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快重离子辐照引起Ni/SiO_2界面原子混合及相变研究
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作者 刘纯宝 王志光 +8 位作者 魏孔芳 臧航 姚存峰 马艺准 盛彦斌 缑洁 金运范 A.Benyagoub m.toulemonde 《原子核物理评论》 CAS CSCD 北大核心 2009年第1期44-47,共4页
在室温下用308 MeV的Xe离子和853 MeV的Pb离子辐照Ni/Si O2样品,用卢瑟福背散射和X射线衍射技术对样品进行了分析。通过分析Ni/SiO2样品中元素成分分布和结构随离子辐照剂量和电子能损的变化,探索了离子辐照在Ni/SiO2样品中引起的界面... 在室温下用308 MeV的Xe离子和853 MeV的Pb离子辐照Ni/Si O2样品,用卢瑟福背散射和X射线衍射技术对样品进行了分析。通过分析Ni/SiO2样品中元素成分分布和结构随离子辐照剂量和电子能损的变化,探索了离子辐照在Ni/SiO2样品中引起的界面原子混合与结构相变现象。实验结果显示,Xe和Pb离子辐照均能引起明显的Ni原子向SiO2基体的扩散并导致界面附近Ni,Si和O原子的混合。实验观测到低剂量Xe离子辐照可产生NiSi2相,而高剂量Xe离子辐照则导致了Ni3Si和Ni O相的形成。根据热峰模型,Ni原子的扩散和新相的形成可能由沿离子入射路径强电子激发引起的瞬间热峰过程驱动。 展开更多
关键词 快重离子辐照 界面原子混合与结构相变 卢瑟福背散射 X射线衍射
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Simulation of Sputtering Yield of Pure Metal under Swift Heavy Ion Bombardment
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作者 m.toulemonde C.Dufour S.Euphrasie 《IMP & HIRFL Annual Report》 2001年第1期59-59,共1页
Simulations of sputtering yield of Ti and Zr under energetic particle bombardments at room temperature (300 K)have been done by using a Fortran code TMNUCSP developed from the modified thermal spike model~[1].
关键词 SWIFT ENERGETIC sputtering FORTRAN SPIKE corrected collision projectile thermodynamics ANALOGY
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Evidence of New Structure Formation in C-doped SiO_2 after 4.57 MeV/u Pb Ion Irradiation
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作者 WangZhiguang ZhaoZhiming +10 位作者 SongYin JinYunfan ZhangChonghong LiuJie SunYoumei A.Benyagoub m.toulemonde F.Levesque H.Takahashi T.Shibayama N.Sakagushi 《近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报:英文版》 2003年第1期56-56,共1页
Experimental results showed that energetic ion induced phase change in a solid could be achieved not only by irradiation at high fluences but also by singe ion induced huge electronic excitations. The phase change pro... Experimental results showed that energetic ion induced phase change in a solid could be achieved not only by irradiation at high fluences but also by singe ion induced huge electronic excitations. The phase change produced in the later condition is just along individual ion latent tracks。Poecently, we have proposed a novel technique,“low energy ion implantation + swift heavy ion irradiation”, for synthesizing new structures in atom mixed materials in which more attention was paid to the dense electronic excitations effect induced by theincident ions. In the present work, the technique[2} was used to investigate huge electronic excitations 展开更多
关键词 结构编队 二氧化硅 碳杂质 铅离子 放射性 相位变换
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FTIR Study of New Chemical Bond Formation in N-doped Carbon under Swift Pb ion Irradiation
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作者 ZhaoZhiming SongYin +3 位作者 WangZhiguang JinYunfan A.Benyagoub m.toulemonde 《近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报:英文版》 2003年第1期73-73,共1页
