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Cu/Al_2O_3扩散焊接头界面晶体位向关系对断裂能量的影响
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作者 刘伟平 G.Elssner m.rühle 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第8期879-882,共4页
以单晶α-Al2O3陶瓷(蓝宝石)和单晶 Cu为母材,采用真空扩散焊接获得具有两种不同的界面晶体位向关系的Cu/Al2O3扩散焊接头以及带 Nb膜中间层的 Cu/Nb/Al2O3扩散焊接头,研究了界面晶体位向关系对接头... 以单晶α-Al2O3陶瓷(蓝宝石)和单晶 Cu为母材,采用真空扩散焊接获得具有两种不同的界面晶体位向关系的Cu/Al2O3扩散焊接头以及带 Nb膜中间层的 Cu/Nb/Al2O3扩散焊接头,研究了界面晶体位向关系对接头断裂能量的影响。结果表明,陶瓷-金属界面的晶体位向关系影响界面粘合功(Wad)和断裂过程中金属侧所消耗的塑性变形功(Wp),从而显著影响接头的断裂能量。界面位向关系为(100)[011]Cu//(0001)[1120]Al2O3的 Cu/Al2O3接头断裂能量值最低,而具有相同位向关系的带 Nb膜中间层的 Cu/Nb/Al2O3接头的断裂能量值则最高。 展开更多
关键词 陶瓷/金属焊接 界面位向关系 断裂能量
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