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新型混合信号IC的综合测试

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摘要为了测试下一代混合信号IC,ATE系统内必须有基于DSP的仪器及高性能的数字测试设备。

作者杨吉祥

出处《国外电子测量技术》 1996年第4期2-4,7,共4页 Foreign Electronic Measurement Technology

关键词集成电路混合信号测试

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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国外电子测量技术

1996年第4期

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