺陷变化趋势。结果表明,降感RDX微缺陷数量密度随晶体粒度增加逐渐降低,微缺陷特征尺度变化较小,另外还存在部分择优取向分布特征的微缺陷,微缺陷密度呈降低趋势。 展开更多

关键词 小角X射线散射 降感RDX 微缺陷

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小角X射线散射中Porod正偏离的校正 被引量：1

5

作者 李志宏 王俊 等 《同步辐射装置用户科技论文集》 2000年第1期168-170,共3页

当散射体系中除散射体外还存在微电子密度起伏时，实测散射强度将形成对Porod定理的正偏离，从而使散射体的散射失真。提出了一种在长狭缝准直条件下应用模糊强度校正正偏离的方法：作出ln[q^3I^-(q)]-q^2曲线，用公式n[q^3I(q)]=InK... 当散射体系中除散射体外还存在微电子密度起伏时，实测散射强度将形成对Porod定理的正偏离，从而使散射体的散射失真。提出了一种在长狭缝准直条件下应用模糊强度校正正偏离的方法：作出ln[q^3I^-(q)]-q^2曲线，用公式n[q^3I(q)]=InK'+σ^2q^2拟合大波矢区直线，求出斜率σ^2,作出ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2-q^2曲线即为无偏离的Porod曲线，由此曲线再还原出无偏离的散射强度，即I^-'(q)=exp{ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2}/q^3，再以醇热法合成的介孔氧化锆粉体为例进行了讨论。 展开更多

关键词 小角X射线散射 Porod定理 正偏离 校正 介孔氧化锆粉体 醇热法 介孔结构

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小角X射线散射法研究甲基改性氧化硅凝胶的双分形结构

6

作者 徐耀 李志宏 +4 位作者 范文浩 吴东 孙予罕 王俊 董宝中 《北京同步辐射装置年报》 2002年第1期120-124,共5页

以正硅酸乙酯[Si(OC2H5)4，TEOS]和甲基三乙氧基硅烷[CH3Si(OC2H5)3，MFES]为前驱体，通过共水解法和两步法制备出两种不同的甲基改性氧化硅凝胶，在北京同步辐射光源(BSRF)小角X射线散射(SAXS)站测量了凝胶的散射强度，计算了凝胶的平... 以正硅酸乙酯[Si(OC2H5)4，TEOS]和甲基三乙氧基硅烷[CH3Si(OC2H5)3，MFES]为前驱体，通过共水解法和两步法制备出两种不同的甲基改性氧化硅凝胶，在北京同步辐射光源(BSRF)小角X射线散射(SAXS)站测量了凝胶的散射强度，计算了凝胶的平均粒径、两相间比表面积等参数，在此基础上分析了凝胶的分形特征，发现存在两个尺度上的分形结构，分别对应于从SiO2原生颗粒到一次团聚体和从一次团聚体到簇团两种尺度。辅以透射电子显微镜(TEM)观测，证实由两种方法获得的凝胶具有非常不同的微观结构。实验证明，利用SAXS技术研究甲基改性凝胶的分形特征是获得凝胶徽观结构的有力工具。 展开更多

关键词 小角X射线散射法 正硅酸乙酯 甲基三乙氧基硅烷 改性 氧化硅凝胶 双分形结构 BSRF 散射强度

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小角X射线散射中的干涉效应

7

作者 李志宏 吴东 +2 位作者 孙予罕 赵辉 董宝中 《北京同步辐射装置年报》 2002年第1期118-119,共2页

密集散射体体系的小角散射往往存在干涉效应的影响[1]。所谓密集体系并不一定意味着有相当大的样品浓度，往往散射体的实在体积与样品体积的比值大于5％对散射曲线就有较大的影响。密集散射体之间的相互干涉效应理论上较难分析，因为这... 密集散射体体系的小角散射往往存在干涉效应的影响[1]。所谓密集体系并不一定意味着有相当大的样品浓度，往往散射体的实在体积与样品体积的比值大于5％对散射曲线就有较大的影响。密集散射体之间的相互干涉效应理论上较难分析，因为这时的散射强度不仅取决于散射体按大小的分布，而且还取决于它们在空间的位置分布。在较大角域大散射体的散射强度接近于零，实质上不参与干涉：在很小角域各种散射体的散射强度均比较高而相互干涉。这时由实验曲线计算出的散射体的几何尺寸值将小于真实值。 展开更多

