嵌入式存储器测试

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摘要随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,如SCAN〔扫描〕、MBIST(存储器内建自测试)以及BISR(内建自修复)。

作者 Goh Swee Heng Toh Ser Chye Wong Kok Sun

机构地区 Staff Engineer Test R&D Test Development Product Engineering STATSChipPAC Ltd

出处《集成电路应用》 2008年第9期46-48,共3页 Application of IC

关键词嵌入式存储器器件测试存储器内建自测试 SOC系统可测性设计 MBIST 制造技术测试技术

分类号 TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构] TM93 [电气工程—电力电子与电力传动]

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