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数字逻辑电路实验故障“三步分析法” 被引量:3

Three-step analyzing method for the digital logic circuit experiment failure
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摘要 数字逻辑电路实验故障时有发生,实验者由于查找排除方法的使用不当,经常会遇上误工费时却又不能很好解决故障的现象。本文介绍一种查找数字逻辑电路实验故障的方法—"三步分析法",使实验者不需要了解故障类型也能快速查出并及时排除故障,该方法不仅能提高实验效率,而且有助于实验者在自行排查和掌握各种故障的过程中养成良好的实验习惯,提高实验者分析问题和解决问题能力。 Failure always occurs during the digital logic circuit experiment.If operator cannot take suitable strategies to find failures,it will waste much time and be difficult to solve problems.This paper introduces a method to find failures in digital logic circuit experiment — the three-step analyzing method.By using this method,operator can find failure quickly and clear them in time without the knowledge of failure type.This method not only can improve experiment efficiency,but also is helpful to foster operator's good experimental habit during the process of finding and mastering kinds of failures independently and enhance operator's abilities of analyzing and solving problems.
出处 《实验室科学》 2010年第5期105-106,共2页 Laboratory Science
关键词 数字逻辑电路实验 实验故障 三步分析法 digital logic circuit experiment experiment failure three-step analyzing method
  • 相关文献

参考文献5

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  • 5孙叔艳.电子技术实践教学指导书[M].北京:中国电力出版社,2005.

共引文献3

同被引文献23

引证文献3

二级引证文献5

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