期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
失效机理鉴别在加速试验中的作用 被引量：3
1
作者 j.m.hu D.Barker 李世明 《电子产品可靠性与环境试验》 1995年第5期27-34,共8页
就正常使用条件下出现的某些主要失效机理而论,加速寿命试验技术提供了一种研究电子元器件可靠性的简便方法.淡而,加速试验经常是在不知道失效机理,以及不保证被试验所加速的失效机理与正常使用条件下所观察到的失效机理相同的情况下进... 就正常使用条件下出现的某些主要失效机理而论,加速寿命试验技术提供了一种研究电子元器件可靠性的简便方法.淡而,加速试验经常是在不知道失效机理,以及不保证被试验所加速的失效机理与正常使用条件下所观察到的失效机理相同的情况下进行.本文总结了电子元器件和封壳的普通失效机理,并研究了在加速试验过程中可能出现的失效机理转变. 展开更多
关键词 加速试验 失效机理 可靠性预测 电子元器件
在线阅读 下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部