关键词 小角X射线散射 干涉效应 密集体系 散射强度 散射体

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小角X射线散射实验数据的初步处理

8

作者 赵辉 李志宏 +1 位作者 吴忠华 董宝中 《北京同步辐射装置年报》 2002年第1期132-134,共3页

本文介绍北京同步辐射装置(BSRF)小角X射线散射实验站实验数据的初步处理方法，即由成像板探测器检测到的散射信号转换成角度及其对应的强度数据的方法，并对数据转换过程中可能遇到的问题进行了详细的讨论．

关键词 小角X射线散射 数据处理 同步辐射装置 BSRF 实验站 散射信号

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同步辐射X射线小角散射溶液样品蠕动实验装置的研制 被引量：5

9

作者 李怡雯 边风刚 +3 位作者 洪春霞 赵镍 杨春明 王劼 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第10期1914-1920,共7页

研制了用于同步辐射X射线小角散射实验的溶液样品蠕动实验装置,其主要特点为可有效抑制X射线对溶液样品的辐射损伤、密封性能好、操作简便,且背景散射低、消耗样品量小,还可根据实验要求实现对样品温度的控制,进行变温原位测量。此外,... 研制了用于同步辐射X射线小角散射实验的溶液样品蠕动实验装置,其主要特点为可有效抑制X射线对溶液样品的辐射损伤、密封性能好、操作简便,且背景散射低、消耗样品量小,还可根据实验要求实现对样品温度的控制,进行变温原位测量。此外,通过实验对该装置的进样量和蠕动速度进行了标定,对防辐射损伤效果进行了验证。结果表明,该装置控制精度高,并可有效减小X射线在测量过程中对样品的辐射损伤。 展开更多

关键词 同步辐射 X射线小角散射 辐射损伤 蠕动实验装置

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掠入射平面镜反射率在同步辐射源上的标定方法研究 被引量：7

10

作者 易荣清 孙可煦 +5 位作者 杨国洪 刘慎业 崔延莉 朱佩平 赵屹东 崔明启 《原子与分子物理学报》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期149-154,共6页

在北京同步辐射源的 3W 1B束线上 ,利用平面变间距光栅分光 ,获得单色性较好 ,强度较高 ,能谱连续可调的单色光源。利用该光源 ,我们实现了掠入射平面镜反射率的精密标定 ,解决了角度基准 ,转动精度 ,大动态范围测量的问题。在 2度时 ,... 在北京同步辐射源的 3W 1B束线上 ,利用平面变间距光栅分光 ,获得单色性较好 ,强度较高 ,能谱连续可调的单色光源。利用该光源 ,我们实现了掠入射平面镜反射率的精密标定 ,解决了角度基准 ,转动精度 ,大动态范围测量的问题。在 2度时 ,角度的不确定度为 2 % ,反射率的不确定度 0 .1% ,取得了突破性的进展。 展开更多

关键词 平面镜 同步辐射 ICF 反射率 标定

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高氢稀释制备微晶硅薄膜微结构的研究

11

作者 郭晓旭 董宝中 等 《同步辐射装置用户科技论文集》 1998年第1期89-94,共6页

采用高氢稀硅烷热丝化学气相沉积方法制备氢化微晶硅薄膜。其结构特征用Raman谱，红外透射谱，小角X射线散射等来表征。结果表明微晶硅的大小及在薄膜中的晶态比Xc随氢稀释度的提高而增加。而从红外谱计算得到氢含量则随氢稀释度的增加... 采用高氢稀硅烷热丝化学气相沉积方法制备氢化微晶硅薄膜。其结构特征用Raman谱，红外透射谱，小角X射线散射等来表征。结果表明微晶硅的大小及在薄膜中的晶态比Xc随氢稀释度的提高而增加。而从红外谱计算得到氢含量则随氢稀释度的增加而减小。小角X射线散射结果表明薄膜致密度随氢稀释度的增加而增加。结合红外谱和小角X射线散射的结果讨论与比较了不同相结构下硅网络中H的增加而增加。结合红外谱和小角X射线散射的结果讨论与比较了不同相结构下硅网络中H的键合状态。认为随着晶化的发生和晶化程度的提高H逐渐移向晶粒表面，在硅薄膜中H的存在形式从以SiH为主向SiH2转变，即在微晶硅膜中主要以SiH2形式存在于晶粒的界面。 展开更多

