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铜铁试剂存在下痕量铟的吸附溶出伏安法研究

STUDY ON ABSORPTIVE STRIPPING VOITAMMETRY OF TRACE INDIUM IN THE PRESENCE OF CUPFERRON (HCUP)
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摘要 本文以汞膜电极于NH_4Cl介质(pH5.0)中,研究了钢铁试剂存在下,痕量铟的差分脉冲吸附溶出伏安行为,并探讨了吸附机理。发现在较负电位下(-1.5V)子富集后,所得阴极溶出峰更敏锐。铟浓度在1.0×10^(-10)~5.0×10^(-7)mol·dm^(-3)间有良好的线性,富集15min,检测限为4.0×10^(-11)mol·dm^(-3)。方法标准偏差及变动系数分别为0.064和8.4%。 The differential pulse adsorptive stripping voltammetric behaviour of the indium-Hcup system on the mercury-film electrode was investiga ted in NH4 CJ (pH 5.0) medium. Also, the mechanism of adsorptive accumulation was discussed. It was found that the retuction peak obtained was more sensitive by a preconcentration step at a more negative potential ( -1.50V, vs.SCE). The indium concentration over the range of 1.0×10-10-5.0×10-7mol·dm-3 was in good linear relationship with the peak current. Its detection limit was 4.0×10-12 mol·dm-3 after preconcentrating for 15 min. The standard deviation and variance coefficient of this method were 0.064 and 8.4% respectively.
出处 《浙江工学院学报》 CAS 1989年第1期53-60,共8页
关键词 吸附溶出 伏安法 痕量分析 Voltammetry Adsorption Indium
  • 相关文献

参考文献3

  • 1陈荣礼,张晓丽,邵华,宋淑玉.络合吸附伏安法测定痕量铟[J]冶金分析,1986(03).
  • 2金文睿,刘坤.钴(Ⅱ)-丁二肟体系的吸附伏安法研究[J]化学学报,1985(10).
  • 3李南强,章建康.铟—茜素红S极谱络合吸附波的研究[J]北京大学学报(自然科学版),1984(06).

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