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垂直堆垛InAs量子点材料的分子束外延生长
被引量:
3
1
作者
李树玮
小池一步
矢野满明
《稀有金属》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第1期207-209,共3页
用MBE设备以Stranski Krastanov生长方式外延生长了 5个周期垂直堆垛的InAs量子点 ,在生长过程中使用对形状尺寸控制法来提高垂直堆垛InAs量子点质量和均匀性。样品外延的主要结构是 5 0 0nm的GaAs外延层 ,15nm的Al0 .5Ga0 .5As势垒外延...
用MBE设备以Stranski Krastanov生长方式外延生长了 5个周期垂直堆垛的InAs量子点 ,在生长过程中使用对形状尺寸控制法来提高垂直堆垛InAs量子点质量和均匀性。样品外延的主要结构是 5 0 0nm的GaAs外延层 ,15nm的Al0 .5Ga0 .5As势垒外延层 ,5个周期堆跺的InAs量子点 ,5 0nm的Al0 .5Ga0 .5Asnm势垒外延层等。在生长过程中用反射式高能电子衍射仪 (RHEED)实时监控。生长后用原子力显微镜 (AFM)进行表面形貌的表征 ,再利用光制发光 (PL)
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关键词
晶体生长
垂直堆垛的InAs量子点
分子束外延(MBE)
光致发光
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职称材料
题名
垂直堆垛InAs量子点材料的分子束外延生长
被引量:
3
1
作者
李树玮
小池一步
矢野满明
机构
中山大学光电材料与技术国家重点实验室
大阪工业大学新材料研究中心
出处
《稀有金属》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第1期207-209,共3页
文摘
用MBE设备以Stranski Krastanov生长方式外延生长了 5个周期垂直堆垛的InAs量子点 ,在生长过程中使用对形状尺寸控制法来提高垂直堆垛InAs量子点质量和均匀性。样品外延的主要结构是 5 0 0nm的GaAs外延层 ,15nm的Al0 .5Ga0 .5As势垒外延层 ,5个周期堆跺的InAs量子点 ,5 0nm的Al0 .5Ga0 .5Asnm势垒外延层等。在生长过程中用反射式高能电子衍射仪 (RHEED)实时监控。生长后用原子力显微镜 (AFM)进行表面形貌的表征 ,再利用光制发光 (PL)
关键词
晶体生长
垂直堆垛的InAs量子点
分子束外延(MBE)
光致发光
Keywords
crystal growth
vertically stacked and self assembled quantum dots
molecular beam epitaxy
photoluminescence property
分类号
O040.07 [理学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
垂直堆垛InAs量子点材料的分子束外延生长
李树玮
小池一步
矢野满明
《稀有金属》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004
3
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职称材料
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