关键词 氢化 小射X射线散射 稀释 制备 微晶硅薄膜 微结构

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聚乙烯乙烯合金的X光小角散射分析

12

作者 盛京 韩蕴萍 等 《北京同步辐射装置年报》 1998年第1期166-169,共4页

关键词 聚苯乙烯合金 X光小角散射 相结合 形态

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聚丙烯腈(PAN)基纤维中微孔的2维小角X射线散射 被引量：1

13

作者 马骁 白瑞成 +3 位作者 任慕苏 孙晋良 秦显营 吕永根 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第2期167-170,共4页

应用二维小角X射线散射技术对PAN原丝、预氧丝、碳化丝纤维样品进行表征并采用Fankuchen切线法处理实验数据,得到微孔的平均结构信息。X射线散射集中在探测器平面赤道方向,原丝、预氧丝样品的散射强度相近并小于碳化丝散射强度,表明PAN... 应用二维小角X射线散射技术对PAN原丝、预氧丝、碳化丝纤维样品进行表征并采用Fankuchen切线法处理实验数据,得到微孔的平均结构信息。X射线散射集中在探测器平面赤道方向,原丝、预氧丝样品的散射强度相近并小于碳化丝散射强度,表明PAN基纤维在热处理过程中,纤维内部微孔一直沿纤维轴方向择优取向,在预氧化阶段微孔含量和大小基本保持不变,而在碳化阶段将产生大量微孔,并使微孔取向角增大。散射数据均呈现Porod正偏离,说明纤维内部还存在1nm以下的微结构起伏。 展开更多

关键词 碳纤维 小角X射线散射 微孔

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小角X射线散射方法测定结晶聚合物的平均过渡层厚度

14

作者 赵辉 董宝中 +4 位作者 郭梅芳 王良诗 乔金梁 李志宏 吴东 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第10期837-840,共4页

　一般用一维电子密度相关函数来计算结晶聚合物的过渡层厚度。由于结晶聚合物中的过渡层是弥散的 ,修正的Porod定律是解决这种问题的有效方法之一。本文将用相关函数法和Porod定律法求出的结晶聚合物的过渡层厚度进行了比较 ,它们的计... 　一般用一维电子密度相关函数来计算结晶聚合物的过渡层厚度。由于结晶聚合物中的过渡层是弥散的 ,修正的Porod定律是解决这种问题的有效方法之一。本文将用相关函数法和Porod定律法求出的结晶聚合物的过渡层厚度进行了比较 ,它们的计算结果是一致的。 展开更多

关键词 测定 平均过渡层 厚度 小角X射线散射 结晶聚合物 相关函数法 Porod定律

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聚N-羟甲基丙烯酰胺-间苯二酚气凝胶与其对应液体凝胶的SAXS研究

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作者 吴志超 张志成 +1 位作者 张曼维 储高升 《Chinese Journal of Chemical Physics》 SCIE CAS CSCD 1996年第2期180-186,共7页

本文报道SAXS对聚N-羟甲基丙烯酰胺-间苯二酚气凝胶与相应液体凝胶的结构研究.结果表明有机气凝胶的胶粒子具有比较清晰的界面,散射结果与Porod模型能很好地相符,应用小角散射法所测的比表面积与BET法所测的结果相当一致,气凝胶和液体... 本文报道SAXS对聚N-羟甲基丙烯酰胺-间苯二酚气凝胶与相应液体凝胶的结构研究.结果表明有机气凝胶的胶粒子具有比较清晰的界面,散射结果与Porod模型能很好地相符,应用小角散射法所测的比表面积与BET法所测的结果相当一致,气凝胶和液体凝胶在结构上存在一定差别,这种差别反映了网络结构中高分子链段存在一定自由度. 展开更多

关键词 气凝胶 小角X射线散射 微结构 液体凝胶

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X小角散射中的干涉效应 被引量：1

16

作者 许彧华 许曼华 《理化检验（物理分册）》 CAS 2003年第6期301-303,327,共4页

在X小角散射中 ,多用Guinier近似法求粒度分布 ,一般都认为角度越小 ,则近似程度越高 ,但实际上这个近似是在忽略了粒子间干涉效应的前提下得到的 ,而角度越小则干涉效应就越大 ,因而不能认为角度越小越好。且随着测量技术的提高 ,可测... 在X小角散射中 ,多用Guinier近似法求粒度分布 ,一般都认为角度越小 ,则近似程度越高 ,但实际上这个近似是在忽略了粒子间干涉效应的前提下得到的 ,而角度越小则干涉效应就越大 ,因而不能认为角度越小越好。且随着测量技术的提高 ,可测的角度也越来越小 ,测得的干涉部分就越多 ,因而不能用最小角处的数据 ,而应用无干涉的稍大角区的测量信息 。 展开更多