Since Liu and Cohen predicted that the bulk modulus of carbon nitride films with the structure of β-C3N4 are comparable or even surpass those of diamond, intensive experimental efforts have been done to synthesize th... Since Liu and Cohen predicted that the bulk modulus of carbon nitride films with the structure of β-C3N4 are comparable or even surpass those of diamond, intensive experimental efforts have been done to synthesize this new material. Various kinds of synthesized methods have been applied to fabricate carbon nitride films, whereas samples with sufficient amounts of crystallized C3N4 structure or with mechanical properties comparable to the predicted values have not been reported. From the basic of ion-solid interaction, Wang, et al. have proposed a novel method, "low energy ion implantation + swift heavy ion irradiation", for synthesizing compound in atom mixed materials. This method has been used in the present work. 展开更多
关键词 FTIR 化学键 碳分子 氮杂质 铅离子 放射性
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FTIR Study of C-doped SiO_2 Films Irradiated by 4.57 MeV/u Pb Ions
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作者 ZhaoZhiming SongYin +4 位作者 WangZhiguang JinYunfan A.Benyagoub m.toulemonde F.Levesque 《近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报:英文版》 2003年第1期74-74,共1页
The SiO2 films was firstly implanted by 120 keV C-ions at room temperature (RT) and then irradiated at RT with 4.57 MeV/u Pb ions. The implantation was performed on 200 kV Heavy Ion Implanter (IMP, Lanzhou) to the dos... The SiO2 films was firstly implanted by 120 keV C-ions at room temperature (RT) and then irradiated at RT with 4.57 MeV/u Pb ions. The implantation was performed on 200 kV Heavy Ion Implanter (IMP, Lanzhou) to the dose ranging from 2.0×10^17C/cm^2 to 8.6×10^17C/cm^2,The irradiation was performed at CARIL-GANIL,Caen,France to the fluence ranging from 5.0×10^11Pb/cm^2 to 3.8×10^12Pb/cm^2.Some parameters were given in Table 1(TRIM 96 calculation)。 展开更多
关键词 B/C C/C RT FTIR SiO2
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Complex Defects in Bismuth Produced by Swift Heavy Ion Irradiations
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作者 WangZhiguang m.toulemonde 《近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报:英文版》 2000年第1期142-142,共1页
关键词 重离子 辐射 缺陷
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高能Pb离子辐照注碳SiO_2的红外谱研究 被引量:4
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作者 赵志明 王志光 +5 位作者 A.Benyagoub m.toulemonde F.Levesque 宋银 金运范 孙友梅 《高能物理与核物理》 EI CSCD 北大核心 2005年第8期824-829,共6页
室温下,先用120keV的C离子注入二氧化硅薄膜样品至剂量2.0×1017,5.0×1017或8.6×1017ions/cm2,再用950MeV的Pb离子分别辐照至剂量5.0×1011,1.0×1012或3.8×1012ions/cm2,然后测量样品的傅里叶变换红外(FTIR... 室温下,先用120keV的C离子注入二氧化硅薄膜样品至剂量2.0×1017,5.0×1017或8.6×1017ions/cm2,再用950MeV的Pb离子分别辐照至剂量5.0×1011,1.0×1012或3.8×1012ions/cm2,然后测量样品的傅里叶变换红外(FTIR)光谱.通过分析测量得到的傅里叶变换红外谱,发现Pb离子辐照在注碳SiO2样品中可引起大量的Si—C和Si(C)—O—C等化学键的形成,大剂量Pb离子辐照可在大剂量注碳的SiO2中产生分子CO2.大量的Si—C键的存在和分子CO2的形成,预示着高能Pb离子辐照在注碳SiO2样品中有可能形成了纳米Si团簇和/或SiC晶粒. 展开更多
关键词 低能离子注入 高能重离子辐照 原子混合 FTIR谱 红外光谱
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纯金属Bi中高能重离子辐照效应
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作者 王志光 m.toulemonde +3 位作者 金运范 C.Dufour J.Dural E.Paumier 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第12期992-995,共4页
利用高能重离子(Kr, Xe, Sn和Pb )辐照处于 16或 100 K的低熔点纯金属 Bi,通过测量分析辐照引起的样品电阻率增量及其变化速率随辐照剂量的变化,研究了入射离子在Bi中引起的辐照损伤效应如辐照损伤效率及复杂缺... 利用高能重离子(Kr, Xe, Sn和Pb )辐照处于 16或 100 K的低熔点纯金属 Bi,通过测量分析辐照引起的样品电阻率增量及其变化速率随辐照剂量的变化,研究了入射离子在Bi中引起的辐照损伤效应如辐照损伤效率及复杂缺陷的产生等.结果表明,强的电子能损可在纯金属Bi中引起附加缺陷的产生,从而使得辐照损伤效率>1.电子能损值大时,入射离子在Bi中引起的辐照效应主要是电子能损效应.辐照温度和入射离子速度对辐照效应的强弱有一定的影响. 展开更多
关键词 纯金属铋 辐照损伤效率 电子能损效应 高能重离子辐照效应 电阻率 辐照剂量
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