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薄膜富集—X射线荧光光谱法测定水中含硫阴离子表面活性剂 被引量：1
1
作者 shigerutaguchi 徐汾兰 段玉玲 《钢铁译文集》 2003年第2期24-28,共5页
结构中含硫的阴离子表面活性剂与阳离子表面活性剂作为离子对铬合后，通过过滤富集在混合纤维酯薄膜过滤器，富集之后，通过X射线荧光光谱仪对薄膜过滤器(MF)上富集的硫进行测定，从而能够测出阴离子表面活性荆。以其在烷基硫酸钠中浓... 结构中含硫的阴离子表面活性剂与阳离子表面活性剂作为离子对铬合后，通过过滤富集在混合纤维酯薄膜过滤器，富集之后，通过X射线荧光光谱仪对薄膜过滤器(MF)上富集的硫进行测定，从而能够测出阴离子表面活性荆。以其在烷基硫酸钠中浓度含量0．05～0．8mg／L作为标准材料获得线性校正曲线，相对标准偏差小于6％。基于3s的空白检出限是2μg／L，此方法对含硫表面活性刺的测量简单、快速、选择性强，且不需要任何有机溶剂的萃取。此方法曾用于一些城市中有生活废水排入的河水中阴离子表面活性剂的测定。测定结果与通过传统的溶剂萃取分光光度法所测定的结果进行了比较。对薄膜上附着离子对的分析络合物的分布也进行了讨论。 展开更多
关键词 水污染 硫 阴离子表面活性剂 薄膜富集 X射线荧光光谱法 测定
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