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先进栅叠层的在线光谱分析法
1
作者
Ibrahim Burki
Cristian Rivas
+6 位作者
Jeff Hurst
Matt Weldon
Henry Yeung
Jimmy Price
Patrick Lysaght
p.y.hung
Raj Jammy
《集成电路应用》
2008年第7期36-38,共3页
量测平台的复杂性和光学原理上的局限性制约着测量系统的应用,直到真空紫外光谱反射仪的出现,这种状况才得到改变。
关键词
光谱分析法
在线
叠层
真空紫外光谱
测量系统
光学原理
复杂性
反射仪
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职称材料
题名
先进栅叠层的在线光谱分析法
1
作者
Ibrahim Burki
Cristian Rivas
Jeff Hurst
Matt Weldon
Henry Yeung
Jimmy Price
Patrick Lysaght
p.y.hung
Raj Jammy
机构
Metrosol Inc.
Sematech
出处
《集成电路应用》
2008年第7期36-38,共3页
文摘
量测平台的复杂性和光学原理上的局限性制约着测量系统的应用,直到真空紫外光谱反射仪的出现,这种状况才得到改变。
关键词
光谱分析法
在线
叠层
真空紫外光谱
测量系统
光学原理
复杂性
反射仪
分类号
TS77 [轻工技术与工程—制浆造纸工程]
TP273 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
先进栅叠层的在线光谱分析法
Ibrahim Burki
Cristian Rivas
Jeff Hurst
Matt Weldon
Henry Yeung
Jimmy Price
Patrick Lysaght
p.y.hung
Raj Jammy
《集成电路应用》
2008
0
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