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A study on photoluminescence characterization of high—quality nanocrystalline ZnO thin films
1
作者
ZhangXi-Tian
XiaoZhi-Yan
+5 位作者
ZhangWei-Li
GaoHong
wangyu-xi
LiuYi-Chun
ZhangJi-Ying
XuWu
《Chinese Physics B》
SCIE
EI
CAS
CSCD
2003年第5期579-579,共1页
原文传递
题名
A study on photoluminescence characterization of high—quality nanocrystalline ZnO thin films
1
作者
ZhangXi-Tian
XiaoZhi-Yan
ZhangWei-Li
GaoHong
wangyu-xi
LiuYi-Chun
ZhangJi-Ying
XuWu
机构
DepartmentofPhysics
LaboratoryofExcitedStateProcesses
出处
《Chinese Physics B》
SCIE
EI
CAS
CSCD
2003年第5期579-579,共1页
分类号
TN304.21 [电子电信—物理电子学]
TN304.055 [电子电信—物理电子学]
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作者
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1
A study on photoluminescence characterization of high—quality nanocrystalline ZnO thin films
ZhangXi-Tian
XiaoZhi-Yan
ZhangWei-Li
GaoHong
wangyu-xi
LiuYi-Chun
ZhangJi-Ying
XuWu
《Chinese Physics B》
SCIE
EI
CAS
CSCD
2003
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