题名 基于45nm技术的ULSI互连结构的温度模拟
1
作者
王锡明 周嘉 阮刚 lee h-d
机构
合肥学院机械系 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室微电子学系 城南国立大学电子工程系
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第4期474-477,481,共5页
基金
中韩合作项目"Modeling and simulation of the rmal generation and dissipation in chip using Tera-level Nano CMO Stechnology with multi-level metallization"(TND100-130-131)资助
文摘
应用自行建立的准二维简化模型,计算了三种基于45 nm节点技术的ULSI九层低介电常数介质互连结构的温度升高。与ANSYS的分析对比表明,简化模型误差为7.7%。三种互连结构中,结构III设计具有最佳的散热能力,不仅工作时绝对温升小,而且随衬底温度和介质导热系数的温升加大也小;结构I的散热能力良好,结构III最差。对三种互连结构的尺寸分析表明,层间介质的厚度对互连系统的温升影响大,必须在电学模拟和温度模拟完成后找到一个最佳厚度值,以保证既有好的散热条件,又有利于减小RC延迟。互连结构的温升随电介质导热系数的减小呈二阶指数升高,特别当介质导热系数小于0.1 W/℃.m时,互连结构设计将会成为器件温升和系统可靠性的关键所在,引入新技术或许势在必行。
关键词
超大规模集成电路 铜互连 温度分析 低介电常数材料
Keywords
ULSI Copper interconnect Temperature analysis Low k material
分类号
TN405.97
[电子电信—微电子学与固体电子学]
