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在稀土和钪与钇的分离以及用电感耦合等离子体发射光谱的测定中基质的影响
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作者 d.w.zachmann 杨淳庆 《湿法冶金》 CAS 1989年第4期64-74,共11页
由于电感耦合等离子体发射光谱(ICP—OES)具有高的灵敏度和好的重现性,所以已成为测定稀土、钪和钇非常有用的技术。但是,在分离伴生元素(基质元素)时,由于天然样品组分的变化,可能引起一些问题。在本研究中,提出了一种从8个主要元素和2... 由于电感耦合等离子体发射光谱(ICP—OES)具有高的灵敏度和好的重现性,所以已成为测定稀土、钪和钇非常有用的技术。但是,在分离伴生元素(基质元素)时,由于天然样品组分的变化,可能引起一些问题。在本研究中,提出了一种从8个主要元素和27个痕量元素中分离稀土的简单方法。当进行离子交换分离时,一些主要的基质元素根据其种类和性质的不同,可引起轻稀土元素回收率不同程度的降低.本文叙述了两种相似树脂的特性,不完全地分离了一些痕量基质元素。在分离后,定量地研究了残留的基质元素对稀土测定的影响和干扰。最后,本文还叙述了在测定稀土元素时,它们之间的干扰。对所提出的方法通过标准物质的分析进行了验证。 展开更多
关键词 稀土元素 测定 钪 钇 等离子体光谱
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