摘要
提出了一种提高功率晶体管稳态工作寿命试验可信度的技术措施,利用这一技术措施,可以在试验过程中实时测量并严格控制晶体管的结温达到最高允许结温,从而提高了试验的可信度。
A method on improved credibility of succession operation life test of power bipolar transistor is introduced in this paper.
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第5期57-60,共4页
Semiconductor Technology
基金
国家自然科学基金资助项目!(69976017)