关键词 X射线 小角散射 Guinier近似 粒度分布 干涉效应 回转半径

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小角X射线散射方法测定二氧化硅干凝胶的平均孔径 被引量：1

17

作者 李志宏 柳义 等 《北京同步辐射装置年报》 1998年第1期162-165,共4页

应用同步辐射小角X射线散射方法测试了不同制备条件下SiO2干凝胶的孔隙结构，发现了散射曲线对Debye散射理论的遵守与正、负偏离的三种情况。分别应用Debye法和Guinier法（逐级切线法和多级斜线法）计算了SiO2干凝胶中微孔的平均孔径，... 应用同步辐射小角X射线散射方法测试了不同制备条件下SiO2干凝胶的孔隙结构，发现了散射曲线对Debye散射理论的遵守与正、负偏离的三种情况。分别应用Debye法和Guinier法（逐级切线法和多级斜线法）计算了SiO2干凝胶中微孔的平均孔径，结果表明这几种方法的计算值不仅在遵守Debye散射理论的情况下比较接近，而且在偏离（正和负）Debye散射理论的情况下也取得了较好的一致性。 展开更多

关键词 小角X射线散射 测定 SAXS Debye散射理论 二氧化硅干凝胶 平均孔径 胶体

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负载磁性纳米粒子球形聚电解质刷的小角X光光散射表征

18

作者 余玄机 王伟华 +2 位作者 李莉 郭旭虹 周志明 《功能高分子学报》 CAS CSCD 北大核心 2014年第1期12-16,共5页

通过光乳液聚合法在聚苯乙烯球上接枝聚丙烯酸链形成球形聚电解质刷(SPB),以SPB为纳米反应器,通过共沉淀法原位制备了四氧化三铁磁纳米粒子(MNP),并多次负载增加体系中的磁含量。通过小角X光光散射表征手段,研究了SPB中负载MNP的含量和... 通过光乳液聚合法在聚苯乙烯球上接枝聚丙烯酸链形成球形聚电解质刷(SPB),以SPB为纳米反应器,通过共沉淀法原位制备了四氧化三铁磁纳米粒子(MNP),并多次负载增加体系中的磁含量。通过小角X光光散射表征手段,研究了SPB中负载MNP的含量和分布规律。结果表明:在刷子层中,随着负载次数增加,MNP的含量增加,其浓度分布变得越来越不均匀,并且浓度分布由铁离子、亚铁离子的浓度分布和空间阻力共同决定。 展开更多

关键词 球形聚电解质刷 磁纳米粒子 小角X光光散射

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低维硅酸盐分子网络分数维值的X射线小角散射研究 被引量：2

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作者 徐培苍 《江苏技术师范学院学报》 2006年第6期11-14,94,共5页

应用X射线小角散射技术(SAXS)测定和研究了由溶胶凝胶法合成的CaO-Al2O3-SiO2系列(GCAS)低维硅酸盐分子网络的介观结构,研究结果表明低维硅酸盐分子网络的分数维值(D)定量反映了网络构象的蠕变特征,回旋半径(Rg)定量描述了网络团粒结构... 应用X射线小角散射技术(SAXS)测定和研究了由溶胶凝胶法合成的CaO-Al2O3-SiO2系列(GCAS)低维硅酸盐分子网络的介观结构,研究结果表明低维硅酸盐分子网络的分数维值(D)定量反映了网络构象的蠕变特征,回旋半径(Rg)定量描述了网络团粒结构的尺度及其聚合程度,这些参数对低维硅酸盐材料的结构表征及其开发应用,提供了重要的理论依据。 展开更多

关键词 低维硅酸盐 分数维 回旋半径 X射线小角散射

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用标准样品测量小角X射线散射的绝对强度和入射光束能量

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作者 裴光文 刘月亭 +1 位作者 刘明光 郭虎森 《南开大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 1994年第2期99-101,共3页

本文详细叙述了在ｘ射线小角散射中绝对强度测量的意义以及测量的具体方法。以标准样品聚乙烯薄片为例给出了绝对强度和入射光束能量测量的基本步骤。

关键词 小角X射线散射 绝对强度 入射光束能量

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