期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
单晶 In_2O_3及 In_2O_3掺杂 Sn 的光电性能的研究 被引量:6
1
作者 文世杰 CampetG. portierj. 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1993年第2期227-233,共7页
用融熔法研制了 In_2O_3和 ITO(In_2O_3掺杂 Sn)单晶,并对其光电性能进行研究.纯 ITO 是一种简并半导体,在常温下,以晶格声子散射为主要的载流子传输机理.对 ITO 单晶,给出了载流子浓度与 Sn 掺杂浓度及载流子迁移率的关系.并对在单晶... 用融熔法研制了 In_2O_3和 ITO(In_2O_3掺杂 Sn)单晶,并对其光电性能进行研究.纯 ITO 是一种简并半导体,在常温下,以晶格声子散射为主要的载流子传输机理.对 ITO 单晶,给出了载流子浓度与 Sn 掺杂浓度及载流子迁移率的关系.并对在单晶中由于用助溶剂而引入的 Pb 掺杂对材料电性能的影响作了探讨.从材料的吸收光谱图中的本征吸收限的变化及 Plasma 频率和坡度的变化,证实了我们对电性能测试的结果.EXAFS 结构测试结果给出了这二种材料导电率变化的因素. 展开更多
关键词 电阻率 单晶 氧化铟
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部