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硅各向异性腐蚀＜110＞条补偿图形腐蚀前沿控制 被引量：11
1
作者 鲍敏杭 沈绍群 +5 位作者 胡澄宇 马青华 Chr.Burrer J.Esteve J.Bausells s.marco 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第11期768-773,共6页
本文报道了一种由＜１１０＞条组成的，用于（１００）硅ＫＯＨ各向异性腐蚀的凸角补偿图形．该图形的设计特点是利用不对称的分枝和端点弯头对条上腐蚀前沿实现控制使补偿后凸角的削角大大减小．文中给出常用补偿图形的有效补偿长度和... 本文报道了一种由＜１１０＞条组成的，用于（１００）硅ＫＯＨ各向异性腐蚀的凸角补偿图形．该图形的设计特点是利用不对称的分枝和端点弯头对条上腐蚀前沿实现控制使补偿后凸角的削角大大减小．文中给出常用补偿图形的有效补偿长度和临界补偿时的削角比．该方法已应用于微机械硅加速度传感器的掩模设计． 展开更多
关键词 硅 各向异性 腐蚀 补偿图形 前沿控制
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