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提高功率管稳态工作寿命试验可信度的技术措施 被引量:7

A method on improved credibility of succession operation life test of power bipolar transistor
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摘要 提出了一种提高功率晶体管稳态工作寿命试验可信度的技术措施,利用这一技术措施,可以在试验过程中实时测量并严格控制晶体管的结温达到最高允许结温,从而提高了试验的可信度。 A method on improved credibility of succession operation life test of power bipolar transistor is introduced in this paper.
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2001年第5期57-60,共4页 Semiconductor Technology
基金 国家自然科学基金资助项目!(69976017)
关键词 功率晶体管 工作寿命试验 可信度 transistor operation life test credibility
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献4

  • 1GB/T4587—94双极型晶体管,1996年
  • 2电子部,电子部部标准 SJ3128—88《电子元器件详细规范3DD820型硅npn型低频放大管壳额定双极型晶体管》,1988年
  • 3四机部标准化所(译),美国军用标准 MIL—STD—750B《半导体器件试验方法》,1982年
  • 4卢其庆,半导体器件可靠性与失效分析,1981年

共引文献2

同被引文献39

引证文献7

二级引证文献9

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