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Investigation of Residual Donor Defects in Undopedan d Fe-Doped LEC InP
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作者 赵有文 孙聂枫 +3 位作者 冯汉源 c.d.beling 孙同年 林兰英 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第5期455-458,共4页
The free electron concentration of as-grown liquid encapsulated Czochralski (LE C) InP measured by Hall effect is much higher than the concentration of net dono r impurity determined by glow discharge mass spectroscop... The free electron concentration of as-grown liquid encapsulated Czochralski (LE C) InP measured by Hall effect is much higher than the concentration of net dono r impurity determined by glow discharge mass spectroscopy.Evidence of the existe nce of a native donor hydrogen-indium vacancy complex in LEC undoped and Fe-do ped InP materials can be obseved with infrared absorption spectra.The concentra tion increase of the donor complex correlates with the increase of ionized deep acceptor iron impurity Fe concentration in Fe-doped semi-insulating (S I) InP.These results indicate that the hydrogen-indium vacancy complex is an im portant donor defect in as-grown LEC InP,and that it has significant influence on the compensation in Fe-doped SI InP 展开更多
关键词 indium phosphide SEMI-INSULATING donor defect
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Influence of Fe Doping Concentration on Some Properties of Semi-Insulating InP
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作者 赵有文 罗以琳 +2 位作者 冯汉源 c.d.beling 林兰英 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第10期1041-1045,共5页
Properties of Fe-doped semi-insulating (SI) InP with different iron concentrations are studied by using Hall effect,current-voltage ( I-V ),photoluminescence spectroscopy (PL) and photocurrent spectroscopy(PC)measurem... Properties of Fe-doped semi-insulating (SI) InP with different iron concentrations are studied by using Hall effect,current-voltage ( I-V ),photoluminescence spectroscopy (PL) and photocurrent spectroscopy(PC)measurements. I-V characteristics of SI InP strongly depend on Fe doping concentration.Fe doping concentration also influences optical properties and defective formation in as-grown SI InP.Band-gap narrowing phenomenon and defects in Fe doped SI InP are studied using PL and PC. 展开更多
关键词 INP semi-insulation DEFECTS
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Variable Energy Positron Annihilation Spectroscopy of GaN Grown on Sapphire Substrates with MOCVD
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作者 胡一帆 c.d.beling S.Fung 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2005年第5期1214-1217,共4页
原文传递
六方碳化硅中的深能级缺陷 被引量:2
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作者 凌志聪 陈旭东 +7 位作者 冯汉源 c.d.beling 龚敏四川大学物理学院 葛惟锟 王建农 G.Brauer W.Anwand W.Skorupa 《物理》 CAS 北大核心 2004年第11期786-790,共5页
文章作者利用深能级瞬态谱 (DLTS) ,正电子湮灭谱 (PAS)和光致荧光谱 (PL)等谱分析技术研究了六方碳化硅中具有电活性的深能级缺陷 .这些深能级缺陷分别通过不同能量的电子辐照、中子辐照 ,或氦离子注入等产生 .经过研究和分析各种实验... 文章作者利用深能级瞬态谱 (DLTS) ,正电子湮灭谱 (PAS)和光致荧光谱 (PL)等谱分析技术研究了六方碳化硅中具有电活性的深能级缺陷 .这些深能级缺陷分别通过不同能量的电子辐照、中子辐照 ,或氦离子注入等产生 .经过研究和分析各种实验测试的相关图谱 ,作者给出了六方碳化硅中一些重要的深能级缺陷在可控辐照条件下产生和退火行为的研究结果以及这些深能级缺陷相关结构的实验依据 . 展开更多
关键词 能级 可控 湮灭 氦离子 正电子 电子辐照 光谱 六方 研究结果 PL
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